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NI M系列DAQ中使用的新技術(shù)

  •   概覽   NI公司的M系列數(shù)據(jù)采集設(shè)備 (DAQ),以全新的革命性架構(gòu),為數(shù)據(jù)采集硬件功能設(shè)定了新標(biāo)準(zhǔn)。這些設(shè)備除集成了市面上最先進(jìn)的技術(shù)之外,還吸納了一些全新設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì),顯著改善其性能,準(zhǔn)確性與I/O通道密度:   NI-STC 2 – 自定義的定時(shí)控制器ASIC   NI-MCal技術(shù) – 具有革命性的校準(zhǔn)和線性化方法   NI-PGIA 2技術(shù) 可自定義的增益放大器   NI-STC 2是專門為M系列DAQ設(shè)備設(shè)計(jì)的專用集成電路(A
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NI數(shù)據(jù)采集設(shè)備技術(shù)總覽

  •   M系列技術(shù)   NI M系列設(shè)備為定時(shí)、性能和精度整合了三種主要技術(shù):NI-STC 2、NI-PGIA 2和NI-MCal。NI USB M系列設(shè)備在USB總線上提供了高性能信號(hào)流特性。所有工業(yè)M系列設(shè)備和部分選定的USB M系列設(shè)備都帶有設(shè)備保護(hù)和去除接地回路的隔離。   NI-STC 2   NI-STC 2是自定義設(shè)計(jì)的專用集成電路(ASIC),能夠控制系統(tǒng)的定時(shí)、同步和所有輸入輸出數(shù)據(jù)采集操作。NI-STC 2提供了: 6個(gè)DMA通道——為每個(gè)功能提
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用于可靠工業(yè)測(cè)量的隔離技術(shù)

  •   概述   電壓、電流、溫度、壓力、應(yīng)變和流速的測(cè)試是工業(yè)控制與過(guò)程控制應(yīng)用不可或缺的一部分。通常,這些應(yīng)用所處的環(huán)境具有危 險(xiǎn)的電壓、瞬態(tài)信號(hào)、共模電壓和地電位波動(dòng),這會(huì)使測(cè)量系統(tǒng)受損并破壞測(cè)量的精度。為應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn),專為工業(yè)應(yīng)用所設(shè)計(jì)的測(cè)量系統(tǒng)采用了電氣隔離技術(shù)。本 白皮書聚焦于用于模擬測(cè)量的隔離技術(shù),解答了常見的隔離問(wèn)題,并涵蓋了關(guān)于不同的隔離實(shí)現(xiàn)技術(shù)的技術(shù)內(nèi)容。   理解隔離技術(shù)   電氣隔離使可能會(huì)暴露在危險(xiǎn)電壓下的傳感器信號(hào)與測(cè)量系統(tǒng)的低壓背板相分離。隔離提供了許多優(yōu)勢(shì),其中包括:
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借助智能DAQ, 獲得高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù)

  •   概覽   多功能智能DAQ設(shè)備配有自定義式板載處理功能,最大限度地為系統(tǒng)定時(shí)及觸發(fā)提供靈活性能。 與控制設(shè)備功能的固定ASIC不同,智能DAQ采用基于FPGA的系統(tǒng)定時(shí)控制器,令所有模擬和數(shù)字I/O能夠根據(jù)特定應(yīng)用操作接受相應(yīng)的配置。 本指南展示了:如何使用R系列智能DAQ板卡和NI LabVIEW FPGA,靈活自如地執(zhí)行數(shù)據(jù)采集任務(wù)   入門   NI LabVIEW FPGA模塊幫助DAQ系統(tǒng)的開發(fā)者靈活自如地進(jìn)行應(yīng)用程序編程以實(shí)現(xiàn)各類輸入/輸出操作。 用戶無(wú)需預(yù)先了解VHDL等硬件設(shè)計(jì)工
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LabVIEW天下會(huì)誠(chéng)邀各路英豪

  •   2010年4月——由美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)與LabVIEW開發(fā)者社區(qū)GSDZone聯(lián)合主辦,測(cè)量測(cè)試世界,中國(guó)工控網(wǎng)等眾多海內(nèi)外知名網(wǎng)站傾情呈獻(xiàn)的“LabVIEW天下會(huì)”首屆全球華人LabVIEW開發(fā)者競(jìng)賽,近日在全球范圍內(nèi)展開。該活動(dòng)旨在促進(jìn)廣大LabVIEW愛好者交流開發(fā)經(jīng)驗(yàn),切磋編程技術(shù)。   LabVIEW天下會(huì)分別設(shè)有開發(fā)組和應(yīng)用組,力求更加全面地體現(xiàn)參賽者LabVIEW掌握水平。開發(fā)組側(cè)重
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NI發(fā)布相位相干射頻測(cè)量解決方案

  •   美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)于3月1日推出針對(duì)多通道多輸入多輸出(MIMO)射頻設(shè)計(jì)和測(cè)試應(yīng)用的NI PXIe-5663E 6.6 GHz RF矢量信號(hào)發(fā)生器和NI PXIe-5673E 6.6 GHz RF矢量信號(hào)分析儀,并有雙通道、三通道和四通道三種版本供選擇。這兩款最新產(chǎn)品基于PXI Express,集成了共享的本地振蕩器(LO),從而實(shí)現(xiàn)各RF端口之間的相位相干,使各種射頻測(cè)試應(yīng)用的通道間相位測(cè)量更加精確。儀器還具有許多其他高級(jí)特性,能夠完美用于W
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NI ELVIS在數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用

