新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術(shù) > 設(shè)計應(yīng)用 > 大功率電源IGBT損壞的問題成因探討

大功率電源IGBT損壞的問題成因探討

作者: 時間:2018-08-13 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

隨著市場對大功率供電設(shè)備需求日益激增,不間斷開始發(fā)揮越來越重要的作用。設(shè)備性能的好壞直接影響大功率的供電效率。一般來說,較為成熟的設(shè)計出現(xiàn)的機率非常小,一旦的情況出現(xiàn),那么多半是由老化或者內(nèi)部線纜斷裂造成的,本文將為大家探討大功率IGBT的問題。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201808/386419.htm

成熟的IGBT產(chǎn)品一般基于長期的驗證和反饋調(diào)整,通常是非??煽康?。出現(xiàn)的故障多是由于隨機因素,或者是不可抗的老化等因素。而不成熟的產(chǎn)品則一定要在早期方案論證階段考慮充分。尤為重要的是,要依靠對元器件物理特性,技術(shù)方案的理論實質(zhì)等關(guān)鍵點的認(rèn)識。確保解決方案的后繼可調(diào)整范圍,能夠滿足各種應(yīng)用條件多樣性和器件參數(shù)分布離散性的需要。保證產(chǎn)品能夠在可控范圍內(nèi)改進(jìn),而不至于被迫做出顛覆性的調(diào)整。

還有一種變相的IGBT損壞,其保護(hù)電路完好,在更換了IGBT之后性能值標(biāo)恢復(fù)正常,這種情況有可能是元件老化和失效造成的。當(dāng)然,這其中也不排除工藝安裝方面的問題,一些有經(jīng)驗的工程師則認(rèn)為,是IGBT工作區(qū)間的中心參數(shù)或特性設(shè)置出現(xiàn)了問題,或者說參數(shù)分布區(qū)間的控制不合理。

考慮到器件參數(shù)的離散性,就總會有一些處于最差情況下的IGBT要承受更大的沖擊。導(dǎo)致老化加速而更容易損壞。比如,由于上述原因最終導(dǎo)致的;關(guān)斷尖峰較大(可能是狀態(tài)不穩(wěn)定導(dǎo)致在一些條件下出現(xiàn)較大尖峰,而不一定是每時每刻都較其他的IGBT大。)

引起的齊納擊穿損傷(高頻的過壓不一定一次導(dǎo)致?lián)p壞。也會像靜電損傷那樣累積性的性能下降?;蛘哒f是加快老化。)再或者是開關(guān)速度較低,導(dǎo)致的IGBT溫度相對較高而加速老化。

當(dāng)然,換一個全新的設(shè)備肯定會解決大部分的IGBT損壞問題。但這種方式并不能解決所有問題,更重要的是搞清損壞的原因和修理方法。本文雖然沒有給出非常詳細(xì)的問題解決方案,但是卻為設(shè)計者們提供了多種的問題成因,在了解這些成因之后相信大家能夠更加熟練的運用IGBT。



關(guān)鍵詞: 電源 IGBT 大功率電源 損壞

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