臺積電推展EDA、IP認(rèn)證機(jī)制
臺積電將一統(tǒng)IP與EDA?臺積電針對65納米混訊與射頻制程推出設(shè)計(jì)套件,同時(shí)宣布未來IC設(shè)計(jì)客戶將采用由臺積電事先認(rèn)證過的IP、EDA工具以提升投片成功率。在臺積電揮舞認(rèn)證的大旗下,未來勢必使EDA廠商想跟臺積電密切合作都要先經(jīng)過認(rèn)證關(guān)卡,也將促使IC設(shè)計(jì)客戶跟進(jìn)選用臺積電認(rèn)可的IP與EDA工具,臺積電收編IP與EDA市場的用意明顯。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/93771.htm臺積電借著技術(shù)論壇期間宣布,推出全球第一套65納米射頻與混訊設(shè)計(jì)套件,為了推出這款套件,臺積電與EDA廠商Cadence合作數(shù)年,在臺積電開放創(chuàng)新平臺(OIP)上進(jìn)行合作研發(fā)。這款設(shè)計(jì)套件簡單而言,鼓勵(lì)IC設(shè)計(jì)業(yè)者重復(fù)采用IP,降低IC設(shè)計(jì)仿真與晶圓制造之間的誤差,業(yè)者表示,臺積電推出65納米射頻與混訊設(shè)計(jì)套件可以說把設(shè)計(jì)環(huán)境、參考設(shè)計(jì)條件基本上都齊備了,大大降低IC設(shè)計(jì)業(yè)者設(shè)計(jì)門坎,可以盡速進(jìn)入投片階段。
值得注意的是,這款設(shè)計(jì)套件第二季起將免費(fèi)開放給特定客戶,據(jù)了解聯(lián)電也積極與EDA業(yè)者設(shè)計(jì)類似的套件,不過卻讓臺積電界由2009年第一場技術(shù)論壇的時(shí)機(jī)捷足先登率先對外宣布。
此外,臺積電也表示,未來客戶在完成設(shè)計(jì)(Sign-Off)流程若選擇事先經(jīng)過臺積電認(rèn)證的IP與EDA工具、先進(jìn)制程設(shè)計(jì)方法,可以更快速進(jìn)入量產(chǎn),并且保證第一次投片就擁有高成功率(First Silicon Success)。臺積電的做法除了是加快客戶的量產(chǎn)時(shí)程,也激起業(yè)界高度關(guān)注,尤其由臺積電來登高一呼制訂認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),未來IP與EDA等次產(chǎn)業(yè)供貨商勢必得通過與臺積電合作,才能為客戶所用,確保后段生產(chǎn)的效率與良率。
目前不同EDA業(yè)者都各自擁有自行定義設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)套件與環(huán)境,臺積電率先以認(rèn)證方式頗具有一統(tǒng)江湖的企圖。不過目前眾多EDA業(yè)者已經(jīng)體認(rèn)到可開放式設(shè)計(jì)套件(interoperable PDK)的重要性,IC設(shè)計(jì)業(yè)者在不同設(shè)計(jì)套件中可進(jìn)行轉(zhuǎn)換互通,目前也已有EDA業(yè)者與晶圓代工廠開始著手進(jìn)行推展可開放式設(shè)計(jì)套件,據(jù)傳臺積電也對此也抱持贊成的態(tài)度。不過在可開放式設(shè)計(jì)套件尚未正式形成業(yè)界共識之前,臺積電透過認(rèn)證機(jī)制似乎已經(jīng)有一統(tǒng)江湖用意。
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