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sic mosfet 文章 進(jìn)入sic mosfet技術(shù)社區(qū)
了解熱阻在系統(tǒng)層級(jí)的影響
- 在電阻方面,電流流動(dòng)的原理可以比作熱從熱物體流向冷物體時(shí)遇到的阻力。每種材料及其接口都有一個(gè)熱阻,可以用這些數(shù)字來(lái)計(jì)算從源頭帶走熱的速率。在整合式裝置中,半導(dǎo)體接面是產(chǎn)生熱的來(lái)源,允許接面超過(guò)其最大操作溫度將導(dǎo)致嚴(yán)重故障。整合式裝置制造商雖使用一些技術(shù)來(lái)設(shè)計(jì)保護(hù)措施,以避免發(fā)生過(guò)熱關(guān)機(jī)等情況,但不可避免的是仍會(huì)造成損壞。一個(gè)更好的解決方案,就是在設(shè)計(jì)上選擇抑制 (或至少限制) 會(huì)造成接面溫度超過(guò)其操作最大值的情況。由于無(wú)法直接強(qiáng)制冷卻接面溫度,透過(guò)傳導(dǎo)來(lái)進(jìn)行散熱是確保不會(huì)超過(guò)溫度的唯一方法。工程師需要在這
- 關(guān)鍵字: MOSFET
BUCK轉(zhuǎn)換器的PCB布局設(shè)計(jì)
- 討論了BUCK轉(zhuǎn)換器的開(kāi)通回路、關(guān)斷回路的電流特性,具有高電流變化率di/dt的輸入回路,以及具有高的電壓變化率dV/dt的開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)是其關(guān)鍵回路和關(guān)鍵 節(jié)點(diǎn),使用盡可能小的環(huán)路,短粗布線,優(yōu)先對(duì)其進(jìn)行PCB布局。給出了多層板的信號(hào)分配原則,也給出了分立和集成的BUCK轉(zhuǎn)換器的PCB布局技巧和一些實(shí)例,分析了它們的優(yōu)缺點(diǎn)。
- 關(guān)鍵字: PCB布局 磁場(chǎng)干擾 電場(chǎng)干擾 MOSFET 202108
碳化硅邁入新時(shí)代 ST 25年研發(fā)突破技術(shù)挑戰(zhàn)
- 1996年,ST開(kāi)始與卡塔尼亞大學(xué)合作研發(fā)碳化硅(SiC),今天,SiC正在徹底改變電動(dòng)汽車。為了慶祝ST研發(fā)SiC 25周年,我們決定探討 SiC在當(dāng)今半導(dǎo)體行業(yè)中所扮演的角色,ST的碳化硅研發(fā)是如何取得成功的,以及未來(lái)發(fā)展方向。Exawatt的一項(xiàng)研究指出,到2030年, 70%的乘用車將采用SiC MOSFET。這項(xiàng)技術(shù)也正在改變其他市場(chǎng),例如,太陽(yáng)能逆變器、儲(chǔ)能系統(tǒng)、服務(wù)器電源、充電站等。因此,了解SiC過(guò)去25年的發(fā)展歷程是極其重要的,對(duì)今天和明天的工程師大有裨益。碳化硅:半導(dǎo)體行業(yè)如何克服技術(shù)
- 關(guān)鍵字: MOSFET
Maxim Integrated發(fā)布來(lái)自Trinamic子品牌的3相MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器,可最大程度地延長(zhǎng)電池壽命并將元件數(shù)量減半
- TRINAMIC Motion Control GmbH & Co. KG (Maxim Integrated Products, Inc子公司)近日宣布推出完全集成的TMC6140-LA ?3相MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器,有效簡(jiǎn)化無(wú)刷直流(DC)電機(jī)驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),并最大程度地延長(zhǎng)電池壽命。TMC6140-LA 3相MOSFET柵極驅(qū)動(dòng)器為每相集成了低邊檢流放大器,構(gòu)成完備的電機(jī)驅(qū)動(dòng)方案;與同類產(chǎn)品相比元件數(shù)量減半,且電源效率提高30%,大幅簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。TMC6140-LA針對(duì)較寬的電壓范圍進(jìn)行性
