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ROHM推出1700V 250A全SiC功率模塊

作者: 時(shí)間:2018-11-13 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  全球知名半導(dǎo)體制造商(總部位于日本京都)面向以戶(hù)外發(fā)電系統(tǒng)和充放電測(cè)試儀等評(píng)估裝置為首的工業(yè)設(shè)備用電源的逆變器和轉(zhuǎn)換器,開(kāi)發(fā)出實(shí)現(xiàn)業(yè)界頂級(jí)※可靠性的額定值保證1700V 250A的全功率模塊“BSM250D17P2E004”。(※截至2018年11月13日 調(diào)查數(shù)據(jù))

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201811/394272.htm

  近年來(lái),由于產(chǎn)品的節(jié)能效果優(yōu)異,以1200V耐壓為主的產(chǎn)品在汽車(chē)和工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。隨著各種應(yīng)用的多功能化和高性能化發(fā)展,系統(tǒng)呈高電壓化發(fā)展趨勢(shì),1700V耐壓產(chǎn)品的需求日益旺盛。然而,受可靠性等因素影響,遲遲難以推出相應(yīng)產(chǎn)品,所以1700V耐壓的產(chǎn)品一般使用IGBT。

  在這種背景下,推出了實(shí)現(xiàn)額定1700V的全SiC功率模塊,新產(chǎn)品不僅繼承了1200V耐壓產(chǎn)品中深獲好評(píng)的節(jié)能性能,還進(jìn)一步提高了可靠性。

  此次新開(kāi)發(fā)的模塊采用新涂覆材料和新工藝方法,成功地預(yù)防了絕緣擊穿,并抑制了漏電流的增加。在高溫高濕反偏試驗(yàn)(HV-H3TRB)中,實(shí)現(xiàn)了極高的可靠性,超過(guò)1,000小時(shí)也未發(fā)生絕緣擊穿現(xiàn)象。從此,在高溫高濕度環(huán)境下也可以安心地處理1700V的高耐壓了。

  另外,模塊中采用了ROHM產(chǎn)的SiC MOSFET和SiC肖特基勢(shì)壘二極管(SBD),通過(guò)優(yōu)化模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu),使導(dǎo)通電阻性能比與同等SiC產(chǎn)品優(yōu)異10%,非常有助于應(yīng)用進(jìn)一步節(jié)能。

  本模塊已于2018年10月開(kāi)始投入量產(chǎn)。前期工序的生產(chǎn)基地為ROHM Apollo Co., Ltd.(日本福岡),后期工序的生產(chǎn)基地為ROHM總部工廠(日本京都)。

  未來(lái),ROHM不僅會(huì)繼續(xù)擴(kuò)充讓客戶(hù)安心使用的產(chǎn)品陣容,還會(huì)配備可輕松測(cè)試SiC模塊的評(píng)估板等,以進(jìn)一步滿(mǎn)足日益擴(kuò)大的市場(chǎng)需求。

  <特點(diǎn)>

  1.在高溫高濕環(huán)境下確保業(yè)界頂級(jí)的可靠性

  通過(guò)采用新涂覆材料作為芯片的保護(hù)對(duì)策,并引進(jìn)新工藝方法,使新模塊通過(guò)了HV-H3TRB高溫高濕反偏試驗(yàn),從而使1700V耐壓的產(chǎn)品得以成功走向市場(chǎng)。

  比如在高溫高濕反偏試驗(yàn)中,比較對(duì)象IGBT模塊在1,000小時(shí)以?xún)?nèi)發(fā)生了引發(fā)故障的絕緣擊穿,而B(niǎo)SM250D17P2E004在85℃/85%的高溫高濕環(huán)境下,即使施加1360V達(dá)1,000小時(shí)以上,仍然無(wú)故障,表現(xiàn)出極高的可靠性。


  2.優(yōu)異的導(dǎo)通電阻性能,有助于設(shè)備進(jìn)一步節(jié)能

  新模塊中使用的是ROHM產(chǎn)的SiC SBD和SiC MOSFET。通過(guò)SiC SBD和SiC MOSFET的最佳組合配置,使導(dǎo)通電阻低于同等普通產(chǎn)品10%,這將非常有助于應(yīng)用進(jìn)一步節(jié)能。


  <術(shù)語(yǔ)解說(shuō)>

  ※1) 漏電流

  功率元器件中從絕緣的位置泄漏出來(lái)的微小電流。抑制漏電流可防止元器件損壞和功耗增加。

  ※2) 高溫高濕反偏試驗(yàn)(HV-H3TRB:High Voltage High Humidity High Temperature Reverse Bias)

  對(duì)于在高溫高濕環(huán)境下使用功率元器件時(shí)的耐久性進(jìn)行評(píng)估的試驗(yàn)。通過(guò)電場(chǎng)和水分引起的絕緣處漏電流的增加,來(lái)檢測(cè)絕緣擊穿等故障現(xiàn)象。



關(guān)鍵詞: ROHM SiC

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