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用結(jié)點溫度評估器件可靠性的案例分析
- 工程師在設(shè)計一款產(chǎn)品時用了一顆9A的MOS管,量產(chǎn)后發(fā)現(xiàn)壞品率偏高,經(jīng)重新計算分析后,換成了一顆5A的MOS管,問題解決。為什么用電流裕量更小的器件,卻能提高可靠性呢? 工程師在設(shè)計的過程中非常注意元器件性能上的裕量,卻很容易忽視熱耗散設(shè)計,案例分析我們放到最后說,為了幫助理解,我們先引入一個概念: 其中Tc為芯片的外殼溫度,PD為芯片在該環(huán)境中的耗散功率,Tj表示芯片的結(jié)點溫度,目前大多數(shù)芯片的結(jié)點溫度為150℃,Rjc表示芯片內(nèi)部至外殼的熱阻,Rcs表示外殼至散熱片的熱阻,Rsa表示散熱片到
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開關(guān)電源變壓器溫升過高問題改善方法
- 在開關(guān)電源變壓器的工作過程中,工程師不僅需要綜合考慮其設(shè)計構(gòu)造的合理性問題,還需要嚴格把控其溫升范圍,以免出現(xiàn)溫升過高導致工作效率下降的問題
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MOS管驅(qū)動電路詳解
- 使用MOS管設(shè)計開關(guān)電源或者馬達驅(qū)動電路的時候,大部分人都會考慮MOS的導通電阻,最大電壓等,最大電流等,也有很多人僅僅考慮這些因素。這樣的電路也
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MOS管入門——只談應(yīng)用,不談原理
- 1、三個極怎么判定 G極(gate)—柵極,不用說比較好認 S極(source)—源極,不論是P溝道還是N溝道,兩根線相交的就是 D極(drain)—漏極,不論是P溝道還是N溝道,是單獨引線的那邊
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MOS管功率損耗竟然還可以這么測
- MOSFET/IGBT的開關(guān)損耗測試是電源調(diào)試中非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),但很多工程師對開關(guān)損耗的測量還停留在人工計算的感性認知上,PFC?MOSFET的開關(guān)損耗更是只能依據(jù)口口相傳的經(jīng)驗反復(fù)摸索,那么該如何量化評估呢? 1.1功率損耗的原理圖和實測圖 一般來說,開關(guān)管工作的功率損耗原理圖如圖?1所示,主要的能量損耗體現(xiàn)在“導通過程”和“關(guān)閉過程”,小部分能量體現(xiàn)在“導通狀態(tài)”,而關(guān)閉狀態(tài)的損耗很小幾乎為0,可以忽略不計?! ?? 圖?1開關(guān)管工作的功
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