用于時(shí)間交織ADC的高精度開(kāi)環(huán)跟蹤保持電路設(shè)計(jì)

0 引言

隨著數(shù)字通信系統(tǒng)的發(fā)展，高速數(shù)字處理系統(tǒng)對(duì)模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)之間的轉(zhuǎn)換要求越來(lái)越高。目前高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的兩大主要發(fā)展方向是高速、中低精度ADC和低速、高精度ADC。前端TH電路通常是ADC設(shè)計(jì)的一個(gè)關(guān)鍵，其動(dòng)態(tài)精度的好壞直接影響著ADC性能的優(yōu)劣。

　　1 開(kāi)環(huán)TH電路

　　在超高速ADC的設(shè)計(jì)中，一般多采用全并行Flash結(jié)構(gòu)或者是時(shí)間交織結(jié)構(gòu)。

　　而在時(shí)間交織結(jié)構(gòu)中，其前端TH電路則可以根據(jù)設(shè)計(jì)要求分別采用開(kāi)環(huán)或者閉環(huán)結(jié)構(gòu)。閉環(huán)結(jié)構(gòu)速度較低，精度較高，而開(kāi)環(huán)結(jié)構(gòu)速度高，但本身精度較低。本設(shè)計(jì)中采用后者。

　　TH電路的失真主要來(lái)源于非線性MOS開(kāi)關(guān)電阻、開(kāi)關(guān)寄生電容和開(kāi)關(guān)電荷注入。MOS開(kāi)關(guān)導(dǎo)通電阻的非線性在跟蹤信號(hào)時(shí)產(chǎn)生的失真，也限制了電路跟蹤和建立時(shí)間。因此，在超高速TH電路中，輸入采樣開(kāi)關(guān)必須具有較低且近乎恒定的導(dǎo)通電阻。

　　圖1所示是開(kāi)環(huán)TH電路的結(jié)構(gòu)，該電路主要包括采樣開(kāi)關(guān)、采樣電容和輸出緩沖器三個(gè)部分。為了解決開(kāi)環(huán)電路本身線性度差的問(wèn)題，本文采用了自舉開(kāi)關(guān)技術(shù)和加強(qiáng)型緩沖器技術(shù)。自舉采樣開(kāi)關(guān)可提高開(kāi)關(guān)導(dǎo)通電阻的線性度，且差分結(jié)構(gòu)可以降低電荷注入，改善電路性能；而后端的加強(qiáng)型緩沖器技術(shù)則提高了帶寬和增益，降低了管子尺寸和功耗，最終達(dá)到提高開(kāi)環(huán)TH電路精度的目的。

　　2 自舉采樣開(kāi)關(guān)

　　由于采樣開(kāi)關(guān)在導(dǎo)通時(shí)可等效為一個(gè)非線性電阻，它會(huì)引入噪聲和非線性失真，因此，采樣開(kāi)關(guān)的線性度直接影響著TH電路的精度?，F(xiàn)在應(yīng)用中的高線性度開(kāi)關(guān)主要有互補(bǔ)MOS開(kāi)關(guān)和自舉采樣開(kāi)關(guān)。