- 關(guān)鍵字: MOSFET
鄭有炓院士:第三代半導(dǎo)體迎來(lái)新發(fā)展機(jī)遇
- 半導(dǎo)體材料是信息技術(shù)的核心基礎(chǔ)材料,一代材料、一代技術(shù)、一代產(chǎn)業(yè),半個(gè)多世紀(jì)來(lái)從基礎(chǔ)技術(shù)層面支撐了信息技術(shù)翻天覆地的變化,推動(dòng)了電子信息科技產(chǎn)業(yè)可持續(xù)蓬勃發(fā)展。同樣地,信息技術(shù)和電子信息科技產(chǎn)業(yè)發(fā)展需求又驅(qū)動(dòng)了半導(dǎo)體材料與技術(shù)的發(fā)展。第三代半導(dǎo)體材料及其應(yīng)用第三代半導(dǎo)體是指以GaN、SiC為代表的寬禁帶半導(dǎo)體材料,它是繼20世紀(jì)50年代以Ge、Si為代表的第一代半導(dǎo)體和70年代以GaAs、InP為代表的第二代半導(dǎo)體之后于90年代發(fā)展起來(lái)的新型寬禁帶半導(dǎo)體材料,即禁帶寬度明顯大于Si(1.12 eV)和Ga
- 關(guān)鍵字: 第三代半導(dǎo)體 SiC
電動(dòng)汽車用SiC和傳統(tǒng)硅功率元器件都在經(jīng)歷技術(shù)變革
- 近年來(lái),在全球“創(chuàng)建無(wú)碳社會(huì)”和“碳中和”等減少環(huán)境負(fù)荷的努力中,電動(dòng)汽車(xEV)得以日益普及。為了進(jìn)一步提高系統(tǒng)的效率,對(duì)各種車載設(shè)備的逆變器和轉(zhuǎn)換器電路中使用的功率半導(dǎo)體也提出了多樣化需求,超低損耗的SiC 功率元器件(SiC MOSFET、SiC SBD等)和傳統(tǒng)的硅功率元器件(IGBT、SJ-MOSFET 等)都在經(jīng)歷技術(shù)變革。在OBC(車載充電機(jī))方面,羅姆以功率器件、模擬IC 以及標(biāo)準(zhǔn)品這三大產(chǎn)品群進(jìn)行提案。羅姆半導(dǎo)體(上海)有限公司 技術(shù)中心 副總經(jīng)理 周勁1? ?Si
- 關(guān)鍵字: MOSFET 202108
汽車電氣化的部分關(guān)鍵技術(shù)及ST的解決方案
- 1? ?汽車電氣化的趨勢(shì)和挑戰(zhàn)汽車市場(chǎng)中與電氣化相關(guān)的應(yīng)用是減少交通碳排放影響的關(guān)鍵因素。中國(guó)領(lǐng)導(dǎo)人在2020年9 月提出中國(guó)要在2030年碳達(dá)峰,2060 年實(shí)現(xiàn)碳中和的目標(biāo)。為了實(shí)現(xiàn)碳中和,減少能源使用中的碳排放是其中的重要一環(huán)。電能是清潔、高效的能源品種,用電能作為主要的能源消耗可以大幅減少碳排放。同時(shí)也要發(fā)展低排放的清潔能源作為主要發(fā)電的能源。中國(guó)交通運(yùn)輸行業(yè)碳排放占比達(dá)10%,而公路運(yùn)輸占其中的74%,主要來(lái)自燃油車的排放。因此,發(fā)展電動(dòng)汽車并逐漸從燃油車過(guò)渡到電動(dòng)汽車對(duì)減少
- 關(guān)鍵字: 202108 SiC BMS
清潔安全的汽車將由功能電子化和自動(dòng)駕駛賦能
