一種基于LabVIEW的熱舒適測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

　 4 結(jié)果與分析

　　4.1 系統(tǒng)運(yùn)行結(jié)果

　　圖4顯示了數(shù)據(jù)采集以及PMV，PPD計(jì)算的在線顯示結(jié)果。由采集到的4個(gè)參數(shù)rh，ta，v，tr與輸入?yún)?shù)m，CLO一起通過程序運(yùn)算，得到PMV，PPD結(jié)果。

　　4.2 系統(tǒng)性能測試結(jié)果與分析

　　4.2.1 采樣頻率對(duì)于測試系統(tǒng)的影響

　　某些測試系統(tǒng)在工程運(yùn)用中會(huì)出現(xiàn)隨著系統(tǒng)連續(xù)運(yùn)行時(shí)間的延長，而采樣速度越來越慢的情況，直到系統(tǒng)崩潰。這里檢驗(yàn)采樣頻率對(duì)測試系統(tǒng)的影響。本設(shè)計(jì)中儀器的最高出樣頻率為10 Hz。實(shí)驗(yàn)中，分別采用10 Hz，8 Hz，4 Hz的采樣頻率對(duì)測試系統(tǒng)進(jìn)行連續(xù)測試，測試結(jié)果如圖5所示。由圖可看出，采樣頻率隨著測試時(shí)間的延長，不斷的衰減。采樣頻率越高，衰減的越快，越迅速。當(dāng)以10 Hz采樣時(shí)，系統(tǒng)運(yùn)行不到5 min就開始崩潰；當(dāng)以4 Hz采樣時(shí)，系統(tǒng)也只能平均運(yùn)行30 min。不管是采用高的采樣頻率，還是低的采樣頻率，只要是系統(tǒng)連續(xù)運(yùn)行，系統(tǒng)早晚都會(huì)出現(xiàn)崩潰。因此，可以得出，采樣頻率不是導(dǎo)致測試系統(tǒng)崩潰的原因。

　　4.2.2 數(shù)據(jù)記錄對(duì)于測試系統(tǒng)的影響

　　測試系統(tǒng)通過創(chuàng)建文件記錄數(shù)據(jù)，波形顯示記錄數(shù)據(jù)，表格顯示記錄數(shù)據(jù)三種方式來記錄數(shù)據(jù)。鑒于上面提到的計(jì)算機(jī)運(yùn)行崩潰的問題，在10 Hz的采樣頻率下，分別測試在三種記錄數(shù)據(jù)的情況下計(jì)算機(jī)的運(yùn)行情況。圖6表示了以10 Hz的采樣頻率測試時(shí)計(jì)算機(jī)CPU和內(nèi)存的運(yùn)用情況。從圖中看出，創(chuàng)建文件和波形顯示記錄數(shù)據(jù)時(shí)，計(jì)算機(jī)的運(yùn)行穩(wěn)定，CPU使用率在7％左右，內(nèi)存占用 75 000 KB左右；當(dāng)采用表格記錄數(shù)據(jù)時(shí)，系統(tǒng)一開始運(yùn)行，計(jì)算機(jī)的CPU使用率和內(nèi)存占用空間都在不斷升高，直到系統(tǒng)運(yùn)行到4 min時(shí)，CPU的使用率達(dá)到100％，系統(tǒng)崩潰。

　　在4.2.1節(jié)中系統(tǒng)以10 Hz采樣時(shí)，采樣頻率也是在第4 min的時(shí)候開始衰退，兩者出現(xiàn)的時(shí)間點(diǎn)吻合。鑒于上述情況，實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，當(dāng)LabVIEW系統(tǒng)采用內(nèi)置表格記錄數(shù)據(jù)時(shí)，記錄的數(shù)據(jù)不斷占用系統(tǒng)內(nèi)存，直至計(jì)算機(jī)崩潰，最終導(dǎo)致測試系統(tǒng)的崩潰，使得出現(xiàn)采樣頻率持續(xù)衰減的現(xiàn)象。