高靈敏度的TIA設(shè)計及驗(yàn)證

　　高靈敏度的TIA的電路設(shè)計和仿真驗(yàn)證

　　經(jīng)過仔細(xì)思考，借鑒其它設(shè)計并激發(fā)靈感，設(shè)計出了一種具有高靈敏度的TIA電路。其具體的電路設(shè)計如圖2所示。其特點(diǎn)在于將跨阻分為兩部分R1與R2，并且插入一個對地的電阻網(wǎng)絡(luò)R3與C1。其中運(yùn)放的正負(fù)端電壓選取0V用來減少參考點(diǎn)其對輸出電壓的干擾。在正端串聯(lián)電阻R4可以減少運(yùn)放輸入偏置電流(μA量級)的影響。

　　假設(shè)運(yùn)放為理想運(yùn)放，令中間節(jié)點(diǎn)為X，具體的電路分析如下：