- 未來(lái)的汽車將是清潔和安全的汽車,由先進(jìn)的汽車功能電子化和自動(dòng)駕駛技術(shù)賦能。安森美半導(dǎo)體汽車戰(zhàn)略及業(yè)務(wù)拓展副總裁 Joseph Notaro1? ?功率器件賦能電動(dòng)汽車電動(dòng)車可幫助實(shí)現(xiàn)零排放,其市場(chǎng)發(fā)展是令人興奮和充滿生機(jī)的,隨著電動(dòng)車銷售不斷增長(zhǎng),必須推出滿足駕駛員需求的基礎(chǔ)設(shè)施,以提供一個(gè)快速充電站網(wǎng)絡(luò),使他們能夠快速完成行程,而沒(méi)有“續(xù)航里程焦慮癥”。這一領(lǐng)域的要求正在迅速發(fā)展,需要超過(guò)350 kW 的功率水平和95% 的能效成為“常規(guī)”。鑒于這些充電樁部署在不同的環(huán)境和地點(diǎn),緊湊
- 關(guān)鍵字: 202108 SiC 汽車 OBC
功率因素校正電路旁路二極管的作用
- 本文總結(jié)了功率因素校正電路加旁路二極管作用的幾種不同解釋:減少主二極管的浪涌電流;提高系統(tǒng)抗雷擊的能力;減少開(kāi)機(jī)瞬間系統(tǒng)的峰值電流,防止電感飽和損壞功率MOSFET。具體分析了輸入交流掉電系統(tǒng)重起動(dòng),導(dǎo)致功率MOSFET驅(qū)動(dòng)電壓降低、其進(jìn)入線性區(qū)而發(fā)生損壞,才是增加旁路二極管最重要、最根本的原因。給出了在這種模式下,功率MOSFET發(fā)生損壞的波形和失效形態(tài),同時(shí)給出了避免發(fā)生這種損壞的幾個(gè)措施。
- 關(guān)鍵字: 功率因素校正 旁路二極管 線性區(qū) 欠壓保護(hù) 202103 MOSFET
簡(jiǎn)易直流電子負(fù)載的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)*
- 隨著電力電子技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)負(fù)載測(cè)試電源性能的方法在高科技產(chǎn)品的生產(chǎn)中逐漸暴露出許多的不足之處。為了解決采用傳統(tǒng)負(fù)載測(cè)試方法存在功耗較大、效率與調(diào)節(jié)精度低、體積大等問(wèn)題,設(shè)計(jì)并制作一款適合隨頻率、時(shí)間變化而發(fā)生改變的被測(cè)電源的簡(jiǎn)潔、實(shí)用、方便的直流電子負(fù)載。系統(tǒng)主要由STC12C5A60S2單片機(jī)主控、增強(qiáng)型N溝道場(chǎng)效應(yīng)管IRF3205功率管、矩陣按鍵、D/A和A/D電路等部分組成。實(shí)現(xiàn)了在一定電壓與電流范圍內(nèi)恒壓恒流任意可調(diào),并通過(guò)LCD12864液晶顯示屏顯示被測(cè)電源的電壓值、電流值及相應(yīng)的設(shè)定值
- 關(guān)鍵字: STC12C5A60S2單片機(jī) 恒流恒壓 IRF3205 負(fù)載調(diào)整率 202105 MOSFET
適用于熱插拔的Nexperia新款特定應(yīng)用MOSFET
- 新推出的80 V和100 V器件最大限度降低額定值,并改善均流,從而提供最佳性能、高可靠性并降低系統(tǒng)成本?;A(chǔ)半導(dǎo)體器件領(lǐng)域的專家Nexperia今日宣布推出新款80 V和100 V ASFET,新器件增強(qiáng)了SOA性能,適用于5G電信系統(tǒng)和48 V服務(wù)器環(huán)境中的熱插拔與軟啟動(dòng)應(yīng)用以及需要e-fuse和電池保護(hù)的工業(yè)設(shè)備。 ASFET是一種新型MOSFET,經(jīng)過(guò)優(yōu)化,可用于特定應(yīng)用場(chǎng)景。通過(guò)專注于對(duì)某一應(yīng)用至關(guān)重要的特定參數(shù),有時(shí)需要犧牲相同設(shè)計(jì)中其他較不重要的參數(shù),以實(shí)現(xiàn)全新性能水平。新款熱插拔ASFET
- 關(guān)鍵字: Nexperia MOSFET
瑞能半導(dǎo)體舉行CEO媒體溝通會(huì)
