泰克提供最精確的超高速USB測試解決方案

　　泰克公司日前宣布，為超高速 USB (USB 3.0)設備的檢定、調試和自動化一致性測試提供一套完善的新工具組。泰克本次在DPO/DSA70000B示波器上最新推出的USB-TX選件為驗證USB 3.0發(fā)射機提供了自動的一鍵式測試解決方案，為工程師帶來了更高效的方法，加快產品開發(fā)周期。此外，泰克公司還推出了一整套USB 3.0測試夾具，使工程師可以執(zhí)行更精確的發(fā)射機、接收機和電纜測試。

　　受來自更快數據傳輸速度的驅使，USB 3.0的性能較當前USB解決方案提高了10倍，但同時也給系統(tǒng)和電路設計人員帶來了多重挑戰(zhàn)。增加的帶寬對關鍵信號傳輸和信號保真度提出了更高的要求，因而需要異常準確、功能多樣的測試解決方案。當業(yè)內其它解決方案只是根據USB-IF測試規(guī)范提供標準化測量時，泰克的USB-TX選項則支持所有測量，包括標準化測試和參考性測試，如擴頻時鐘(SSC)、轉換、電壓電平等等。客戶完全可以信賴其設計驗證過程。

　　其它解決方案只限于特定標準化一致性測試，而泰克USB-TX則提供了全面而完善的一系列檢定、調試和一致性測試工具。加上唯一能夠以最近距離探測芯片的插頭式測試夾具，泰克USB3.0測試解決方案可以最真實地反映信號。

　　“我們得以提前試用泰克為超高速 USB最新推出的測試解決方案，它為Fresco Logic的USB 3.0芯片設計工藝帶來的生產效率上的提高令人激動。”Fresco Logic公司首席技術官Bob McVay說，“AWG7000可以執(zhí)行接收機容限測試，并能夠迅速從發(fā)射機一致性測試環(huán)境轉到調試。事實證明，AWG7000可以節(jié)約大量時間。”

　　高速串行標準自動化框架

　　選項USB-TX基于TekExpressä框架，該框架是專為自動一鍵式測試高速串行數據標準而開發(fā)的。TekExpress模塊基于標準機構指定和發(fā)布的測試要求和實現方法(MOI)，所有測試流程均自動完成，客戶只需選擇所需的測試，就可以獲得包括通過/失敗和余量結果的完整報告。除新推出的USB 3.0解決方案外，泰克目前還為SATA和DisplayPort提供了自動測試模塊。

　　“TekExpress幫助工程師們消除了高速串行數據測試工作中的臆測。在當前環(huán)境中，客戶要處理多種標準，成為所有領域的專家，這一點極具挑戰(zhàn)性。”泰克公司技術解決方案部總經理Ian Valentine說，“TekExpress提供了客戶所需的專業(yè)技術，并使得他們能夠專注于早日將設計投向市場上。”

　　完整的發(fā)射機、接收機和電纜測試解決方案

　　USB將加入其它高速串行標準，如速率達8 Gb/s 的PCI Express和6 Gb/s的SATA ，成為要求更高的技術之一，從而需要先進的測量儀器，如泰克最新推出的業(yè)內領先的DPO/DSA70000B示波器。泰克實時示波器擁有高達20GHz的帶寬，提供了業(yè)內最優(yōu)秀的信號保真度、最低的噪底和最高的有效比特數(ENOB)，為高要求的一致性測試和調試測試提供了更大的余量和保真度。對于接收機測試來說，泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器是唯一可以在一臺儀器中生成所有要求信號的解決方案。同時，泰克還通過其DSA8200采樣示波器提供了電纜和信道測量解決方案。