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減小ESD引起的停機(jī)時(shí)間

• 減小ESD引起的停機(jī)時(shí)間　半導(dǎo)體器件常常因靜電放電而失效。弄清楚失效的根源并遵守設(shè)計(jì)規(guī)則，就有助于避免這種失效。　　ESD（靜電放電）是導(dǎo)致電子器件失 效的主要原因，它可以在任何階段——從制造到測試、組裝、生產(chǎn)、現(xiàn)場運(yùn)行以及現(xiàn)場 PC 裝配等——影響電子器件的功能。專家估計(jì)，1994 年全世界電子行業(yè)因 ESD 造成的損失超過 900 億美元（參考文獻(xiàn) 1）。ESD 的發(fā)生原因是電荷在某一表面的累積，如摩擦生電。但是，由于電子產(chǎn)品的快速小型化，導(dǎo)致器件的幾何尺寸縮小，其中包括層厚度，因此這些高密
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