新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 業(yè)界動態(tài) > SEMI發(fā)布新標準用于鑒別偽劣半導體產(chǎn)品

SEMI發(fā)布新標準用于鑒別偽劣半導體產(chǎn)品

作者: 時間:2009-11-05 來源:SEMI 收藏

  SEMI發(fā)布了三項適用于產(chǎn)業(yè)的新標準。這兩項新標準通過驗證來自非認證分銷商產(chǎn)品的完整性來識別產(chǎn)品真?zhèn)?。這些新標準可使受信制造商使用加密條碼。通過使用免費的認證服務(wù),任何人只要想識別所采購的產(chǎn)品,都可以使用加密條碼,用于認證檢查。安全認證對于偽劣產(chǎn)品有強烈的威懾作用,此外目前還有一個早期警告系統(tǒng),以防條碼被盜。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/99560.htm

  此外,還有三項標準也已經(jīng)可以使用,可同時適用于產(chǎn)業(yè)。



關(guān)鍵詞: 半導體 MEMS

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