23億個晶體管 處理器挑戰(zhàn)集成度及性能極限
盡管高登-E-摩爾(Gordon E. Moore)提出警告,認為“摩爾法則”無法繼續(xù)有效,但微處理器的高集成度化仍在進一步發(fā)展,并為性能的提高作出重大貢獻。雖然處理器內(nèi)核的數(shù)量及緩存容量持續(xù)增加,但目前仍存在諸多應(yīng)該解決的重要課題,其中包括芯片間的通信性能出現(xiàn)瓶頸、耗電量增加、以及由于軟錯誤及缺陷造成的錯誤等導(dǎo)致的可靠性低下等。另外,芯片內(nèi)的時鐘及電源分配難度也很高,因此要求進一步革新電路技術(shù)。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/91425.htm在“ISSCC 2009”的“Session3:Microprocessor Technology”中,共發(fā)表了8篇有關(guān)高性能處理器及相關(guān)電路技術(shù)的論文。有關(guān)處理器的論文數(shù)量受全球經(jīng)濟不景氣的影響,較上年的20篇大幅減少,但美國英特爾卻發(fā)表了3篇有關(guān)集成度及性能均創(chuàng)歷史最高記錄的新一代45nm處理器系列的論文。
在“論文編號3.1”中,配備了8個多線程x86內(nèi)核及L3緩存,采用了45nm級CMOS及9層金屬布線工藝,集成了23億個晶體管。這是ISSCC中集成度創(chuàng)歷史最高水平的LSI。為了進行時鐘分配,配備了16個PLL及8個DLL。另外,為了提高芯片間的傳輸速度,采用了點對點(Point To Point)的串行輸入輸出(I/O)鏈路,使速度達到了6.4GT/秒。緩存方面,強化了糾錯編碼技術(shù)(ECC),可糾正2bit錯誤,檢測3bit錯誤,提高了可靠性。
在“論文編號3.2”中,采用了相同的體系結(jié)構(gòu),集成8個x86內(nèi)核。通過采用基于微控制器及7μm的厚膜金屬布線的電源柵極晶體管(Power Gate Transistor),利用將待機狀態(tài)內(nèi)核獨立切斷電源的方法,削減了耗電量。涵蓋了耗電量從10W以下到130W、從移動設(shè)備到服務(wù)器的大范圍的應(yīng)用。在“論文編號3.8”中,通過采用低漏電的工藝技術(shù),6個內(nèi)核的耗電量僅為65W。
在日本企業(yè)發(fā)表的論文中,NEC的三維安裝SoC技術(shù)備受關(guān)注(論文編號3.3)。由于人們要求在手機等移動設(shè)備的SoC上配備多種功能,因此其復(fù)雜程度提高。為了支持多功能,需要配備容量更大、構(gòu)成不同的SRAM宏,因此存在芯片面積及耗電量增加的問題。NEC將SRAM作為不同芯片,利用10um間距的微型管腳在SoC芯片上進行三維安裝。SRAM芯片采用開關(guān)陣列,進行動態(tài)重構(gòu),根據(jù)所需功能,重新設(shè)置了內(nèi)存資源。這樣,芯片面積縮小了63%,內(nèi)存延遲提高了43%??勺鳛榘l(fā)揮了動態(tài)重構(gòu)的特點、實現(xiàn)低成本及低耗電量的新型處理器技術(shù)進行評價。
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