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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 邊界掃描

嵌入式邊界掃描

  • 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級(jí)測試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級(jí)測試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個(gè)十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
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用下行鏈路實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程邊界掃描測試

  • 將內(nèi)部IEEE1149架構(gòu)與集成在產(chǎn)品中的通信端口鏈接起來，供外界使用。一段時(shí)間以來，工程師們按照IE...
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基于邊界掃描技術(shù)的混合信號(hào)測試系統(tǒng)

  • 分析了用于模數(shù)混合電路的邊界掃描測試技術(shù)的工作機(jī)制對(duì)測試主控系統(tǒng)的功能需求．提出了一種基于微機(jī)的符合IEEEll49.4標(biāo)準(zhǔn)的混合信號(hào)邊界掃描測試主控系統(tǒng)。所采用的廣義特征分析法利用庫函數(shù)映射的思想，將傳統(tǒng)的各
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采用邊界掃描法測試系統(tǒng)級(jí)芯片互連的信號(hào)完整性

  • 互連中的信號(hào)完整性損耗對(duì)于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來說是非常關(guān)鍵的問題，因此經(jīng)常在設(shè)計(jì)和測試中采用一些特殊的方法來解決這樣的問題。本文介紹如何利用片上機(jī)制拓展JTAG標(biāo)準(zhǔn)使其包含互連的信號(hào)完整性測試，從而利
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用JTAG邊界掃描測試電路板、BGA和互連

  • 當(dāng)?shù)谝慌娐钒鍢影宸旁谟布こ處熥烂娴臅r(shí)候，在測試時(shí)他會(huì)感到非常困擾。工程師耗費(fèi)幾個(gè)星期的時(shí)間設(shè)計(jì)電路圖和布板，現(xiàn)在電路板做出來了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現(xiàn)在必須確定它能否工作。工程師插上板
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對(duì)PLD進(jìn)行邊界掃描（JTAG）故障診斷

  • 對(duì)PLD進(jìn)行邊界掃描（JTAG）故障診斷,IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的邊界掃描技術(shù)是針對(duì)復(fù)雜數(shù)字電路而制定的。標(biāo)準(zhǔn)中的自治測試技術(shù)現(xiàn)已成為數(shù)字系統(tǒng)可測性設(shè)計(jì)的主流。在利用邊界掃描技術(shù)對(duì)芯片印刷電路板進(jìn)行測試時(shí)，單芯片與多芯片電路板雖有相同點(diǎn)，但也有不
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基于邊界掃描的電路板快速測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 　摘要：本文設(shè)計(jì)了一套基于邊界掃描的電路板快速測試系統(tǒng),該系統(tǒng)利用計(jì)算機(jī)并行端口,通過適配器發(fā)送、接收測試向量,然后對(duì)采集數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,顯示測試結(jié)果。本文主要介紹了該系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)、軟件思想和診斷策略。經(jīng)
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邊界掃描和PXI Express(07-100)

  • 　　如同開發(fā)PXI做為PCI擴(kuò)展來滿足測試測量界專門要求那樣，PXI Express是基于PCI Express，為了該標(biāo)準(zhǔn)提供相應(yīng)擴(kuò)展。因?yàn)檫@種緊密關(guān)系，所以，PCI Express進(jìn)一步改進(jìn)也將適合于PXI Express。
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新型雷達(dá)數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 摘要：以新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路維修保障為背景，提出了“MERGE（組合）”邊界掃描測試模型的建立方法，基于此方法，設(shè)計(jì)了完善的便攜式數(shù)字電路自動(dòng)測試系統(tǒng)，解決了ICT測試、功能測試及傳統(tǒng)邊界掃描測試TPS開發(fā)成本高，技術(shù)難度大，故障覆蓋率低的缺陷。該測試系統(tǒng)現(xiàn)已成功擔(dān)負(fù)新型雷達(dá)裝備數(shù)字電路的維修保障任務(wù)，應(yīng)用表明，系統(tǒng)具有設(shè)計(jì)合理，性能穩(wěn)定、可靠，故障隔離準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。 關(guān)鍵詞：邊界掃描；MERGE；數(shù)字電路；故障診斷；自動(dòng)測試系統(tǒng)； 　　 引言 　　雷達(dá)，作為一種重要的軍事武
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邊界掃描與處理器仿真測試(05-100)

