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簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)校準(zhǔn)任務(wù)的新型模擬開(kāi)關(guān)

作者: 時(shí)間:2016-10-16 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,前端模擬通道的各個(gè)部件——傳感器、信號(hào)調(diào)理電路和模/數(shù)轉(zhuǎn)換系統(tǒng)等都會(huì)在不同程度上給測(cè)量結(jié)果帶來(lái)誤差,而且該誤差會(huì)隨著溫度、時(shí)間而漂移。傳感器和信號(hào)調(diào)理電路的誤差及其漂移問(wèn)題受到了廣泛的重視,并發(fā)展了多種技術(shù)對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)和補(bǔ)償。例如壓力傳感器經(jīng)過(guò)補(bǔ)償后的輸出精度可達(dá)0.1%或更高。但是對(duì)于通道的最后一個(gè)環(huán)節(jié)——模/數(shù)轉(zhuǎn)換器所帶來(lái)的誤差卻常常被忽視。 線性系統(tǒng)的誤差分為零點(diǎn)(失調(diào))誤差、增益(滿度)誤差和非線性誤差三種類(lèi)型。模/數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC通常都具有優(yōu)異的線性度,例如常見(jiàn)的12位模/數(shù)轉(zhuǎn)換器AD574,非線性誤差(INL和DNL)在1LSB以?xún)?nèi)。但是其零點(diǎn)和增益的誤差卻不理想,典型的12位模/數(shù)轉(zhuǎn)換器這兩種誤差會(huì)高達(dá)10LSB,這對(duì)于要求0.1%精度的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)來(lái)說(shuō)是難以接受的。當(dāng)然,可以采用微調(diào)電位器的方法來(lái)修正這兩種誤差,也可以考慮采用高分辨率的轉(zhuǎn)換器。但前者增加了線路調(diào)整的復(fù)雜性,后者增加了產(chǎn)品的成本。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201610/307922.htm

另外一個(gè)解決方案就是通過(guò)一個(gè)校準(zhǔn)通道,用軟件的方法對(duì)模/數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行校準(zhǔn)。但這需要至少兩個(gè)高精度的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。而采用分立方案很難獲得超過(guò)0.1%精度的標(biāo)準(zhǔn)電壓信號(hào),問(wèn)題還是沒(méi)有解決。

Maxim公司帶校準(zhǔn)功能的模擬開(kāi)關(guān)(“校準(zhǔn)多路器”)MAX4539使這個(gè)問(wèn)題得到了解決。這種新穎的模擬開(kāi)關(guān)利用激光微調(diào)技術(shù)在內(nèi)部集成了高精度的電阻分壓網(wǎng)絡(luò),分壓比精度高達(dá)0.002%(優(yōu)于15位),可為ADC提供進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)和增益校準(zhǔn)所需的高精度標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。芯片內(nèi)部同時(shí)還集成了較低精度的分壓網(wǎng)絡(luò),可用來(lái)對(duì)系統(tǒng)電源進(jìn)行監(jiān)測(cè)。這樣在不增加任何其他硬件的情況下,可以很容易地實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)自檢、數(shù)據(jù)采集和系統(tǒng)校準(zhǔn)。

MAX4539結(jié)構(gòu)及工作模式

MAX4539的內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖1所示。其主體部分是一個(gè)普通的低電壓、8通道CMOS模擬開(kāi)關(guān)。另外還有一個(gè)電阻分壓網(wǎng)絡(luò),分壓網(wǎng)絡(luò)將外部輸入的基準(zhǔn)電壓或電源電壓分壓后經(jīng)過(guò)選擇開(kāi)關(guān)送往多路器輸出端。譯碼電路將控制信號(hào)及地址信號(hào)譯碼后控制內(nèi)部開(kāi)關(guān),實(shí)現(xiàn)輸入通道選擇或工作模式切換。

MAX4539具有測(cè)量、自檢和校準(zhǔn)三種工作模式,不同工作模式可通過(guò)控制引腳CAL和地址引腳A0~A2進(jìn)行選擇,另外還具有使能控制和狀態(tài)鎖存,與CPU接口非常簡(jiǎn)單。工作模式及輸入通道的選擇參見(jiàn)真值表。

當(dāng)CAL無(wú)效(低電平)時(shí)器件工作在測(cè)量模式,相當(dāng)于一個(gè)普通的低電壓、8選1模擬開(kāi)關(guān),通過(guò)地址A0~A2選擇輸入通道。當(dāng)CAL有效(高電平)時(shí),芯片進(jìn)入自檢及自校準(zhǔn)模式,通過(guò)A0~A2可選擇不同的校準(zhǔn)或自檢功能。A2A1A0=101選擇增益校準(zhǔn)模式,輸出電壓為VCOM=4081/4096(VREFHI-VREFLO)±0.0024%,其中的VREFHI、VREFLO分別為輸入REFHI和REFLO引腳的電壓,一般為模/數(shù)轉(zhuǎn)換器所采用的基準(zhǔn)電壓。對(duì)于理想A/D,該電壓轉(zhuǎn)換后的結(jié)果應(yīng)為4081,根據(jù)實(shí)際轉(zhuǎn)換結(jié)果與此值的偏差就可計(jì)算出A/D的增益誤差;A2A1A0=110時(shí)進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn),輸出VCOM=15/4096(VREFHI-VREFLO)±0.0024%,根據(jù)實(shí)際轉(zhuǎn)換結(jié)果與15之偏差計(jì)算出A/D的零點(diǎn)誤差;A2A1A0=000或011時(shí)進(jìn)行系統(tǒng)自檢,內(nèi)部分壓網(wǎng)絡(luò)采樣電源電壓并送給A/D進(jìn)行檢測(cè),采樣值分別為:VCOM=1/2(V+)±0.4%或5/8(V+- V-)±0.4%。另外還可以選擇將REFHI、REFLO或GND端的電壓送交A/D進(jìn)行檢測(cè)。



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