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傳統(tǒng)IGBT可靠性測(cè)試急需變革

作者: 時(shí)間:2014-06-09 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  據(jù)Yole Developpement市場(chǎng)調(diào)查公司2013年報(bào)告,2014年市場(chǎng)總值將達(dá)到43億美元,比2013年的39億美元多出40億美元。而從2011~2018年走勢(shì)可見(jiàn),主要驅(qū)動(dòng)力是電動(dòng)汽車/混合動(dòng)力()汽車(如圖1)。同時(shí),鐵路牽引、可再生能源發(fā)電等需要越來(lái)越高的可靠性。 可靠性成為功率電力電子器件的關(guān)鍵指標(biāo)。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/248030.htm

  等大功率的電力電子器件通常需要大電流,例如地鐵需要8A,新能源汽車需要600A,風(fēng)能需要1500A及以上。同時(shí)電力電子器件的可靠性非常關(guān)鍵,例如機(jī)車牽引的期望壽命超過(guò)三十年,功率器件通常需上萬(wàn)次甚至百萬(wàn)次的功率循環(huán)要求,為對(duì)新型等電力子電子器件的可靠性提出了巨大的挑戰(zhàn)。

  “由于功率循環(huán)和熱量導(dǎo)致與熱相關(guān)的器件老化降級(jí),容易導(dǎo)致焊線老化降級(jí),金屬層錯(cuò)位,焊接失效,硅芯片和基板的分層等問(wèn)題?!?a class="contentlabel" href="http://m.butianyuan.cn/news/listbylabel/label/Mentor">Mentor Graphics公司負(fù)責(zé)半導(dǎo)體器件熱特性評(píng)估和熱阻測(cè)試儀器的市場(chǎng)開(kāi)發(fā)總監(jiān)John Isaac指出。因此需要在IGBT及模塊研制和生產(chǎn)時(shí),采用更精密的實(shí)驗(yàn)設(shè)備對(duì)電力電子器件進(jìn)行測(cè)試。

   Graphics的MicReD1500A功率循環(huán)測(cè)試設(shè)備利用MicReD經(jīng)業(yè)界驗(yàn)證的T3Ster瞬態(tài)熱測(cè)試技術(shù),達(dá)到了實(shí)驗(yàn)室級(jí)的精度,具有高準(zhǔn)確性。由于獨(dú)特的結(jié)構(gòu)函數(shù)功能,具有實(shí)時(shí)診斷器件的降級(jí)過(guò)程和失效原因,因此失效故障分析精準(zhǔn),并可縮短總的測(cè)試時(shí)間,只需原來(lái)測(cè)試時(shí)間的1/10及以下。由于加熱電流達(dá)到1500A,并采用3通道的電流結(jié)構(gòu),因此可以在同一臺(tái)設(shè)備上進(jìn)行更多的樣品測(cè)試。



關(guān)鍵詞: IGBT Mentor EV/HEV 201406

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