“示波記錄儀”電源研發(fā)的利器！

一、隔離測(cè)試

隔離測(cè)試是電源產(chǎn)品非常重要的訴求，一般示波器均是不隔離，若示波器地與非隔離電源的地直接相連，可能會(huì)造成電源燒毀，示波器炸機(jī)的情況?；诖藛?wèn)題，目前衍生出的解決方法大致有以下兩類。

1.  剪除示波器供電插頭地腳

示波器不隔離的核心后果是造成測(cè)試時(shí)，輸入輸出共地造成短路，所以，若能剪除示波器供電電源插頭的地腳，從而切斷示波器與地的連接，就不會(huì)造成短路。目前許多場(chǎng)合采用這種測(cè)試方法，但是其非常危險(xiǎn)，因?yàn)槭静ㄆ魍ǖ琅c地，通道與通道之間都是不隔離的，所以測(cè)試時(shí)，示波器裸露在外的所有金屬端口，都是帶電的！

2.  使用差分探頭測(cè)試

使用差分探頭測(cè)試是目前比較規(guī)范的一種方法，通過(guò)探頭處進(jìn)行隔離，避免了輸入輸出共地的情況。但是差分探頭也有局限性，首先由于測(cè)試通道較多，且探頭屬于易損配件，使用差分探頭會(huì)增大成本。其次，在一些場(chǎng)合中，測(cè)試點(diǎn)往往是較小的孔腳，差分探頭往往是較大的夾環(huán)，實(shí)際中很難測(cè)試，從而導(dǎo)致許多工程師使用剪掉示波器供電插頭地腳的方法進(jìn)行測(cè)試。

二、示波記錄儀隔離測(cè)試

示波記錄儀從儀器板卡著手，各輸入通道之間相互絕緣隔離，可最大程度確保在強(qiáng)干擾、多參考電壓等復(fù)雜環(huán)境下的精確測(cè)試，同時(shí)隔離板卡精度能夠達(dá)到，同時(shí)隔離板卡精度可以達(dá)到0.3%，0.03%，遠(yuǎn)高于市面上較為普遍的八位ADC示波器2%的精度。

三、多通道測(cè)試

在測(cè)試中，通道數(shù)往往非常重要，比如三相輸入，三相輸出的變頻器，六相電壓電流就需要十二個(gè)通道，一般的示波器通常只有4個(gè)通道，無(wú)法滿足需求，目前主流的應(yīng)對(duì)方法是，使用4通道示波器，電壓差分探頭和電流探頭各兩個(gè)，每次測(cè)量?jī)上嚯娏麟妷海笤贉y(cè)試其他相，如此一來(lái)，就不能保證測(cè)試的同步性，從而造成了很大的誤差，示波記錄儀可選配8個(gè)卡槽，可根據(jù)需求選配不同卡槽，輕松變?yōu)榘送ǖ?，十六通道的高精度隔離示波器，完美保證測(cè)試的同步性，安全性，準(zhǔn)確性，為電源測(cè)試領(lǐng)域提供強(qiáng)有力的保障。

四、偶發(fā)異常測(cè)試

在研發(fā)過(guò)程中，偶發(fā)異常是經(jīng)常會(huì)遇到的情況，但是排查起來(lái)相當(dāng)痛苦，因?yàn)榕及l(fā)異常的不去確定性導(dǎo)致難以判斷發(fā)生時(shí)間，同時(shí)異常波形的形狀又無(wú)法確認(rèn)，沒(méi)辦法通過(guò)示波器觸發(fā)出來(lái)。偶發(fā)異常可能一天若干次，也有可能一周若干次，而示波器存儲(chǔ)深度小，無(wú)法全面記錄。

ZDL6000示波記錄儀最大可選2T硬盤(pán)，記錄波形最長(zhǎng)可達(dá)500天，配備雙捕獲功能，長(zhǎng)時(shí)間的趨勢(shì)數(shù)據(jù)通常采用低采樣率采集趨勢(shì)數(shù)據(jù)，但突發(fā)的高度瞬態(tài)異常信號(hào)需要采用高采樣率捕捉。通過(guò)雙捕獲功能，可以同時(shí)設(shè)置兩個(gè)不同的采樣率來(lái)滿足數(shù)據(jù)捕獲要求。在波形處于正常狀態(tài)時(shí)，保持低采樣率記錄波形變化趨勢(shì)，一旦波形滿足觸發(fā)條件，示波記錄儀將立即切換到最高100MS/s的速度記錄高速瞬態(tài)事件。完美適用于偶發(fā)異常測(cè)試。

五、定制化測(cè)試平臺(tái)

示波記錄儀是定制化的測(cè)試平臺(tái)，可以根據(jù)不同的需求，選擇不同種類，數(shù)量的板卡，輕松滿足大部分客戶的測(cè)試需求。不同于普通的儀器購(gòu)置步驟，示波記錄儀的出現(xiàn)，將滿足應(yīng)用需求的過(guò)程，從以往的“確立多種需求點(diǎn)”——“尋找多種儀器滿足不同需要”——“多次選型，試用，對(duì)比”的重復(fù)過(guò)程，變?yōu)椤按_立多種需求點(diǎn)”——“直接選配板卡”的簡(jiǎn)單過(guò)程，大大簡(jiǎn)化了工程師的前期測(cè)試儀器準(zhǔn)備過(guò)程，一臺(tái)儀器，滿足多種需求，定制屬于您自己的測(cè)試平臺(tái)。