通過先進的校準測試方法降低移動設備的成本
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快速校準模式的實現
無論是移動設備還是OBT，高速校準采用特定的測試模式，來實現盡可能快的測試速度。有些OBT通過可視作為用來縮短OEM廠商測量時間的測量例程，提供了許多這類特定的測試模式。應注意的是這些工具是沒有用的，除非在所用的芯片集中能夠采用一個等效的模式。
一個多觸發(fā)測量(圖3)模式提供了在一個單信道上快速測量GSM移動設備的輸出功率的方法，功率電平可以多達500個。該方法的一個優(yōu)點是，對芯片集的修改較小。缺點是沒有Tx/Rx并行測量，還需要多個序列，具體取決于被測的Tx信道數量。
圖3：在單信道上實現GSM移動設備快速測量的多觸發(fā)測量。
由于EDGE調制可能包括一個在GSM調制中所沒有的幅度的較大變化，需要采用一個特定的校準技術來補償這一變化。預失真測量可以實現這一校準，具體方法是校準設備中的功率放大器的相位與功率的關系。
第一種的預失真測量是當輸入功率按方波變化時測量功率和相位。圖4所示即為該類測量，該測量中采用了500個相鄰的測試周期，周期長度從200μs到4.6ms之間可調。
圖4：輸入功率以方波變化時測量功率和相位的預失真測量。
第二種預失真測量是在輸入功率按三角波形時變化時測量功率和相位。圖5中，測量在8192個點上進行，采樣率為1.625MHz。該方法在階段的時間內提供了更多的數據，相對于第一種預失真測量，在芯片集上實現的難度可能會大一些。
圖5：輸入功率以三角波形時變化時測量功率和相位的預失真測量。
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