用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)
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圖3示出具有邊界描述控制器和附加測(cè)試儀I/O硬件的測(cè)試儀配置。邊界掃描控制器提供到UUT的JTAG測(cè)試接入端口的存取和到測(cè)試儀I/O間傳輸是通過主總線接口而不是通過邊界掃描鏈。
到具有混合掃描資源的UUT外設(shè)接口連接器的接入與采用邊界掃描I/O模塊(采用掃描鏈接入)所實(shí)現(xiàn)的測(cè)試覆蓋范圍具有同樣的改善。然而，由于產(chǎn)品的I/O圖形不能作為邊界掃描鏈的一部分，而是做為并行I/O圖形，所以，這些配置的測(cè)試程序可以端接。用其他ATE I/O資源，而測(cè)試程序不用作任何修改。由于I/O圖形與UUT邊界掃描描述無關(guān)，所以，測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)不會(huì)改變。
表2給出采用融合UUT的邊界掃描I/O模塊與用混合掃描概念實(shí)現(xiàn)時(shí)，測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)的差別?？紤]UUT和測(cè)試儀資源分別保證精度和UUT定向測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)。
基于混合測(cè)試圖形的概念是把經(jīng)過UUT邊界掃描鏈的串行接入和經(jīng)過測(cè)試儀I/O資源并行接入結(jié)合起來。測(cè)試儀I/O資源應(yīng)個(gè)別地可編程做為輸入，輸出或三態(tài)。
評(píng)論