- 近日,瑞能半導(dǎo)體CEO Markus Mosen(以下簡(jiǎn)稱Markus)的媒體溝通會(huì)在上海靜安洲際酒店舉行,瑞能半導(dǎo)體全球市場(chǎng)總監(jiān)Brian Xie同時(shí)出席本次媒體溝通會(huì)。溝通會(huì)上首先回顧了瑞能半導(dǎo)體自2015年從恩智浦分離出后,從全新的品牌晉升為如今的知名國(guó)際品牌的過(guò)程中,在六年內(nèi)保持的相當(dāng)規(guī)模的成長(zhǎng),并取得的驕人成績(jī);結(jié)合瑞能半導(dǎo)體近期推出的第六代碳化硅二極管、碳化硅MOSFET、IGBT、TVS/ESD等多種系列產(chǎn)品,明確了在碳化硅器件行業(yè)內(nèi)的領(lǐng)先地位;在分享后續(xù)發(fā)展策略的同時(shí),強(qiáng)調(diào)了瑞能半導(dǎo)體未來(lái)
- 關(guān)鍵字: MOSFET
基本半導(dǎo)體——第三代半導(dǎo)體前景無(wú)限
- 相比于數(shù)字半導(dǎo)體,我國(guó)在模擬與功率半導(dǎo)體的差距要更大一些,因?yàn)楣β势骷粌H僅是產(chǎn)品設(shè)計(jì)的問(wèn)題,還涉及到材料等多個(gè)技術(shù)環(huán)節(jié)的突破。其中第三代功率器件也是我們重點(diǎn)迎頭趕上的領(lǐng)域之一。作為國(guó)內(nèi)第三代半導(dǎo)體領(lǐng)軍企業(yè),基本半導(dǎo)體技術(shù)營(yíng)銷副總監(jiān)劉誠(chéng)表示,公司致力于碳化硅功率器件的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化,核心產(chǎn)品包括碳化硅肖特基二極管、碳化MOSFET和車規(guī)級(jí)全碳化硅功率模塊等,基本半導(dǎo)體碳化硅功率器件產(chǎn)品性能處于國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平。新能源汽車是碳化硅功率器件最為重要的應(yīng)用領(lǐng)域,市場(chǎng)潛力大,也是基本半導(dǎo)體要重點(diǎn)發(fā)力的市場(chǎng)。站在劉誠(chéng)的角
- 關(guān)鍵字: 基本半導(dǎo)體 MOSFET 中國(guó)芯
變頻電源開(kāi)關(guān)芯片炸裂的失效分析與可靠性研究
- 隨著科技的發(fā)展,電器設(shè)備使用越來(lái)越廣泛,功能越來(lái)越強(qiáng)大,體積也越來(lái)越小,對(duì)電源模塊的要求不斷增加。開(kāi)關(guān)電源具有效率高、成本低及體積小的特點(diǎn),在電氣設(shè)備中獲得了廣泛的應(yīng)用。經(jīng)分析,開(kāi)關(guān)電源電路多個(gè)器件失效主要是電路中高壓瓷片電容可靠性差,導(dǎo)致開(kāi)關(guān)芯片失效。本文通過(guò)增加瓷片電容材料的厚度提高其耐壓性能和其他性能,使產(chǎn)品各項(xiàng)性能有效提高,滿足電路設(shè)計(jì)需求,減少售后失效。
- 關(guān)鍵字: 開(kāi)關(guān)電源 高壓瓷片電容 芯片 耐壓提升 可靠性 202105 MOSFET
特定工作條件下的開(kāi)關(guān)電源模塊失效分析
- 針對(duì)在某特定工作條件下發(fā)生的短路失效問(wèn)題,進(jìn)行了開(kāi)關(guān)電源模塊及其外圍電路的工作原理分析,通過(guò)建立故障確定了失效原因,運(yùn)用原理分析與仿真分析的方法找到了開(kāi)關(guān)電源模塊的損傷原因與機(jī)理,并給出了對(duì)應(yīng)的改進(jìn)措施。
- 關(guān)鍵字: 開(kāi)關(guān)電源模塊 電源振蕩 失效分析 MOSFET 202105
sic mosfet介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)sic mosfet的理解,并與今后在此搜索sic mosfet的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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