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SEMI發(fā)布五項(xiàng)新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)――包含光伏硅材料檢測(cè)方法

作者: 時(shí)間:2009-02-19 來(lái)源:SEMI 收藏
        SEMI日前發(fā)布了五項(xiàng)新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),涉及、以及制造產(chǎn)業(yè),由設(shè)備及材料供應(yīng)商、SEMI國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目小組等的技術(shù)專(zhuān)家共同制定而成。

        此次新標(biāo)準(zhǔn)包含了對(duì)于原料的檢測(cè)方法。SEMI國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)總監(jiān)James Amano,表示,“隨著產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展,SEMI已就光伏產(chǎn)業(yè)創(chuàng)建了一套標(biāo)準(zhǔn)體系。相信新標(biāo)準(zhǔn)的建立對(duì)于設(shè)備及工藝領(lǐng)域?qū)⒂兴U稀?rdquo;

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/91371.htm

        五項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)分別是:

        SEMI E151
        Guide for Understanding Data Quality
        
        SEMI F107
        Guide for Process Equipment Adaptor Plates
        
        SEMI M75
        Specifications for Polished Monocrystalline Gallium Antimonide Wafers
        
        SEMI MS8
        Guide to Evaluating Hermeticity of Packages

        SEMI PV1
        Test Method for Measuring Trace Elements in Photovoltaic-Grade Silicon by High-Mass Resolution Glow Discharge Mass Spectrometry



關(guān)鍵詞: 光伏硅 半導(dǎo)體 MEMS 光伏

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