  • 　　當(dāng)前,PCB是越來越復(fù)雜,不言而喻,想要獲得滿意的測試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測試方法都有其固有的局限性。于是,測試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來以達(dá)到他們所要求的測試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱JTAG)和微處理器仿真測試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測試有各自的應(yīng)用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達(dá)到某種程度的測試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無縫地組合在一起,就有可能達(dá)到更高的總測試覆蓋范圍,是任何一種單獨(dú)技術(shù)無法比擬的。
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SJTAG技術(shù)在ATCA體系的應(yīng)用(圖)

邊界掃描在帶DSP芯片數(shù)字電路板測試中的應(yīng)用

  • 　　0 引言 　　在現(xiàn)代雷達(dá)系統(tǒng)中，帶有DSP(數(shù)字信號(hào)處理器)芯片的數(shù)字電路板應(yīng)用很廣。DSP芯片基本支持IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)，并且在電路板中形成了邊界掃描鏈，支持邊界掃描測試。 　　在DSP電路板中有這樣一類集成電路，它們屬于非邊界掃描器件，位于電路板邊緣連接器和由DSP芯片形成的邊界掃描鏈之間。這部分器件的功能測試難以進(jìn)行。首先，這些帶DSP的電路板有獨(dú)立的時(shí)序，所以不能單獨(dú)采用傳統(tǒng)的通過外部接口輸入測試矢量的方法進(jìn)行測試；其次，邊界掃描測試只能對(duì)與DSP芯片相連的引腳進(jìn)行互連測試，可檢測
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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

  • 　　邊界掃描廣泛應(yīng)用在板級(jí)測試和系統(tǒng)內(nèi)編程中。這些應(yīng)用典型地包含了具有邊界掃描能力的器件與群集器件測試之間的連接性測試，來驗(yàn)證與非邊界掃描器件(存儲(chǔ)器和邏輯器件)的連接性。 　　測試性和可實(shí)現(xiàn)測試覆蓋范圍是UUT(被測單元)特定的，并依賴于邊界掃描實(shí)現(xiàn)的水平。特別是在產(chǎn)品測試中，利用連接到UUT上的外設(shè)I/O進(jìn)行測試來擴(kuò)展邊界掃描測試覆蓋范圍。最近幾年，第3方邊界掃描工具的集成流行于板級(jí)產(chǎn)品測試設(shè)備，如內(nèi)電路測試器。往往這樣的集成，比獨(dú)立應(yīng)用的邊界掃描系統(tǒng)優(yōu)越性并不多。某些方案靠組合邊界掃描和ATE資源
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邊界掃描解決的測試問題(06-100)

  • 　　邊界掃描測試技術(shù)正在變熱。從1990年開始，它是針對(duì)解決基于物理接觸技術(shù)(如針床和浮動(dòng)探針系統(tǒng))的傳統(tǒng)板測試的有限接入問題。IEEE1149.1邊界掃描應(yīng)用擴(kuò)展已超出JTAG原來成員的想象。 　　現(xiàn)在有不少的相關(guān)IEEE標(biāo)準(zhǔn)，如1149.4、1149.6、1532和5001,加上兩個(gè)主要的起初標(biāo)準(zhǔn)IJTAG(現(xiàn)在是IEEEP1687和SJTAG)。 　　·IJTAG(I指內(nèi)部)用測試接入端口(TAP)做為進(jìn)入系統(tǒng)芯片(SoC)或類似器件內(nèi)部測試和調(diào)試儀器的主要通路形式。 　　&mi
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AEROFLEX 推出5800系列自動(dòng)測試機(jī) 已完全集成邊界掃描功能(JTAG)

  • 　　AEROFLEX已向業(yè)界推出帶有集成邊界掃描功能的多功能，多配制的5800系列自動(dòng)測試機(jī)。這款機(jī)器的特點(diǎn)是把業(yè)界知名的JTAG供應(yīng)商GOEPEL所提供的邊界掃描功能集成到基AEROFLEX 的PXI 平臺(tái)中。為客戶提供更高的測試覆蓋率。 　　 　　5800新增的邊界掃描功能可以使用戶在產(chǎn)品的整個(gè)壽命周期內(nèi)對(duì)具有結(jié)構(gòu)化的器件，板級(jí)的器件進(jìn)行測試。通過把GOEPEL SCANFLEX的硬件和5800數(shù)字測試卡集成起來可以為用戶提供更高測試覆蓋率的集成測試方案。因?yàn)檫吔鐠呙璧膬?yōu)點(diǎn)不僅在于可以提高測試覆蓋
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邊界掃描介紹

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