世界仍是模擬的（上）

ADI公司的工程師們對放大器、轉(zhuǎn)換器和RF器件進(jìn)行著嚴(yán)格的測試，以使消費電子和工業(yè)產(chǎn)品能夠正常工作。

　　許多人都說：“我們生活在一個數(shù)字化的世界”，但是你不能對美國模擬器件公司（Analog Devices Inc., 簡稱ADI）的工程師說這樣的話。在麻薩諸塞州威爾明頓的公司廠房里，工程師們對用于移動電話、基站、音頻設(shè)備、儀器及其他許多“數(shù)字”產(chǎn)品的模擬信號處理的試生產(chǎn)集成電路進(jìn)行著測試。

　　威爾明頓工廠包括一條生產(chǎn)工程設(shè)計原型和成品晶圓的完整的晶圓生產(chǎn)線。工程設(shè)計集成電路的組裝在威爾明頓工廠進(jìn)行，或者交給第三方承包商的工廠。成品晶圓是在全球各地的其他工廠進(jìn)行組裝的。 　　

在為生產(chǎn)運算放大器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）、模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）、音頻編碼器/解碼器（CODEC），或者RF集成電路作好準(zhǔn)備之前，必須等待產(chǎn)品工程師幾個星期的測試時間。這些工程師需要對列入數(shù)據(jù)資料的器件的所有規(guī)格進(jìn)行測試，同時也需要進(jìn)行他們認(rèn)為必要的其他測試。測試結(jié)果經(jīng)常成為數(shù)據(jù)資料中公布的“典型”性能特征。在完成了一次評估后，產(chǎn)品工程師需要撰寫30至40頁的測試報告。

　　每個試生產(chǎn)集成電路都需要一塊評估板，以便向工程師提供接入信號引腳和編程寄存器。這個評估板通常包括通信端口，例如與一臺個人電腦進(jìn)行通信的USB端口。產(chǎn)品工程師有責(zé)任開發(fā)一個評估板。在我訪問威爾明頓工廠期間，我聽到了一句人們經(jīng)常掛在嘴邊的關(guān)于產(chǎn)品評估的話：“是評估板還是被測器件引起了這個問題？”通常情況下，工程師必須經(jīng)過一個過程來確定問題究竟出在哪里。

　　在最初測試一個產(chǎn)品時，工程師需要利用人工控制的臺式儀器對被測器件（DUT）進(jìn)行測試。一旦他們確信元件功能正常，他們通常會在臺式儀器上運行自主測試軟件進(jìn)行自動測試，或者是將評估板連接到自動測試機柜上進(jìn)行測試。最后，他們還要使用生產(chǎn)自動測試設(shè)備（ATE）對器件進(jìn)行一系列溫度和電源電壓方面的測試。這個ATE系統(tǒng)是由ADI公司以前的一個部門開發(fā)的，而該公司現(xiàn)在完全致力于設(shè)計和生產(chǎn)集成電路。

　　運算放大器、分離器、濾波器應(yīng)有盡有

　　Francisco Santos是高速放大器組的產(chǎn)品開發(fā)工程設(shè)計經(jīng)理，他的工程小組負(fù)責(zé)高速的低失真放大器、視頻濾波器、有源RF分離器、電纜驅(qū)動器、均衡器和ADSL線路驅(qū)動器等產(chǎn)品的評估。

　　Santos小組中的工程師對AD8099進(jìn)行了評估，這是一種低噪聲、低失真的高速運算放大器，具有3.8GHz增益帶寬。由于ADI公司每年都要開發(fā)數(shù)不勝數(shù)的放大器，工程師們?yōu)楣こ淘O(shè)計實驗室開發(fā)了若干個自動測試系統(tǒng)。其中的一個系統(tǒng)是對運算放大器的一個重要規(guī)范——總諧波失真進(jìn)行測試。“我們的低失真運算放大器的失真范圍能夠達(dá)到測試信號基頻的140dB以下”，Santos表示，“所以我們的儀器的背景噪聲就顯得非常重要了。我們不需要對來自儀器的噪聲進(jìn)行測量。”

　　在人工執(zhí)行測量時，諧波失真測量可能需要花幾個星期的時間，但是現(xiàn)在，像Greg DiSanto這樣的工程師可以利用實驗室的自動測試臺在幾個小時內(nèi)完成測試。DiSanto需要對THD與頻率、振幅、電源電壓和共模電壓等的關(guān)系進(jìn)行特征描述。這個測試臺采用了Stanford Research的信號源來產(chǎn)生高達(dá)200kHz的測試頻率，同時也采用了Rohde Schwarz的一個高頻單元。在對視頻放大器進(jìn)行特征描述時，兩個信號源可在設(shè)置于3dB點的可選低通濾波器上產(chǎn)生2個Vp-p正弦波形。來自Allen Avionics的低通濾波器——通過18GHz RF開關(guān)連接到Keithley的儀器上——在這些儀器連接到被測器件之前就消除了諧波。更多的RF開關(guān)把被測器件的輸出端連接到濾波器上，該濾波器包括一臺Agilent Technologies的頻譜分析儀，有助于測量由二次和三次諧波引起的失真。

　　工程師們也對輸入信號的直流偏壓進(jìn)行了調(diào)整，尋找引起失真的限幅點。“開環(huán)增益損失引起了失真，”Santos說，“我們需要調(diào)整輸入信號的偏壓，直到我們找到使運算放大器的輸出級飽和的電壓為止。”

