ic測試文章進(jìn)入ic測試技術(shù)社區(qū)

全球IC測試龍頭疫情持續(xù)發(fā)酵臺積電或被波及風(fēng)暴席卷當(dāng)?shù)卣麄€科技產(chǎn)業(yè)鏈

據(jù)臺灣地區(qū)經(jīng)濟(jì)日報報道，中國臺灣半導(dǎo)體廠染疫已由京元電子、超豐等半導(dǎo)體封測廠，蔓延到晶圓代工龍頭臺積電，以及網(wǎng)通產(chǎn)品供應(yīng)商智邦科技，甚至與京元電子往來的IC設(shè)計公司員工也被要求快篩，不僅將沖擊苗栗竹南科學(xué)園區(qū)，恐將進(jìn)一步影響位于竹科的廠商，對產(chǎn)業(yè)沖擊也將由半導(dǎo)體、網(wǎng)絡(luò)，進(jìn)一步擴(kuò)大到臺灣地區(qū)整個科技產(chǎn)業(yè)鏈。　　處于風(fēng)暴之眼的京元電子在全球封測市占率約3.7%，為第八大封測廠。其苗栗縣廠區(qū)近日爆出多名員工確診新冠肺炎?！　榱吮苊庖咔樵俣葦U(kuò)大，該公司相關(guān)廠區(qū)自4日夜班到6月6日的日班為止停工2天，進(jìn)行廠區(qū)消毒
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IC測試原理解析(第四部分―射頻/無線芯片測試基礎(chǔ))

芯片測試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應(yīng)用，第三章介紹了
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混合掃描測試解決方案的優(yōu)勢

掃描測試是測試集成電路的標(biāo)準(zhǔn)方法。絕大部分集成電路生產(chǎn)測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項(xiàng)成熟的技術(shù)，特點(diǎn)是結(jié)果的可預(yù)測性高并且效果不錯。它還能實(shí)現(xiàn)精確的缺陷診斷，有助于
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集成電路獨(dú)立測試基地在鎮(zhèn)江建成

　　日前，江蘇艾科半導(dǎo)體二期項(xiàng)目在鎮(zhèn)江新區(qū)科技新城竣工開業(yè)，其中總投資2億元的集成電路第三方獨(dú)立測試服務(wù)基地，填補(bǔ)了我省該領(lǐng)域的空白，并為鎮(zhèn)江集聚集成電路產(chǎn)業(yè)提供支撐。下一步，該企業(yè)將與中科院微電子所共享科研成果，通過合作方式承擔(dān)廠商外包訂單。　　此次合作，由鎮(zhèn)江現(xiàn)代服務(wù)業(yè)中中高端IC測試工程服務(wù)的領(lǐng)軍企業(yè)艾科公司，與VEGI公司共同投資3億元人民幣建設(shè)集成電路測試基地，其中，VEGI公司出資1500萬美元用于測試設(shè)備采購，艾科出資2億元人民幣用于測試設(shè)備采購、環(huán)境建設(shè)及流動資金。項(xiàng)目建成后，將為
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集成電路獨(dú)立測試基地在鎮(zhèn)江建成

　　日前，江蘇艾科半導(dǎo)體二期項(xiàng)目在鎮(zhèn)江新區(qū)科技新城竣工開業(yè)，其中總投資2億元的集成電路第三方獨(dú)立測試服務(wù)基地，填補(bǔ)了我省該領(lǐng)域的空白，并為鎮(zhèn)江集聚集成電路產(chǎn)業(yè)提供支撐。下一步，該企業(yè)將與中科院微電子所共享科研成果，通過合作方式承擔(dān)廠商外包訂單。　　此次合作，由鎮(zhèn)江現(xiàn)代服務(wù)業(yè)中中高端IC測試工程服務(wù)的領(lǐng)軍企業(yè)艾科公司，與VEGI公司共同投資3億元人民幣建設(shè)集成電路測試基地，其中，VEGI公司出資1500萬美元用于測試設(shè)備采購，艾科出資2億元人民幣用于測試設(shè)備采購、環(huán)境建設(shè)及流動資金。項(xiàng)目建成后，將
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IC測試常見問答

我在測試的時候，有些DC參數(shù)在同樣的條件下幾次測試的結(jié)果相差很大。不明白是為什么?　　你使用的測試機(jī)臺是 ...
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IC測試原理解析(第四部分―射頻/無線芯片測試基礎(chǔ)

芯片測試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理，第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應(yīng)用，第三章介紹了
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IC測試原理解析(第三部分)

芯片測試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是第三章。我們在第一章介紹了芯片測試的基本原理；第二章討論了怎么把這些基本原理應(yīng)用到存儲器和邏輯芯片的測試上；本文
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IC測試原理解析(第二部分)

芯片測試原理討論在芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中芯片測試的基本原理，一共分為四章，下面將要介紹的是第二章。我們在第一章介紹了芯片的基本測試原理，描述了影響芯片測試方案選擇的基本因素，定義了芯片測試過程中的常用術(shù)
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IC測試原理解析(第一部分)

本系列一共四章，下面是第一部分，主要討論芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中的IC測試基本原理，內(nèi)容覆蓋了基本的測試原理，影響測試決策的基本因素以及IC測試中的常用術(shù)語。第一章數(shù)字集成電路測試的基本原理器件測試的主要目
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可降低下一代IC測試成本的確定性邏輯內(nèi)置自測技術(shù)

20世紀(jì)70年代隨著微處理器的出現(xiàn)，計算機(jī)和半導(dǎo)體供應(yīng)商逐漸認(rèn)識到，集成電路需要在整個制造過程中盡可能早地進(jìn)行測試，因?yàn)樾酒圃烊毕萋侍?，不能等到系統(tǒng)裝配好后再測試其功能是否正確，所以在IC做好之后就應(yīng)對
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提升IC測試廠的產(chǎn)能利用率

前言IC測試廠最重要的兩大指標(biāo)就是測試品質(zhì)與生產(chǎn)效率。測試品質(zhì)的關(guān)鍵在于測試的再現(xiàn)性與可重復(fù)性，而生產(chǎn)要素除了合格率的因素外，最主要的就是測試設(shè)備的產(chǎn)能利用率。在質(zhì)的方面，對于經(jīng)過測試的每一顆IC，要求在
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藍(lán)牙收發(fā)器transceiver IC測試

藍(lán)牙規(guī)范的第一個正式版本1.0版已于1999年7月發(fā)布，之后許多廠商都推出了支持藍(lán)牙產(chǎn)品的高性價比集成電路芯片。隨著藍(lán)牙產(chǎn)品越來越普及，制造商需要以較低的成本完成大量測試工作。本文針對藍(lán)牙射頻前端收發(fā)器，著重
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芯片開發(fā)和生產(chǎn)中的IC測試基本原理分析

1 引言　　本文主要討論芯片開發(fā)和生產(chǎn)過程中的IC測試基本原理，內(nèi)容覆蓋了基本的測試原理，影響測試決策的基本因素以及IC測試中的常用術(shù)語。　　2 數(shù)字集成電路測試的基本原理　　器件測試的主要目的是保證器件在惡
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IC測試技術(shù)將進(jìn)入新的階段

一、降低測試成本提高測試速度勢在必行任何一種電子產(chǎn)品都離不開體積小、功能強(qiáng)的芯片，正是芯片推動著IC飛...
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ic測試介紹

　　IC測試　　任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計的單片模塊，IC測試就是集成電路的測試，就是運(yùn)用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測試也就不需要了。由于實(shí)際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產(chǎn)品都會產(chǎn)生不良的個體，因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。　　IC [ 查看詳細(xì) ]

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