邊界掃描解決的測(cè)試問(wèn)題(06-100)

　　邊界掃描測(cè)試技術(shù)正在變熱。從1990年開始，它是針對(duì)解決基于物理接觸技術(shù)(如針床和浮動(dòng)探針系統(tǒng))的傳統(tǒng)板測(cè)試的有限接入問(wèn)題。IEEE1149.1邊界掃描應(yīng)用擴(kuò)展已超出JTAG原來(lái)成員的想象。

　　現(xiàn)在有不少的相關(guān)IEEE標(biāo)準(zhǔn)，如1149.4、1149.6、1532和5001,加上兩個(gè)主要的起初標(biāo)準(zhǔn)IJTAG(現(xiàn)在是IEEEP1687和SJTAG)。

　　·IJTAG(I指內(nèi)部)用測(cè)試接入端口(TAP)做為進(jìn)入系統(tǒng)芯片(SoC)或類似器件內(nèi)部測(cè)試和調(diào)試儀器的主要通路形式。

　　·SJTAG(S指系統(tǒng))用系統(tǒng)中由邊界掃描使能板和某些背板總線形式(可用做測(cè)試總線)構(gòu)成的邊界掃描架構(gòu)。

　　現(xiàn)在邊界掃描應(yīng)用正在向兩個(gè)完全不同的方向發(fā)展。邊界掃描能很好地解決某些邊界問(wèn)題，但不能解決全部問(wèn)題。

　　邊界掃描發(fā)展概況

　　圖1示出自IEEE1149.1第一版本發(fā)布以來(lái)邊界掃描技術(shù)蓬勃發(fā)展情況。邊界掃描不僅僅在單板級(jí)擴(kuò)展(1149.1、1149.6和1532),而且已進(jìn)入核基設(shè)計(jì)(1500、5001,現(xiàn)在的P1687/IJTAG)并進(jìn)入多板系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

　　邊界掃描能解決有關(guān)芯片、板和系統(tǒng)測(cè)試的所有問(wèn)題嗎？在做答此問(wèn)題之前，我們必須定義一些共同術(shù)語(yǔ)以防誤解。

　　器件定義為板上的實(shí)體。一旦器件組裝在板上，則可以結(jié)構(gòu)或功能觀點(diǎn)測(cè)試板。結(jié)構(gòu)測(cè)試可驗(yàn)證制造的性能指標(biāo)，如制造過(guò)程期間引起的失效檢測(cè)。