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一種微型存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計

作者: 時間:2012-02-08 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

摘要:在進行某武器系統(tǒng)檢測時,由于受測試空間和測試環(huán)境的限制,難以利用傳統(tǒng)測試儀器檢測。為解決這一問題,了一種基于MSP4 30單片機的,有效利用單片機內(nèi)置的多種資源解決系統(tǒng)化的關(guān)鍵問題;采用大容量器實現(xiàn)系統(tǒng)的大數(shù)據(jù)量本地;通過對系統(tǒng)采樣存儲策略的優(yōu)化,確保了數(shù)據(jù)的完整性與準(zhǔn)確性;開發(fā)了基于LabWindows/CVI的上位機處理軟件。實驗結(jié)果表明,該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠,能夠準(zhǔn)確有效地進行信號采集與存儲,并獲取相應(yīng)參數(shù)。
關(guān)鍵詞:存儲測試;MSP430單片機;大容量存儲;LabWindows/CVI

在空間受限、環(huán)境惡劣和無法實時傳輸數(shù)據(jù)的情況下,傳統(tǒng)測試技術(shù)受到很大限制,必須使用存儲測試方法。該方法是在不影響被測對象或影響在允許范圍內(nèi)的情況下,將存儲置入被測體內(nèi),現(xiàn)場實時完成信息的快速采集與存儲,并回收存儲器,由計算機處理,再現(xiàn)被測信息的一種動態(tài)測試技術(shù)。本文的微型存儲是基于MSP430F149單片機,結(jié)合大容量串行FLASH存儲器Multimedia Card(MMC),通過對單片機內(nèi)部資源的優(yōu)化利用、外設(shè)的開發(fā)、采樣與存儲策略設(shè)計,實現(xiàn)了系統(tǒng)的微型化、低功耗、多路數(shù)據(jù)采集和大數(shù)據(jù)量本地存儲設(shè)計。針對該系統(tǒng)開發(fā)了基于LabWindows/CVI的專用測試平臺,用于對收回數(shù)據(jù)進行分析處理,有效解決了在測試空間和環(huán)境受限的情況下對該武器系統(tǒng)的測試問題。該系統(tǒng)理論上可以對多達16×8路模擬量進行采集、處理和存儲,并可繼續(xù)開發(fā)為具有故障診斷性質(zhì)的存儲測試系統(tǒng)。

1 系統(tǒng)總體方案設(shè)計
微型存儲測試系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。它由外部傳感器、多路模擬量采集電路、大容量存儲器、MSP430F149單片機以、各接口電路以及外圍輔助電路組成。不同的被測信號經(jīng)調(diào)理后經(jīng)模擬量多路開關(guān)MAX396輸入單片機,利用內(nèi)置AD模塊轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,交由單片機進一步處理。存儲測試系統(tǒng)的存儲模塊主要有兩部分組成,即單片機內(nèi)部的FLASH ROM和外部MMC卡,分別用于存儲被測武器系統(tǒng)初始狀態(tài)的數(shù)據(jù)和執(zhí)行任務(wù)狀態(tài)的數(shù)據(jù)。系統(tǒng)通過RS 232接口電路與上位機進行通信,接收上位機傳來的控制指令,并可將采集結(jié)果上傳至上位機進行相關(guān)數(shù)據(jù)處理。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/172156.htm

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2 系統(tǒng)各模塊設(shè)計
2.1 數(shù)據(jù)采集模塊設(shè)計
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)以MSP430F149單片機為核心,MSP430F149的A/D模塊ADC12的內(nèi)核是一個帶有采樣與保持功能的12位轉(zhuǎn)換器,采樣所得結(jié)果具有12位轉(zhuǎn)換精度,1位非線性微分誤差,1位非線性積分誤差。模塊內(nèi)部的參考電壓發(fā)生器,同時有1.5 V和2.5 V兩種參考電壓值可供選擇。為獲得較高的精度,故選用2.5 V內(nèi)部參考電壓,基準(zhǔn)電壓負端為地電平。輸入模擬量VIN與轉(zhuǎn)換結(jié)果NADC之間的關(guān)系為:
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根據(jù)測試任務(wù),需要掌握兩方面數(shù)據(jù)資料。一是被測武器系統(tǒng)進入執(zhí)行任務(wù)狀態(tài)前的系統(tǒng)狀態(tài);二是被測武器系統(tǒng)處于執(zhí)行任務(wù)狀態(tài)時的系統(tǒng)狀態(tài)。為了有效提高了單次測試的可靠性,最大限度提高了系統(tǒng)的可利用性,提出分別采用正負延遲觸發(fā)的采樣策略,將這2種信號觸發(fā)方式分別作為兩路信號采集的觸發(fā)信號。圖2為該采集方法的電路原理圖。


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