　　Santos小組中的工程師們也對有源視頻分離器，如ADA4302-4 1∶4分離器進(jìn)行了評估。產(chǎn)品工程師Frank Ciarlone的自動測試臺對復(fù)合二次（CSO，composite second-order）失真、復(fù)合三次差拍（CTB，composite triple-beat）失真，以及交叉調(diào)制（XMOD，cross-modulation）失真進(jìn)行了測量。該信號發(fā)生器是由Matrix Test Equipment公司開發(fā)的，它包括可以在55.25MHz至865.25MHz頻率條件下產(chǎn)生135個正弦波形的各種頻率源。工程師利用一個75歐的負(fù)載終止了一個輸出，并把其他輸出連接到一個可編程帶阻濾波器上。一個75歐至50歐寬頻帶的低插入損失變壓器用來與一臺Rohde Schwarz的頻譜分析儀的輸入阻抗進(jìn)行匹配。


　　　　為了描述CSO和CTB的特征，Ciarlone測量了由135個通道產(chǎn)生的互調(diào)分量。被測器件的輸出端的帶阻濾波器消除了帶外載波。他通過調(diào)制對一個有意義通道以外的所有通道進(jìn)行了XMOD測量，并測量了非調(diào)制通道頻帶中的“溢出”。“我們能夠在很短的時間內(nèi)得到我們所需的所有通道的數(shù)據(jù)，”Ciarlone表示，“而且能夠?qū)Ψ蛛x器進(jìn)行充分的評估。”

　　高速放大器組的工程師們利用Agilent Vee來控制總諧波失真和分離器測試設(shè)備。他們還自動進(jìn)行了若干其他測量，例如使用Agilent和Rohde Schwarz的頻譜分析儀進(jìn)行的噪聲光譜密度測量，以及使用Agilent的網(wǎng)絡(luò)分析儀和Keithley的RF開關(guān)進(jìn)行的視頻濾波器頻率響應(yīng)和群延遲測量。


　　DAC與ADC

　　以其DAC和ADC而聞名的ADI公司生產(chǎn)用于移動電話和基站、儀器設(shè)備和嵌入式系統(tǒng)的元件。產(chǎn)品工程師Justin Munson和Gina Colangelo需要對高速DAC進(jìn)行測試。Munson專注于那些使用低壓差分信號（LVDS）數(shù)字輸入的元件，而Colangelo則專注于使用單端、CMOS數(shù)字輸入的DAC。

　　最近，Munson剛剛完成對AD9736的評估，它是一個1.2Gsps的14位DAC。目前，他正在對一個更加高速的元件進(jìn)行評估。他需要測量噪聲光譜密度（NSD）、總諧波失真、非寄生動態(tài)范圍（SFDR）、互調(diào)失真（IMD）、相鄰頻道功率、位至位相位差、線性和功耗。測試信號包括單音和雙音正弦波形。Agilent ParBERT可產(chǎn)生數(shù)字信號，并可提供14對差分信號。

　　在對AD9736進(jìn)行評估時，Munson分別以600Msps、800Msps、1Gsps和1.2Gsps的速度對器件進(jìn)行了測試。在1Gsps測試中，Munson對ParBERT進(jìn)行了編程，覆蓋了從DC達(dá)490MHz的范圍，正好是在500MHz的尼奎斯特（Nyquist）頻率之下。

　　“當(dāng)你對運行速度超過1Gsps的DAC進(jìn)行評估的時候，”Munson說，“你的評估板的布局非常關(guān)鍵。評估板或被測器件的隔離問題經(jīng)常是很棘手的。一個評估板需要有良好的電源退耦裝置，而其數(shù)字布線需要與模擬布線隔離開來。”

　　例如AD9736這樣的DAC就有不同的模擬輸出，這將有助于最大限度地減少由接地環(huán)路引起的系統(tǒng)誤差。這對那些把該器件用在系統(tǒng)內(nèi)的工程師非常有益，但是它也導(dǎo)致了比單端輸出測試更大的難度。Munson的評估中使用的是變壓器負(fù)載而不是放大器負(fù)載。

　　他說：“變壓器負(fù)載使它對DAC的評估變得更加容易，因為它們可以將差分輸出變成單端輸出，而不必?fù)?dān)心放大器輸出級出現(xiàn)附加的非線性。”Munson發(fā)現(xiàn)，由于每個變壓器的工作帶寬的局限性，他需要一臺以上的變壓器對DAC進(jìn)行充分的測試。

　　對Colangelo來說，她評估的AD9779這樣的DAC是采用單端CMOS輸入的。她采用了與Munson一樣的測量方法。“一些用戶對高速LVDS接口的DAC還沒有充分的認(rèn)識，以至于他們選擇了一個CMOS接口的DAC來增加數(shù)字功能，”Colangelo說。 LVDS接口的DAC的輸入數(shù)據(jù)能夠以高達(dá)300Msps的傳輸速率運行。為了產(chǎn)生單端測試信號，Colangelo使用了ADI公司開發(fā)的圖形發(fā)生器。

　　AD9779主要用于移動基站，它包括兩個可以產(chǎn)生I/Q調(diào)制信號的DAC。用戶能夠關(guān)斷器件來降低功耗，例如，當(dāng)一部手機不發(fā)送信號時，就可以關(guān)斷DAC核的供電。

　　AD9779采用數(shù)字濾波器實現(xiàn)器件平滑的模擬輸出。數(shù)字濾波器需要自身時鐘，但是這些時鐘可能增加DAC模擬輸出的失真。將時鐘與模擬電路隔離開來是集成電路設(shè)計人員和產(chǎn)品工程師面對的一個挑戰(zhàn)。“我們不僅僅是對器件進(jìn)行測試，”Colangelo說，“而且還要對評估板進(jìn)行測試。如果你斷掉一個器件的DAC部分的電源，而沒有斷掉數(shù)字控制部分的電源，那么在用一臺頻譜分析儀測量其輸出時，你應(yīng)該不會看見任何偽信號。否則，你的評估板就可能有問題。”