  • 摘要:為開拓學(xué)生在專業(yè)領(lǐng)域的創(chuàng)新發(fā)展,將在傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)箱上進(jìn)行的數(shù)字電子技術(shù)實(shí)驗(yàn)移植到ELVIS平臺(tái)。首先介紹了美國(guó)國(guó)家儀器公司(NI)的虛擬儀器教學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)(education laboratory virtual instrumentation suit,ELV
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機(jī)器人:在一個(gè)月之內(nèi)實(shí)現(xiàn)原型開發(fā)的四個(gè)平臺(tái)

  • 目錄1.使用LEGOMINDSTORMSNXT進(jìn)行原型開發(fā)2.使用iRobotCreate進(jìn)行原型開發(fā)3.使用NISingle-BoardR...
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用LabVIEW和智能相機(jī)開發(fā)零件精加工檢測(cè)系統(tǒng)

  • 在去除之后,機(jī)器人會(huì)用NI1722智能照相機(jī)隨機(jī)檢查表面缺陷,比如裂痕,壓痕,擦痕以及在表面的加工痕跡。挑戰(zhàn)...
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LabVIEW機(jī)器人模塊-機(jī)器人選板中的特殊算法

用于機(jī)器人的RIO嵌入式控制平臺(tái)

  •   概覽   自動(dòng)或半自動(dòng)機(jī)器人常常需要嵌入式控制系統(tǒng),從而能夠結(jié)合高度智能化的確定性控制,并且可以方便地連接到不同的傳感器和執(zhí)行器上。NI提供了多種嵌入式硬件平臺(tái),以滿足復(fù)雜系統(tǒng)的需求。從尖端的機(jī)器人研究項(xiàng)目直至高級(jí)行業(yè)應(yīng)用,NI平臺(tái)被證實(shí)是高效的機(jī)器人解決方案。   可重復(fù)配置I/O(RIO)體系結(jié)構(gòu)   NI嵌入式硬件平臺(tái)共享通用一個(gè)可重復(fù)配置I/O(RIO)體系結(jié)構(gòu)。這個(gè)體系結(jié)構(gòu)整合了實(shí)時(shí)處理器、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列 (FPGA)和多樣的I/O,包括模擬、數(shù)字、運(yùn)動(dòng)和通信I/O。使用這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的體
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為自適應(yīng)機(jī)器人焊接開發(fā)WiseWELDING機(jī)器視覺系統(tǒng)

  •     TIG/GTAW在焊接節(jié)點(diǎn)開始的結(jié)果   作者:   Robert Modic, M.Sc. - Wise Technologies Ltd.   行業(yè):   Manufacturing, 圖像設(shè)備   產(chǎn)品:   NI 9401, LabVIEW, PCI-7811R, cRIO-9151, FPGA模塊, NI 9426, 圖像開發(fā)工具包   挑戰(zhàn):   用自動(dòng)焊接路徑修正來(lái)取代人工操作。這種方案采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼加工設(shè)備生產(chǎn),它可以在兩個(gè)月的時(shí)間內(nèi),完成設(shè)計(jì),原型制造
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使用NI智能相機(jī)和LabVIEW來(lái)開發(fā)零件精加工和檢測(cè)系統(tǒng)

  •   在去除之后,機(jī)器人會(huì)用NI 1722智能照相機(jī)隨機(jī)檢查表面缺陷,比如裂痕,壓痕,擦痕以及在表面的加工痕跡。   作者:   Michael Muldoon - AV&R Vision & Robotics   Catherine Boulet - AV&R Vision & Robotics   行業(yè):   航空/航天, Manufacturing, 圖像設(shè)備   產(chǎn)品:   LabVIEW, NI 1722   挑戰(zhàn):   自動(dòng)去除毛刺并為飛機(jī)引擎的
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使用NI視覺硬件和軟件為接線盒零件設(shè)計(jì)集成的視覺化和機(jī)器人化單元

  •     使用NI LabVIEW軟件最大的好處是可以設(shè)計(jì)且自定義圖形化用戶界面.   作者:   Cristiano Buttinoni, Certified LabVIEW Developer (CLD) - ImagingLab   行業(yè):   Manufacturing, 電子   產(chǎn)品:   LabVIEW, 機(jī)器視覺附件   挑戰(zhàn):   用短批次和多樣化的產(chǎn)品為裝配電子元件設(shè)計(jì)一個(gè)緊密集成有機(jī)器人技術(shù)和視覺技術(shù)的系統(tǒng)   解決方案:   在NI視覺系統(tǒng)的指導(dǎo)下,用
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使用NI公司LabVIEW軟件和視覺硬件建立集成視覺和機(jī)器人的化妝品包裝生產(chǎn)線

  •   為Vetraco的化妝粉案例生產(chǎn)線,我們必須將臉部專用刷準(zhǔn)確地放置。   作者:   Ignazio Piacentini - ImagingLab   Cristiano Buttinoni - ImagingLab   行業(yè):   消費(fèi)品, Manufacturing, 圖像設(shè)備   產(chǎn)品:   LabVIEW, PCI-8254R   挑戰(zhàn):   確定臉部粉刷位置和方向,對(duì)其進(jìn)行質(zhì)量控制,并對(duì)機(jī)器人系統(tǒng)進(jìn)行編程,讓機(jī)器人拾起刷子,將其放在一個(gè)8槽梭子的粉盒中。   解決方案:
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ni-mydaq介紹

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