HBM(高帶寬存儲器)簡介
本文主要源于幾篇產(chǎn)業(yè)報(bào)告,從中提取了一些相對重要且客觀信息進(jìn)行梳理。文中圖表較多,可能會影響閱讀,其實(shí)整體思路很簡單,主要分為四個板塊:1、AI時(shí)代的內(nèi)存墻問題;2、HBM用來解決這個問題并闡述了HBM的概念及技術(shù)特點(diǎn);3、HBM的制造工藝;4、HBM的核心材料。
AI算力時(shí)代的內(nèi)存墻問題
隨著摩爾定律的不斷迭代,CPU運(yùn)行速度快速提升,CPU主頻高達(dá)5GHz,而DRAM內(nèi)存性能取決于電容充放電速度以及DRAM與CPU之間的接口帶寬,存儲性能提升遠(yuǎn)慢于CPU,DRAM內(nèi)存帶寬成為制約計(jì)算機(jī)性能發(fā)展的重要瓶頸。DDR4內(nèi)存主頻為2666~3200MHz,帶寬為6.4GB/s,但是在AI應(yīng)用中(高性能計(jì)算/數(shù)據(jù)中心),算力芯片的數(shù)據(jù)吞吐量峰值在TB/s級,主流的DRAM內(nèi)存或顯存帶寬一般為幾GB/s到幾十GB/s量級,與算力芯片存在顯著的差距,“內(nèi)存墻”由此形成。以Transformer類模型為例,模型大小平均每兩年翻410倍,AI硬件上的內(nèi)存大小僅僅是以每年翻2倍的速率在增長;內(nèi)存墻問題不僅與內(nèi)存容量大小有關(guān),也包括內(nèi)存的傳輸帶寬;內(nèi)存容量和傳輸?shù)乃俣榷即蟠舐浜笥谟布挠?jì)算能力。
典型的DRAM中,每個芯片有八個DQ引腳(數(shù)據(jù)傳輸路徑,用作處理器和存儲器之間通信的數(shù)據(jù)總線,必須具備讀寫功能,所以具備雙向特性),即數(shù)據(jù)輸入/輸出引腳。組成DIMM模塊單元后(雙列直插式存儲模塊,安裝在PCB板上的存儲模塊,包含多個存儲芯片,被用作PC或者服務(wù)器中的主存儲單元),共有64個DQ引腳。隨著數(shù)據(jù)處理速度等方面的要求不斷提高,數(shù)據(jù)傳輸量也不斷增加,傳統(tǒng)DRAM DQ引腳的數(shù)量已無法保證數(shù)據(jù)快速通過。傳統(tǒng)DRAM需要大量空間與CPU/GPU等處理器通信,同時(shí)封裝的形式看需要通過引線鍵合或PCB進(jìn)行連接,DRAM不可能對海量數(shù)據(jù)進(jìn)行并行處理。
HBM的概念
HBM(High Bandwidth Memory)意為高帶寬存儲器,是一種面向需要極高吞吐量的數(shù)據(jù)密集型應(yīng)用程序的DRAM,HBM 的作用類似于數(shù)據(jù)的“中轉(zhuǎn)站”,就是將使用的每一幀,每一幅圖像等圖像數(shù)據(jù)保存到幀緩存區(qū)中,等待GPU 調(diào)用。
HBM 在帶寬、功耗、封裝體積方面具備明顯優(yōu)勢。按照不同應(yīng)用場景,行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)組織 JEDEC 將DRAM 分為三個類型:標(biāo)準(zhǔn) DDR、移動 DDR 以及圖形 DDR,圖形 DDR 中包括 GDDR 和 HBM。相比于標(biāo)準(zhǔn)的 DDR4、DDR5 等產(chǎn)品,以 GDDR 和 HBM 為代表的圖形 DDR 具備更高的帶寬,其中HBM 在實(shí)現(xiàn)更大帶寬的同時(shí)也具備更小的功耗和封裝尺寸。
HBM 有效解決了內(nèi)存墻的問題,在中高端 GPU 中得到廣泛應(yīng)用。高帶寬存儲器HBM(Highband Memory)使用硅通孔TSV和微凸塊技術(shù)垂直堆疊多個DRAM可以顯著提升數(shù)據(jù)處理速度,性能提升的同時(shí)尺寸有所減少。2013年開始,JEDEC制定了高帶寬存儲器系列標(biāo)準(zhǔn)(包括HBM,HBM2,HBM2E,HBM3),其中,HBM3相比2代標(biāo)準(zhǔn)有顯著的提升,芯片單個引腳速率達(dá)到6.4Gbit/s,總帶寬超過1TB/s。
HBM的技術(shù)特點(diǎn)
主要可分為高速/高帶寬;更低功耗;擴(kuò)展容量
高速/高帶寬:HBM2E和HBM3的單引腳最大輸入/輸出(I/O)速度分別達(dá)3.2Gbit/s和6.4Gbit/s,低于GDDR5存儲器的7Gbit/s,但HBM的堆棧方式可通過更多的I/O數(shù)量使總帶寬遠(yuǎn)高于GDDR5,例如HBM2帶寬可以達(dá)到307 GB/s。海力士官網(wǎng)數(shù)據(jù)顯示:HBM3E的數(shù)據(jù)處理速度,相當(dāng)于可以在1s內(nèi)下載230部全高清(FHD)級電影(每部5千兆字節(jié),5GB),優(yōu)化后可用于處理人工智能領(lǐng)域的海量數(shù)據(jù)。
