通過先進的校準測試方法降低移動設備的成本
加入技術(shù)交流群
傳統(tǒng)測試與現(xiàn)代測試
在80、90年代，移動設備的功能測試靠的是呼叫測試。測試中呼叫處理所需的時間在總測試時間中占據(jù)著很大部分。例如，對于每次呼叫來說，在測試之前CDMA移動設備的注冊和呼叫建立就需要30秒以上的時間。
除了基于呼叫的功能測試時間代價外，由于測試設備內(nèi)部的處理能力的限制，也意味著在校準和功能測試階段中無法同時進行發(fā)射和接收測試。假定接收測試為10秒，而發(fā)射測試為4秒，該串行測試也會比并行測試多出40%的時間。
起初，環(huán)回比特誤差率(BER)測量目的是確定設備接收機功能是否正常。由于BER實質(zhì)上采用的是統(tǒng)計方法，故需要發(fā)出大量的比特并進行測量。對如此多的比特進行測試等效于大量的測試時間，從而增加了額外的測試成本。先進的減少時間的測試策略包括：
* 采用接收/發(fā)射并行測試
* 省去功能測試階段中的呼叫
* 利用新的基于C/N的接收機測量來取代BER測量
* 采用快速校準模式
上述所有策略都要求在移動設備芯片中存在非標準測試模式。芯片中所實現(xiàn)的測試模式效率將實際影響OEM廠商工廠所需的投資。故采用較貴并具有較好校準和測試模式的芯片的產(chǎn)品設計在后續(xù)的制造階段將有效地節(jié)省成本。
制造測試流程
在傳統(tǒng)手機設備制造過程的開始階段，進入生產(chǎn)線的是裸板(PCB)，然后機器手將元器件和焊膏放置到電路板上，然后進行回流焊(對于反面重復上述流程)，其后是校準裝配好的PCB。在第二階段，將鍵盤，顯示器，以及其他的模組和元器件安裝到PCB上，隨后進行最后的測試。有時，在組裝好機殼和電池后還有進行語音呼叫測試，以確保在裝入用戶配件和發(fā)運前設備能正常工作。
評論