為存儲(chǔ)器測(cè)試開(kāi)發(fā)低成本的解決方案

超越功能測(cè)試

在一項(xiàng)設(shè)計(jì)成功通過(guò)所有功能測(cè)試之后，工程師能夠獲得被測(cè)器件更詳細(xì)的特性。公共測(cè)試包括描述存取時(shí)間和電器規(guī)范的特征，例如電壓范圍。采用模塊化測(cè)試平臺(tái)(例如PXI)的工程師可以擴(kuò)展他們的測(cè)試系統(tǒng)，以包括更多的儀器，如數(shù)字化儀、數(shù)字萬(wàn)用表和RF儀器。PXI還提供內(nèi)置功能，例如為儀器間的相位一致性提供定時(shí)和同步功能，并具有構(gòu)建高通道數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的能力。

采用數(shù)字儀器，如NI 6552數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀，工程師可執(zhí)行存儲(chǔ)器件全部特征的提取，而無(wú)需增加額外的測(cè)試設(shè)備。采用NI LabVIEW這樣的軟件，工程師能夠創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試，掃描用于與存儲(chǔ)器件通信的電平以驗(yàn)證最小工作電壓。圖3所示在LabVIEW中這種測(cè)試的結(jié)果。其中，水平軸表示被測(cè)電壓，垂直軸表示接收到的錯(cuò)誤位百分比。從圖中很容易推出存儲(chǔ)器件的最小工作電壓為2.43V。
圖3.存儲(chǔ)器件最小工作電壓的特征。

如果存儲(chǔ)器件被嵌入較大的數(shù)字裝置之中，就需要對(duì)成品進(jìn)行額外的測(cè)試。工程師通過(guò)復(fù)用進(jìn)行驗(yàn)證設(shè)計(jì)和數(shù)字存儲(chǔ)器件的相同測(cè)試設(shè)備，可以降低測(cè)試成本。因?yàn)榇蠖鄶?shù)數(shù)字裝置都有相同的基本測(cè)試需求、獲取或生成用于分析的測(cè)試向量，因而工程師可重新配置硬件和用戶(hù)接口，以便在單一平臺(tái)上創(chuàng)建廣泛的虛擬儀器。

隨著開(kāi)發(fā)新技術(shù)的壓力日益增大，工程師面臨優(yōu)化其測(cè)試成本和測(cè)試時(shí)間的挑戰(zhàn)。基于PC和FPGA技術(shù)的、低成本的商用測(cè)試設(shè)備，已經(jīng)幫助工程師實(shí)現(xiàn)了在桌面上執(zhí)行強(qiáng)大的、混合信號(hào)原型測(cè)試。利用軟件可重配置的硬件，工程師還可以在一臺(tái)基于PC的平臺(tái)上開(kāi)發(fā)多種定制測(cè)試系統(tǒng)。此外，采用虛擬儀器方法，工程師可以通過(guò)軟件定義通用測(cè)量硬件的功能，因而測(cè)試系統(tǒng)就成為驗(yàn)證存儲(chǔ)器和其它混合信號(hào)器件設(shè)計(jì)的重要策略。