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驗證FPGA設計:模擬,仿真,還是碰運氣?

作者: 時間:2009-05-07 來源:網(wǎng)絡 收藏

  對電路內方法的討論

   內驗證方法的優(yōu)劣與正好相反。首先, 顯然 很快。人們經(jīng)??梢砸匀龠\行設計。不過,在某些情況下,這樣做就意味著時序收斂問題會較多,超乎設計早期預期的程度。另外,與不同,將多個模塊綜合到設計中時, 并不會降速。這樣就可以測試整個設計,而非單個塊,并且可以以大量的實際數(shù)據(jù)集來運行測試,而不是采用精心編制的測試用例。

  由于FPGA速度較快,而且它的I/O部件就是實際應用所需要的I/O部件,所以也可以采用系統(tǒng)中測試設計:可以在裝入目標系統(tǒng)的FPGA開發(fā)板上測試,或者,如果目標PCB(印刷電路板)可以用的話,就在目標PCB上測試。這樣的測試可以消除測試用例是否能夠如實反映設計工作環(huán)境的疑慮。另外,在實際使用的電路板上測試設計可以暴露出I/O方面的問題——例如電氣問題、信號完整性問題,或是在高速串行協(xié)議下不兼容問題。這些問題用其他方法幾乎無法檢測,而系統(tǒng)內測試則會形成一個軟件測試平臺,帶來額外的好處。

  這些優(yōu)點都是系統(tǒng)級驗證方面的。但Altera公司的Simpson指出:在芯片內測試塊也有一些有用的優(yōu)點?!耙坏⒛硞€塊裝入FPGA,就可以使用嵌入式處理器核(如Nios)來輔助調試過程,” Simpson說?!袄?,處理器核可以使數(shù)據(jù)進出芯片,可以控制測試時序。這樣,在塊周邊電路還沒做好的時候就可以單獨測試某個塊?!?

  “在我們的自有IP(知識產(chǎn)權)開發(fā)部門,我們編寫了在Nios核上運行的事務處理器,以此來生成偽隨機測試,” Simpson 接著說。“據(jù)我所知,這樣的做法在用戶中還不普遍,但它非常有價值。”

  既然FPGA有這么多優(yōu)點,您可能會覺得疑惑:直接將編好的核裝入FPGA、為它編寫一個試件(test fixture),然后開始測試 ,這樣做會有什么問題呢?這個問題的答案在于FPGA的一些缺點。



關鍵詞: FPGA 模擬 仿真 ASIC SOC

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