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DSP內(nèi)嵌PLL中的CMOS壓控環(huán)形振蕩器設(shè)計
- DSP內(nèi)嵌PLL中的CMOS壓控環(huán)形振蕩器設(shè)計,本文設(shè)計了一種應(yīng)用于DSP內(nèi)嵌鎖相環(huán)的低功耗、高線性CM0S壓控環(huán)形振蕩器。電路采用四級延遲單元能方便的獲得正交輸出時鐘,每級采用RS觸發(fā)結(jié)構(gòu)來產(chǎn)生差分輸出信號,在有效降低靜態(tài)功耗的同時.具有較好的抗噪聲能力。在延遲單元的設(shè)計時。綜合考慮了電壓控制的頻率范圍以及調(diào)節(jié)線性度,選擇了合適的翻轉(zhuǎn)點。 仿真結(jié)果表明.電路叮實現(xiàn)2MHz至90MHz的頻率調(diào)節(jié)范圍,在中心頻率附近具有很高的調(diào)節(jié)線性度,可完全滿足DSP芯片時鐘系統(tǒng)的要求。
- 關(guān)鍵字: 振蕩器 設(shè)計 環(huán)形 CMOS 內(nèi)嵌 PLL DSP
異步FIFO和PLL在高速雷達數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 異步FIFO和PLL在高速雷達數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中的應(yīng)用,將異步FIFO和鎖相環(huán)應(yīng)用到高速雷達數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中用來緩存A/D轉(zhuǎn)換的高速采樣數(shù)據(jù),解決嵌入式實時數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,高速采集數(shù)據(jù)量大,而處理器處理速度有限的矛盾,提高系統(tǒng)的可靠性。根據(jù)FPGA內(nèi)部資源的特點,將FIFO和鎖相環(huán)設(shè)計在一塊芯片上。因為未使用外掛FIFO和PLL器件,使得板卡設(shè)計結(jié)構(gòu)簡單,并減少硬件板卡的干擾。由于鎖相環(huán)的使用,使得整個采集系統(tǒng)時鐘管理方便。異步FIFO構(gòu)成的高速緩存具有一定通用性,方便系統(tǒng)進行升級維護。
- 關(guān)鍵字: 數(shù)據(jù)采集 系統(tǒng) 應(yīng)用 雷達 高速 FIFO PLL 異步
一種基于DDS+PLL的Chirp-UWB信號產(chǎn)生方案
- 由于超寬帶信號的帶寬很寬,傳統(tǒng)的信號產(chǎn)生辦法已不能直接應(yīng)用于超寬帶通信。為此,提出一種基于DDS+PLL的Chirp-UWB信號產(chǎn)生方案,該方法聯(lián)合使用了DDS和PLL兩種信號產(chǎn)生技術(shù),優(yōu)勢互補。通過ADS結(jié)合Matlab對系統(tǒng)的模型建立和性能分析證明,該方案輸出信號性能優(yōu)良,完全能滿足設(shè)計要求,并已成功應(yīng)用于某超寬帶通信系統(tǒng)。
- 關(guān)鍵字: 產(chǎn)生 方案 信號 Chirp-UWB DDS PLL 基于 轉(zhuǎn)換器
TLi選擇FineSim SPICE作為模擬IC設(shè)計的標(biāo)準(zhǔn)驗證工具
- 芯片設(shè)計解決方案供應(yīng)商微捷碼(Magma®)設(shè)計自動化有限公司日前宣布,消費電子產(chǎn)品全球供應(yīng)商Technology Leaders & Innovators (TLi)公司已采用FineSim™ SPICE作為大型模擬IP設(shè)計的標(biāo)準(zhǔn)驗證工具。TLi是在對大量商用SPICE仿真產(chǎn)品進行徹底詳盡的評估,結(jié)果顯示具有線性多CPU功能的FineSim SPICE提供了較傳統(tǒng)多線程仿真器快上一個數(shù)量級的運行時間后才決定選用這款微捷碼軟件。 “我們設(shè)計著許多不同類型的
- 關(guān)鍵字: Magma FineSim PLL ADC/DAC 高速I/O
一種基于DDS和PLL技術(shù)本振源的設(shè)計與實現(xiàn)
- 現(xiàn)代頻率合成技術(shù)正朝著高性能、小型化的方向發(fā)展,應(yīng)用最為廣泛的是直接數(shù)字式頻率合成器(DDS)和鎖相式頻率合成器(PLL)。介紹直接數(shù)字頻率合成器和鎖相環(huán)頻率合成器的基本原理,簡述用直接數(shù)字頻率合成器(AD9954)和鎖相環(huán)頻率合成器(ADF4112)所設(shè)計的本振源的實現(xiàn)方案,重點闡述了系統(tǒng)的硬件實現(xiàn),包括系統(tǒng)原理、主要電路單元設(shè)計等,并且對系統(tǒng)的相位噪聲和雜散性能做了簡要分析,最后給出了系統(tǒng)測試結(jié)果。
- 關(guān)鍵字: DDS PLL
IDT 推出 Versacloc 計時器件新產(chǎn)品系列
- 致力于豐富數(shù)字媒體體驗、提供領(lǐng)先的混合信號半導(dǎo)體解決方案供應(yīng)商 IDT® 公司(Integrated Device Technology, Inc.)推出其 VersaClock™ 計時器件的最新產(chǎn)品系列。VersaClock III 器件是專為高性能消費、電信、網(wǎng)絡(luò)和數(shù)據(jù)通信應(yīng)用設(shè)計的可編程時鐘發(fā)生器,可以更經(jīng)濟有效地在多個晶體和振蕩器之間進行選擇。這些可編程計時解決方案對節(jié)省占板空間和保持功效非常關(guān)鍵,因其體積可能不允許全定制解決方案。多個具有各種不同需求的系統(tǒng)能夠整合成更少的
- 關(guān)鍵字: IDT VersaClock 可編程時鐘發(fā)生器 PLL
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