新聞中心

EEPW首頁 > 業(yè)界動態(tài) > 三星率先開發(fā)出12層3D硅穿孔堆疊:HBM存儲芯片容量提至24GB

三星率先開發(fā)出12層3D硅穿孔堆疊:HBM存儲芯片容量提至24GB

作者:萬南 時間:2019-10-08 來源:快科技 收藏

電子宣1布率先在業(yè)內開發(fā)出12層3D-TSV(硅穿孔)技術。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201910/405463.htm

隨著集成電路規(guī)模的擴大,如何在盡可能小的面積內塞入更多晶體管成為挑戰(zhàn),其中多芯片堆疊封裝被認為是希望之星。稱,他們得以將12片DRAM芯片通過60000個TSV孔連接,每一層的厚度僅有頭發(fā)絲的1/20。

總的封裝厚度為720μm,與當前8層堆疊的HBM2存儲芯片相同,體現(xiàn)了極大的技術進步。


三星率先開發(fā)出12層3D硅穿孔堆疊:HBM存儲芯片容量提至24GB


這意味著,客戶不需要改動內部設計就可以獲得更大容量的芯片。同時,3D堆疊也有助于縮短數據傳輸的時間。


三星率先開發(fā)出12層3D硅穿孔堆疊:HBM存儲芯片容量提至24GB


透露,基于12層3D TSV技術的HBM存儲芯片將很快量產,單片容量從目前的8GB來到24GB。


三星率先開發(fā)出12層3D硅穿孔堆疊:HBM存儲芯片容量提至24GB





評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