半導(dǎo)體制造與制程管控挑戰(zhàn)
作者 王瑩
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201804/379050.htm不久前,KLA-Tencor(科天)在上?!癝emicon China(中國(guó)國(guó)際半導(dǎo)體設(shè)備和材料展)2018”期間舉辦新聞發(fā)布會(huì),資深客戶合作副總及CMO(首席市場(chǎng)官) Oreste Donzella介紹了晶圓制造及KLA—Tencor專注的制程管控行業(yè)趨勢(shì)。
現(xiàn)在半導(dǎo)體有兩個(gè)增長(zhǎng)點(diǎn):1.新的應(yīng)用,諸如物聯(lián)網(wǎng)、5G、人工智能與自動(dòng)駕駛等;2.中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的崛起。
半導(dǎo)體業(yè)的營(yíng)收市場(chǎng)
半導(dǎo)體業(yè)2017年取得了驚人的成長(zhǎng),2017年增長(zhǎng)了20%。預(yù)計(jì)2018年還會(huì)呈現(xiàn)繼續(xù)增長(zhǎng)的勢(shì)頭。所以整個(gè)半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展是非常光明的。
圖1左圖是半導(dǎo)體廠采購設(shè)備的資金,據(jù)SEMI統(tǒng)計(jì),半導(dǎo)體設(shè)備2017年增長(zhǎng)了27%,高于整個(gè)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的增長(zhǎng)率,也第一次超過了400億美元。制程管控部分也是2017年第一次超過50億美元(圖1 右圖)。
技術(shù)趨勢(shì)和挑戰(zhàn)
今天半導(dǎo)體制程上的挑戰(zhàn),一個(gè)是制程的縮小,一個(gè)是深紫外光的引進(jìn)。
有兩條路徑。第一條路徑是邏輯芯片的制程代工演進(jìn)方面,圖2左側(cè)最大的方塊表示的是1 μm x 1 μm,現(xiàn)在最新的是7~10 nm的產(chǎn)品是右側(cè)的方塊,可見面積縮小得非常多,在邏輯代工線寬方面。另外一個(gè)是光刻機(jī)的演進(jìn)。從G-line到I-line,業(yè)界在193 nm停了很久,從干式到浸潤(rùn)式,實(shí)際上到最近才看到深紫外光(EUV)光刻機(jī)可以到商業(yè)量產(chǎn),預(yù)計(jì)到2019年會(huì)有一兩家開始有EUV機(jī)器生產(chǎn)的樣片出來。
第二條路徑是比較特殊的,例如3D 存儲(chǔ)器,特征尺寸不會(huì)變得更小,只是變得更深。這一部分很多KLA-Tencor的客戶,KLA-Tencor的制程管控可以解決套刻(overlay)的挑戰(zhàn)。所謂套刻,是指半導(dǎo)體很多是層疊在一起的,上一層和下一層如果對(duì)得不準(zhǔn),將會(huì)做成歪的。
制程管控的挑戰(zhàn)
制程管控非常簡(jiǎn)單,即怎么在客戶生產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓的時(shí)候,每一部分都可以幫到客戶,確實(shí)保證制程照著設(shè)計(jì)來走。如果有任何不好的問題,將來都會(huì)造成良率的損失。
制程控制為什么困難?因?yàn)楝F(xiàn)在最新的制程有約一千個(gè)生產(chǎn)步驟,有超過十億個(gè)的晶體管,超過一英里長(zhǎng)的電線,全部放在一個(gè)郵票大小的芯片(die)上,因此整個(gè)制程都要完美,中間出現(xiàn)任何一個(gè)問題。
制程管控可以分成兩大部分,檢測(cè)和量測(cè)。檢測(cè)就是把在制程上發(fā)生的任何缺陷找出來,量測(cè)是確定所有的步驟可以符合設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)。等于對(duì)照用針頭到病毒到DNA,現(xiàn)在最先進(jìn)的10 nm的半導(dǎo)體的制程已經(jīng)到DNA級(jí)別了!
