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基于FPGA動態(tài)可重構技術的二模冗余MIPS處理器

作者:何凱成 施慧彬 時間:2014-02-14 來源:摘自《電子發(fā)燒友》 收藏

  引言

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/221555.htm

  現(xiàn)場可編程門陣列(Field Programmable Gate Array, )是基于的一種硬件電路可重配置電子邏輯器件,可通過將硬件描述語言編譯生成的硬件配置比特流編程到中,而使其硬件邏輯發(fā)生改變。 在電子設計中的靈活性和通用性使其在航天、通信、醫(yī)療和工控等重要領域得到了廣泛的應用。然而,F(xiàn)PGA中的硬件邏輯電路容易受到SEU(Single Event Upset)和SETs(Single Event Transients)故障的影響,從而導致系統(tǒng)失效。FPGA電路失效降低了基于FPGA的嵌入式系統(tǒng)的穩(wěn)定性和壽命,同時會嚴重限制它在生產和生活各個方面的應用范圍。系統(tǒng)備份、系統(tǒng)故障恢復和系統(tǒng)多模冗余設計是防止系統(tǒng)失效的有效方法。FPGA動態(tài)局部可重構技術是一種可應用于系統(tǒng)故障恢復的新興技術,它可以在FPGA系統(tǒng)運行的過程中,動態(tài)地改變FPGA內部的部分邏輯電路塊的邏輯功能,同時又不會影響其他邏輯的正常運轉;二模冗余技術是一種典型的系統(tǒng)冗余容錯設計方法,它為系統(tǒng)的重要模塊設置備份模塊,保證系統(tǒng)出現(xiàn)故障時依然可以穩(wěn)定可靠地運轉。基于上述思想,本文設計了一種基于FPGA動態(tài)可重構技術的二模冗余處理器。

  1 總體方案

  Xilinx 公司的XC5VLX110T開發(fā)板是一個內含ML509芯片、具備內部邏輯塊可動態(tài)配置能力的FPGA開發(fā)板。Verilog是一種結構化可綜合的硬件描述語言,通過它可以很快地實現(xiàn)數(shù)字邏輯電路的結構級系統(tǒng)建模。本文以Xilinx公司的XC5VLX110T開發(fā)板作為系統(tǒng)開發(fā)平臺,以Verilog語言開發(fā)了一種基于二模冗余結構的處理器系統(tǒng)。系統(tǒng)整體結構如圖1所示。

  系統(tǒng)的主要組成部分如表1所列。

  IMEM 是一個采用Xilinx公司IP生成器生成的FPGA內建,由于處理器運行過程中不會改變指令的內容,所以它被設計為無時鐘門控的單端口只讀,存放MIPS處理器系統(tǒng)要執(zhí)行的指令。IMEM的數(shù)據(jù)位寬為32位,存儲深度為1 024。DMEM同樣也是使用IP生成器生成的存儲器,它存放MIPS處理器執(zhí)行過程中所需的數(shù)據(jù),是具有時鐘邊沿控制和使能控制的可讀寫單端口存儲器。 DMEM的數(shù)據(jù)位寬為32位,存儲深度為1 024。MIPS模塊是一個包含完整數(shù)據(jù)通路、ALU和控制邏輯的使用Verilog語言描述的單周期MIPS處理器,它的指令集大小為32,所有的指令均為整型操作指令。此處理器模塊含有指令存儲器和數(shù)據(jù)存儲器外部接口,它是系統(tǒng)核心模塊,所以被設計為FPGA中的可重構區(qū)域。ERR_VERIF模塊是故障檢測模塊,它能對兩MIPS系統(tǒng)的執(zhí)行結果進行對比,并生成相應的故障控制信號;模塊也稱為內建自測試模塊,只有系統(tǒng)發(fā)生故障時,此模塊才啟動運行。它用來測試各子系統(tǒng)的正確性,并輸出測試結果。

  在圖1中,以虛線框起來的部分為FPGA中的可重構區(qū)域。圖中有兩個可重構區(qū)域,上一個區(qū)域為主子系統(tǒng)區(qū),下面一個區(qū)域為主子系統(tǒng)區(qū)的備份區(qū)。

  2 工作原理

  系統(tǒng)上電復位后,在兩MIPS內部邏輯均正常的情況下,系統(tǒng)執(zhí)行過程為:指令存儲器根據(jù)系統(tǒng)復位后的指令執(zhí)行地址將指令從IMEM中取出,送入兩個MIPS 系統(tǒng)中;兩個MIPS處理器分別在指令的指示下完成相應的工作,然后將執(zhí)行結果輸出到ERR_VERIF模塊、DMEM和IMEM模塊;ERR_VERIF模塊分析系統(tǒng)是否正常運轉,然后將分析結果信息輸出到FPGA上的LED燈A上。

  當其中一個MIPS處理器的內部邏輯發(fā)生故障時,可假定為圖1中上方的主MIPS區(qū)域故障。系統(tǒng)執(zhí)行過程為:ERR_VERIF故障檢測模塊檢測到系統(tǒng)的子區(qū)域出現(xiàn)故障,然后發(fā)出故障位置檢測控制信號;此時,模塊接收到檢測控制信息后,啟動內建自測試系統(tǒng),將故障測試向量輸入MIPS系統(tǒng)。在開啟了 模塊后,系統(tǒng)的指令輸入將不再來自IMEM模塊,而是由BIST模塊提供。同時,指令的執(zhí)行結果也不會寫回到DMEM模塊中,而是反饋到BIST 模塊中。MIPS根據(jù)測試向量進行運算,然后將運算結果反饋給BIST單元。BIST單元的測試要進行多次,以確保對故障的準確判斷。BIST得到執(zhí)行結果后,對測試結果進行分析并判定當前MIPS系統(tǒng)是否正常運行,最后分別將分析結果輸出到FPGA上的LED燈B、C上。

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關鍵詞: FPGA SRAM MIPS 存儲器 BIST

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