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富士通攜手東京工業(yè)大學開發(fā)256M FeRAM

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作者: 時間:2006-08-09 來源:www.ednchina.com 收藏
       富士通微電子(上海)有限公司日前宣布,東京工業(yè)大學(Tokyo-Tech)、富士通實驗室(Fujitsu Laboratories Ltd.)和富士通有限公司已經(jīng)聯(lián)合開發(fā)出一種用于新一代非易失鐵電隨機(Ferroelectric Random Access Memory, FeRAM)的新型材料。 這種鉍、鐵、氧元素的合成材料(BiFeO3或BFO),能使數(shù)據(jù)存儲容量達到目前FeRAM生產(chǎn)中使用的材料的五倍。
 
       使用基于BFO的材料,在類似于采用180nm技術(shù)制造FeRAM的裝置內(nèi),采用富士通的65nm工藝技術(shù)就可以生產(chǎn)出新的FeRAM。這種材料的使用,可以將FeRAM的記憶容量擴展到256M bit。 

       鑒于新一代個人化移動電子產(chǎn)品(例如IC卡)必須具有小巧、安全、易于操作等特點,新的FeRAM將在功耗和速度方面有大幅的改善,以便滿足此種需要。 對于這類電子產(chǎn)品來說,F(xiàn)eRAM技術(shù)可以提供最適合的非易失記憶設備,預計樣品將會在2009年發(fā)布。 

       關(guān)于富士通新款FeRAM材料 

       BFO是由鉍、鐵和氧原子構(gòu)成的具有鈣鈦礦型結(jié)構(gòu)的鐵電材料。目前普遍使用的鐵電材料是鋯鈦酸鉛(PZT或Pb(Zr,Ti)O3),但是,它的蓄電能力低,可升級性有限。PZT的技術(shù)局限在130nm節(jié)點就會反映出來,因為隨著存儲單元區(qū)的減少,對極化的要求就越高。這個技術(shù)局限預計將在2009年出現(xiàn)。以前曾開發(fā)過一種加入錳的BFO薄膜電容器,它能夠減少泄漏電流 ,并具有180-220 µC/cm2的交換電(switching charge) Qsw, 這相當于剩余極化2Pr的兩倍。 這些都充分顯示了將來在技術(shù)節(jié)點方面巨大的升級潛力。 

       采用65nm技術(shù)制造的FeRAM可以使用加入錳的BFO來制造,其生產(chǎn)設備與當前使用180nm技術(shù)生產(chǎn)FeRAM所用的類似。使用這種新材料的FeRAM還具有極大的可升級性,能夠使存儲容量達到2014。 

       應用 

       隨著對BFO的深入開發(fā),大容量的256Mbit FeRAM可以得到實現(xiàn),這種FeRAM與現(xiàn)有的1Mbit容量相比,密度將會高出2個等級。密度的提高,使得FeRAM的應用將在新的領(lǐng)域(例如,快速啟動,它使計算機在開機后能夠立刻使用)得到擴展,而不再僅限于在安全應用領(lǐng)域。FeRAM還可以用于電子紙設備,該設備能讓用戶瀏覽和閱讀傳統(tǒng)上印刷在紙張上的大量信息。富士通將會繼續(xù)其開發(fā)和研究計劃,以便將來能夠進行嵌入式大規(guī)模集成( LSI)。 而關(guān)于BFO材料以及BFO電容器的制造技術(shù)的研究也會持續(xù)下去。

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