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SEMI發(fā)布五項新技術標準――包含光伏硅材料檢測方法

作者: 時間:2009-02-19 來源:SEMI 收藏
        SEMI日前發(fā)布了五項新技術標準,涉及、以及制造產業(yè),由設備及材料供應商、SEMI國際標準項目小組等的技術專家共同制定而成。

        此次新標準包含了對于原料的檢測方法。SEMI國際標準總監(jiān)James Amano,表示,“隨著產業(yè)的迅速發(fā)展,SEMI已就光伏產業(yè)創(chuàng)建了一套標準體系。相信新標準的建立對于設備及工藝領域將有所保障。”

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/91371.htm

        五項標準分別是:

        SEMI E151
        Guide for Understanding Data Quality
        
        SEMI F107
        Guide for Process Equipment Adaptor Plates
        
        SEMI M75
        Specifications for Polished Monocrystalline Gallium Antimonide Wafers
        
        SEMI MS8
        Guide to Evaluating Hermeticity of Packages

        SEMI PV1
        Test Method for Measuring Trace Elements in Photovoltaic-Grade Silicon by High-Mass Resolution Glow Discharge Mass Spectrometry



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