更低功耗:采用微凸塊和TSV技術(shù),存儲和算力芯片信號傳輸路徑短,單引腳I/O速率較低,使HBM具備更好的內(nèi)存功耗能效特性。以DDR3存儲器單引腳I/O帶寬功耗為基準(zhǔn),HBM2的I/O功耗比明顯低于DDR3/DDR4和GDDR5,相比于GDDR5存儲器,HBM2的單引腳I/O帶寬功耗比數(shù)值降低42%。
HBM制造工藝
HBM 制造工藝包括 TSV、Bumping 和堆疊等工藝環(huán)節(jié)。HBM 是由多個 DRAMdie 堆疊而成,利用硅通孔(TSV)和微凸塊(Microbump)將 die 之間相連接,多層 DRAMdie 再與最下層的 Basedie 連接,然后通過凸塊(Bump)與硅中階層(interposer)互聯(lián)。HBM 與 GPU、CPU 或 ASIC 共同鋪設(shè)在硅中階層上,通過 CoWoS 等 2.5D/3D 封裝工藝相互連接,硅中介層通過 CuBump 連接至封裝基板(Package Substrate)上,最后封裝基板再通過錫球與下方的PCB 基板相連。
HBM工藝流程中所需要的設(shè)備清單如下:
HBM堆疊核心:MR-MUF(向上堆疊方式)
SK海力士表示,通過先進(jìn)的MR-MUF堆疊技術(shù)加強(qiáng)了工藝效率和產(chǎn)品性能的穩(wěn)定性;隨著對高速高容量的需求不斷增加,散熱問題預(yù)計(jì)將成為HBM產(chǎn)品持續(xù)迭代的重大技術(shù)障礙。MR-MUF:將半導(dǎo)體芯片堆疊后,為了保護(hù)芯片和芯片之間的電路,在其空間中注入液體形態(tài)的保護(hù)材斜,并固化的封裝工藝技術(shù)。與每堆疊一個芯片鋪上薄膜型材料的方式對比,工藝效率高,散熱方面也更有效。具體步驟:1)連接芯片的微凸塊采用金屬塑封材料;2)一次性融化所有的微凸塊,連接芯片與電路;3)芯片與芯片之間或者芯片與載板之間的間隙填充,絕緣和塑封同時(shí)完成。
HBM堆疊技術(shù)發(fā)展趨勢
海力士正在加速開發(fā)新工藝“混合鍵合”,截止目前,HBM的DRAM芯片之間通過“微凸塊”材料進(jìn)行連接,通過混合鍵合,芯片可以在沒有凸塊的情況下連接,從而顯著減小芯片的厚度。當(dāng)間距小到20um以內(nèi),熱壓鍵合過程中細(xì)微傾斜使得釬料變形擠出而發(fā)生橋連短路,難以進(jìn)一步縮減互聯(lián)間距。HBM芯片標(biāo)準(zhǔn)厚度為720um,預(yù)計(jì)2026年左右量產(chǎn)的第六代HBM4需要縱向垂直堆疊16層DRAM芯片,當(dāng)前的封裝技術(shù)很難讓客戶滿意,所以混合鍵合的應(yīng)用被認(rèn)為是必然的趨勢。2023年海力士用于第三代HBM產(chǎn)品(HBM2e)測試混合鍵合技術(shù),規(guī)格低于HBM4產(chǎn)品。同時(shí)海力士擬計(jì)劃將新一代的HBM與邏輯芯片堆疊在一起,取消硅中介層。
混合鍵合的定義:混合鍵合是一種永久鍵合,將介電鍵合(siox)與嵌入式金屬(Cu)結(jié)合起來互聯(lián),形成電介質(zhì)和金屬-金屬鍵。使用緊密嵌入電介質(zhì)中的微小銅焊盤可以提供比銅微凸塊多1000倍的I/O連接。支持3D封裝和先進(jìn)的存儲立方體更高的互連密度。混合鍵合可以實(shí)現(xiàn)低于10um的鍵合間距,當(dāng)接近10u尺寸時(shí)帶有焊錫尖端的銅凸塊會遇到可靠性問題,從而導(dǎo)致轉(zhuǎn)向混合鍵合。
新一代HBM材料-LMC
根據(jù)《我國集成電路材料專題系列報(bào)告》,超90%的集成電路采用環(huán)氧塑封料(Epoxy Molding Compound,簡稱EMC)作為包封材料。環(huán)氧塑封料可分為餅狀、片狀、顆粒狀(GMC)和液態(tài)(LMC)四種。其中,餅狀環(huán)氧塑封料主要用于傳統(tǒng)封裝,采用傳遞成型法對芯片實(shí)現(xiàn)包封;后三者主要用于先進(jìn)封裝。片狀、GMC和LMC采用壓縮法實(shí)現(xiàn)芯片包封。其中GMC具有操作簡單、工時(shí)較短、成本較低等優(yōu)勢;LMC具備可中低溫固化、低吸水率以及高可靠性等優(yōu)點(diǎn)。LMC可應(yīng)用于HBM封裝中。SK海力士在其HBM3產(chǎn)品上采用了MR-MUF(Mass Reflow-Molded Underfil)技術(shù),大幅提高了散熱性能。然而,相比固態(tài)EMC,LMC填料含量低。
來源: 光學(xué)與半導(dǎo)體綜研*博客內(nèi)容為網(wǎng)友個人發(fā)布,僅代表博主個人觀點(diǎn),如有侵權(quán)請聯(lián)系工作人員刪除。