新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 業(yè)界動態(tài) > SEMI發(fā)布新標準用于鑒別偽劣半導體產品

SEMI發(fā)布新標準用于鑒別偽劣半導體產品

作者: 時間:2009-11-05 來源:SEMI 收藏

  SEMI發(fā)布了三項適用于產業(yè)的新標準。這兩項新標準通過驗證來自非認證分銷商產品的完整性來識別產品真?zhèn)巍_@些新標準可使受信制造商使用加密條碼。通過使用免費的認證服務,任何人只要想識別所采購的產品,都可以使用加密條碼,用于認證檢查。安全認證對于偽劣產品有強烈的威懾作用,此外目前還有一個早期警告系統(tǒng),以防條碼被盜。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/99560.htm

  此外,還有三項標準也已經可以使用,可同時適用于產業(yè)。



關鍵詞: 半導體 MEMS

評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