正因?yàn)榘雽?dǎo)體制程對(duì)精密度和正確性的要求,如果客戶只是在最開始和最后檢測(cè)這個(gè)產(chǎn)品,就像以前傳統(tǒng)的QC(qaulity control,質(zhì)量控制)概念,如果中間出了任何問題,最后半導(dǎo)體制程絕對(duì)做不出來產(chǎn)品。
制程管控如圖3,圓圈是檢測(cè),三角形是量測(cè),可見需要在一千個(gè)最新的半導(dǎo)體制程步驟中加入很多檢測(cè)和量測(cè)的步驟,才可以確保在器件制造期間,不會(huì)出任何致命性的問題,導(dǎo)致最后產(chǎn)品的良率為零。
有三類半導(dǎo)體制程:研發(fā)期間,新產(chǎn)品開始ramp期間,大量生產(chǎn)期間。每一個(gè)期間制程控制的策略是不一樣的,檢測(cè)和量測(cè)需要的是不一樣的。例如在研發(fā)的時(shí)候,幾乎一千步中的三五百步都需要做檢測(cè)、量測(cè);到了大量生產(chǎn)的時(shí)候,知道問題出在哪里,把問題都在研發(fā)和ramp階段解決掉以后,到量產(chǎn)時(shí)就可以稍微調(diào)整制程控制的策略。
在研發(fā)時(shí)代,KLA-Tencor的制程控制有三個(gè)主要的貢獻(xiàn):1.幫助客戶了解制程上面到底需求是什么。2.可以解決在制程上面,出現(xiàn)任何本來制程不能解決的問題,所謂缺陷上的差距。3.可以優(yōu)化制程控制的策略。
面向前沿和和成熟的兩套方案
KLA-Tencor把客戶分成兩部分,一個(gè)是在最前沿的,一個(gè)是大量生產(chǎn)的。
*前沿科技。包含從光學(xué)上面,深紫外光到可見光的光學(xué),配合電子光學(xué),另外加上所有的光路,包含激光,多波段的。還有就是最近KLA-Tencor比較看中的,包含算法、計(jì)算的光學(xué),還有已經(jīng)在大量使用機(jī)器學(xué)習(xí),幫助加速在軟件上面的開發(fā)。KLA-Tencor的核心競(jìng)爭(zhēng)力就是把所有新技術(shù)能夠集成在一起。
光就是生命,在檢測(cè)上面,有沒有足夠的光子到晶圓表面,并且能夠被傳感器收到,這就決定了檢測(cè)、量測(cè)的精度和準(zhǔn)度是否正確。KLA-Tencor有最新的技術(shù),包含明場(chǎng)檢測(cè),甚至以后的薄膜量測(cè)都有這個(gè)技術(shù),等于借由激光,能夠激發(fā)腔內(nèi)的等離子體,發(fā)出比原來多波長(zhǎng)可見光亮度高非常多的光,能夠照在晶圓表面,點(diǎn)亮晶圓表面,幫助在檢測(cè)和制程上看得更清楚。
*成熟科技。日本的客戶告訴Oreste Donzella,200 mm市場(chǎng)實(shí)際上現(xiàn)在對(duì)于晶圓的需求比300 mm還渴求。現(xiàn)在很多新的200 mm的項(xiàng)目,實(shí)際上正在立項(xiàng)。人們過去覺得300 mm是將來發(fā)展的主流,實(shí)際上現(xiàn)在又回到200MM。
成熟市場(chǎng)的挑戰(zhàn),跟前沿技術(shù)市場(chǎng)的挑戰(zhàn)是完全不同的,成本當(dāng)然是一個(gè)因素,另外就是200 mm市場(chǎng)因?yàn)樵O(shè)備太搶手了,之前的生產(chǎn)線已經(jīng)關(guān)閉了。所以為了更好地服務(wù)成熟市場(chǎng)的客戶,KLA-Tencor會(huì)重啟很多生產(chǎn)線,包括SP1,SP2,像量測(cè)薄膜的F5S,KLA-Tencor都重新開了生產(chǎn)線,可以服務(wù)成熟市場(chǎng)客戶的需求。
評(píng)論