厚翼內存測試電路開發(fā)環(huán)境BRAINS 協(xié)助打造AI芯片最佳利器
人工智能(Artificial Intelligence, AI))話題不斷在全球掀起討論,各種相關的應用與演算需求因大數(shù)據(jù)、機器學習與人工智能等對效能的要求也越來越高,連帶拉升了對記憶的需求。而AI相關的芯片設計,需要處理更多且更復雜的運算與大量資料的儲存需要更多、更大容量的靜態(tài)隨機存取內存(SRAM,Static Random Access Memory)以便應付更復雜的運算與儲存更大量的運算數(shù)據(jù),也使得成本也相對提高,因此內存的測試就極為重要。臺灣唯一深耕于開發(fā)內存測試與修復技術的厚翼科技(HOY Technologies)產(chǎn)品「內存測試電路開發(fā)環(huán)境-BRAINS」可大幅降低用戶確認內存之時鐘域(Clock Domain)的比對時間,并提供優(yōu)化的內存測試電路、大幅縮短測試時間,降低測試費用與開發(fā)時程。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201711/372101.htm厚翼科技(HOY)產(chǎn)品「內存測試電路開發(fā)環(huán)境-BRAINS」開放用戶自定義Cell Library(組件庫)里組件的行為,讓BRAINS學習如果遇到用戶定義的組件行為,決定內存時鐘(Memory Clock)由那一個時鐘路徑提供,并內建閘控制組件(Gate Cell)的行為,在自動識別(Auto Identification)后段,進入自動時鐘追溯(Auto Clock Tracing)之前,BRAINS會開始建立所有內存的層級(Hierarchy)并找出共同的最頂層級(Top Hierarchy)。對照其他內存測試開發(fā)工具而言找出共同的最頂層級(Top Hierarchy)在復雜的電路中會花費很長的運行時間,以BRAINS3.0而言,但若電路設計沒有大幅更改,之后就可直接使用第一次搜尋的結果,可節(jié)省三倍的運行時間,大幅降地開發(fā)時間與成本。
厚翼科技(HOY)針對各式內存提供測試與修復解決方案,提供優(yōu)化的內存測試電路,先進的功能與友善的接口能大幅縮減測試成本與產(chǎn)品上市的時間,協(xié)助客戶以最少研發(fā)成本與時間,開發(fā)符合良率的產(chǎn)品,提高產(chǎn)業(yè)競爭力。
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