新聞中心

EEPW首頁(yè) > EDA/PCB > 市場(chǎng)分析 > EUV遭受新挫折 半導(dǎo)體10nm工藝步伐蹉跎

EUV遭受新挫折 半導(dǎo)體10nm工藝步伐蹉跎

作者: 時(shí)間:2014-02-26 來(lái)源:中國(guó)電子報(bào) 收藏
編者按:當(dāng)半導(dǎo)體工藝發(fā)展到10nm水平時(shí),傳統(tǒng)的光刻工藝將面臨前所未有的挑戰(zhàn),所有經(jīng)典物理的規(guī)律在量子水平下都有可能失效,必須在硅材料之外尋找一種新的、實(shí)用的思路來(lái)進(jìn)一步延續(xù)集成電路的發(fā)展。

  ASML的量產(chǎn)型光刻機(jī)在TSMC現(xiàn)場(chǎng)初試時(shí)出現(xiàn)失誤。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/233885.htm

  在2014年加州SanJose舉行的先進(jìn)光刻技術(shù)會(huì)議上TSMC演講中透露此消息,由于光源內(nèi)的激光機(jī)械部分出現(xiàn)異位導(dǎo)致光源破裂。因此光刻機(jī)停擺。TSMC的下一代光刻部經(jīng)理JackChen證實(shí)僅是激光的機(jī)械部分故障。

  ASML/Cymer計(jì)劃迅速解決問(wèn)題,按Chen的看法,EUV仍有希望。盡管EUV光刻出現(xiàn)問(wèn)題但是TSMC計(jì)劃在節(jié)點(diǎn)時(shí)能用上EUV。

  近期EUV光刻機(jī)出現(xiàn)一系列的問(wèn)題被曝光。有些專(zhuān)家認(rèn)為在TSMC現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)的光源故障對(duì)于EUV的實(shí)用性,尤其是對(duì)于未來(lái)的量產(chǎn)型EUV光刻機(jī)客戶(hù)會(huì)產(chǎn)生疑惑,可能會(huì)延續(xù)一段時(shí)間。

  目前對(duì)于EUV光刻機(jī)的問(wèn)題集中在光源,實(shí)際上尚有不少問(wèn)題待解決,如EUV的掩膜與光刻膠等。

  光源問(wèn)題

  ASML的第一代量產(chǎn)型EUV光刻機(jī)NXE;3300B近期己運(yùn)抵TSMC。而Intel,Samsung和其它客戶(hù)都有望在今年也拿到設(shè)備。這類(lèi)EUV光刻機(jī)的數(shù)值孔徑(NA)0.33,4X放大及分辨率為22nm(half-pitch)。

  運(yùn)抵TSMC的NXE3300B裝上ASML/Cymer的30瓦EUV光源。按TSMC說(shuō)法,原試車(chē)計(jì)劃在1月31日前舉行,但是由于激光的機(jī)械部分出現(xiàn)故障,導(dǎo)致設(shè)備停擺。直到2月24日設(shè)備仍不能開(kāi)動(dòng)。

  此類(lèi)光源由Cymer公司研發(fā),近期它己被ASML兼并。ASML/Cymer曾經(jīng)承諾在2012年底時(shí)提供100瓦光源。但是至今Cymer在實(shí)驗(yàn)室里能提供40-50瓦光源。

  Chen說(shuō),可能是EUV光源的內(nèi)部件出現(xiàn)故障,即集光鏡。此類(lèi)EUV光源是基于激光型plasma(LPP)技術(shù)。在LPP中由激光脈沖產(chǎn)生的等離子體射中靶子。光源也利用一種pre-pulselaser和一種主振功率放大器(MOPA)來(lái)邦助提高光源的功率。

  當(dāng)一個(gè)55瓦光源可使EUV光刻機(jī)的硅片通過(guò)量達(dá)到每小時(shí)43片,顯然從產(chǎn)業(yè)角度至少需要80瓦光源,而且能穩(wěn)定連續(xù)的工作。因?yàn)楫?dāng)光源功率在80瓦時(shí)可以每小時(shí)58片。ASML的計(jì)劃在2015年時(shí)光源功率能達(dá)到250瓦,可實(shí)現(xiàn)每小時(shí)126片。



關(guān)鍵詞: EUV 10nm

評(píng)論


技術(shù)專(zhuān)區(qū)

關(guān)閉