先柵極還是后柵極 業(yè)界爭(zhēng)論高K技術(shù)
隨著晶體管尺寸的不斷縮小,HKMG(high-k絕緣層+金屬柵極)技術(shù)幾乎已經(jīng)成為45nm以下級(jí)別制程的必備技術(shù).不過(guò)在制作HKMG結(jié)構(gòu)晶體管的 工藝方面,業(yè)內(nèi)卻存在兩大各自固執(zhí)己見的不同陣營(yíng),分別是以IBM為代表的Gate-first(先柵極)工藝流派和以Intel為代表的Gate-last(后柵極)工藝流派,盡管兩大陣營(yíng)均自稱只有自己的工藝才是最適合制作HKMG晶體管的技術(shù),但一般來(lái)說(shuō)使用Gate-first工藝實(shí)現(xiàn)HKMG結(jié)構(gòu)的難點(diǎn)在于如何控制 PMOS管的Vt電壓(門限電壓);而Gate-last工藝的難點(diǎn)則在于工藝較復(fù)雜,芯片的管芯密度同等條件下要比Gate-first工藝低,需要設(shè) 計(jì)方積極配合修改電路設(shè)計(jì)才可以達(dá)到與Gate-first工藝相同的管芯密度級(jí)別。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/111062.htmGate-last陣營(yíng):目前已經(jīng)表態(tài)支持Gate-last工藝的除了Intel公司之外(從45nm制程開始,Intel便一直在制作HKMG晶體管時(shí)使用Gate-last工藝),主要還有芯片代工業(yè)的最大巨頭臺(tái)積電,后者是最近才決定在今年推出的28nm HKMG制程產(chǎn)品中啟用Gate-last工藝。
Gate-first陣營(yíng):Gate-first工藝方面,支持者主要是以IBM為首的芯片制造技術(shù)聯(lián)盟 Fishkill Alliance的所屬成員,包括IBM,英飛凌,NEC,GlobalFoundries, 三星,意法半導(dǎo)體以及東芝等公司,盡管該聯(lián)盟目前還沒有正式推出基于HKMG技術(shù)的芯片產(chǎn)品,但這些公司計(jì)劃至少在32/28nm HKMG級(jí)別制程中會(huì)繼續(xù)使用Gate-first工藝,不過(guò)最近有消息傳來(lái)稱聯(lián)盟中的成員三星則已經(jīng)在秘密研制Gate-last工藝(有關(guān)內(nèi)容詳見這個(gè)鏈接)。另外,臺(tái)灣聯(lián)電公司的HKMG工藝方案則較為特殊,在制作NMOS管的HKMG結(jié)構(gòu)時(shí),他們使用Gate-first工藝,而制作PMOS管時(shí),他們則會(huì)使用Gate-last工藝。
不管使用Gate-first和Gate-last哪一種工藝,制造出的high-k絕緣層對(duì)提升晶體管的性能均有重大的意義。high-k技術(shù)不僅能夠大幅減小柵極的漏電量,而且由于high-k絕緣層的等效氧化物厚度(EOT:equivalent oxide thickness)較薄,因此還能有效降低柵極電容。這樣晶體管的關(guān)鍵尺寸便能得到進(jìn)一步的縮小,而管子的驅(qū)動(dòng)能力也能得到有效的改善。
不過(guò),采用Gate-first工藝制作HKMG結(jié)構(gòu)時(shí)卻有一些難題需要解決。一些專家認(rèn)為,如果采用Gate-first工藝制作HKMG,那么由于用來(lái)制作high-k絕緣層和制作金屬柵極的材料必須經(jīng)受漏源極退火工步的高溫,因此會(huì)導(dǎo)致PMOS管Vt門限電壓的上升,這樣便影響了管子的性能。而持不同觀點(diǎn)的專家,包括GlobalFoundries公司的技術(shù)總監(jiān)John Pellerin等人則強(qiáng)調(diào)Gate-first工藝不需要電路設(shè)計(jì)方在電路設(shè)計(jì)上做太多更改,而且性能上也完全能夠滿足32/28nm節(jié)點(diǎn)制程的要求。
評(píng)論