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基于LabVIEW的數(shù)字通信系統(tǒng)EVM和ACPR全自動(dòng)化掃描測(cè)試

作者: 時(shí)間:2012-07-09 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  隨著無(wú)線的迅猛發(fā)展,對(duì)于集成電路設(shè)計(jì)和測(cè)試提出了更多的挑戰(zhàn)。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段,為了保證系統(tǒng)中射頻和基帶芯片的協(xié)同工作能力和兼容性,需要對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行嚴(yán)格的性能測(cè)試。然而,日益復(fù)雜的數(shù)字調(diào)制技術(shù)常常給面對(duì)緊湊的項(xiàng)目期限的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)帶來(lái)更多的壓力。所以,設(shè)計(jì)人員不僅要在短時(shí)間內(nèi)完成系統(tǒng)的測(cè)試,還要盡快從測(cè)試結(jié)果中推斷出造成問(wèn)題的可能原因。本文提出一種全自動(dòng)化的掃描測(cè)試方案,可以對(duì)系統(tǒng)發(fā)射鏈路兩個(gè)關(guān)鍵參數(shù)(ErrorVector Magni rude)和(Adjacent Channel PowerRatio)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確地測(cè)量,以便在第一時(shí)間找到設(shè)計(jì)中問(wèn)題所在。

  1 發(fā)射鏈路測(cè)試

  對(duì)于數(shù)字通信系統(tǒng)測(cè)試來(lái)說(shuō),絕大多數(shù)參數(shù)指標(biāo)是在頻域完成的,這就需要通過(guò)控制頻譜分析儀和矢量信號(hào)分析儀進(jìn)行測(cè)量。其中測(cè)量數(shù)字調(diào)制的質(zhì)量對(duì)于保證數(shù)字通信系統(tǒng)正常工作和信息準(zhǔn)確傳遞有著重要的意義。數(shù)字通信系統(tǒng)的調(diào)制指標(biāo)主要有,相位誤差,IQ不平衡度等。

  是指某一瞬時(shí)理想?yún)⒖夹盘?hào)和被測(cè)量信號(hào)矢量差值的模值。采用安捷倫矢量信號(hào)分析儀89600可以提供快速、高分辨率的頻譜測(cè)量、解調(diào)和時(shí)域分析,來(lái)獲得EVM的測(cè)量結(jié)果。

  測(cè)量的是某一通信頻段主信號(hào)能量有多少泄漏到相鄰頻段。它也是數(shù)字通信系統(tǒng)的重要指標(biāo),過(guò)大的功率泄漏會(huì)引起相鄰頻段之間的相互干擾。通常,我們最關(guān)注的是主要頻段的信號(hào)功率和鄰近頻段功率的比值,通過(guò)控制頻譜分析儀測(cè)量獲得。

  數(shù)字通信系統(tǒng)發(fā)射鏈路掃描測(cè)試是指針對(duì)某個(gè)參數(shù),如增益、頻點(diǎn)等的變化評(píng)估其對(duì)EVM和的影響。本文以發(fā)射鏈路增益自動(dòng)功率控制掃描為例進(jìn)行闡述。 APC(Automatic Power Control)自動(dòng)功率控制掃描是對(duì)發(fā)射鏈路中功率放大器驅(qū)動(dòng)和上變頻混頻器的增益進(jìn)行掃描,這些控制位在集成電路中通過(guò)特定的寄存器位來(lái)進(jìn)行設(shè)置,通過(guò)SPI和I2C總線以特定的時(shí)序訪問(wèn)芯片上這些寄存器,實(shí)現(xiàn)讀寫控制功能,來(lái)改變發(fā)射鏈路增益,掃描測(cè)試框圖如圖1所示。

掃描測(cè)試框圖

   通過(guò)GPIB總線對(duì)頻譜分析儀進(jìn)行控制測(cè)量ACPR;使用ActiveX控件控制安捷倫89600矢量信號(hào)分析儀測(cè)量EVM參數(shù)。這個(gè)實(shí)時(shí)控制系統(tǒng)可以利用TCP/IP、GPIB協(xié)議功能來(lái)完成PC計(jì)算機(jī)和儀器間的雙向命令傳送。自動(dòng)掃描程序前面板如圖2所示。

LabVIEW自動(dòng)掃描程序前面板

  根據(jù)掃描測(cè)試操作順序面板分為兩個(gè)部分:左邊是從Excel表格讀人使發(fā)射鏈路功率線形衰減的控制寄存器值;右邊是對(duì)儀器參數(shù)進(jìn)行的自定義設(shè)置以保證更高的測(cè)量精度。所以,整個(gè)LabVIEW程序操作可以分為4部分:從Excel表格中讀取發(fā)射鏈路不同增益衰減情況下的寄存器值;將這些值通過(guò)SPI總線寫入芯片相應(yīng)的寄存器中改變發(fā)射鏈路增益(功率);接著,自動(dòng)調(diào)整儀器設(shè)置并從中讀取測(cè)量參數(shù)EVM和ACP;將測(cè)量數(shù)據(jù)結(jié)果實(shí)時(shí)寫入指定的Excel文件并存儲(chǔ)以便后處理進(jìn)行分析。

  Excel Read.vi實(shí)現(xiàn)從打開的Excel文件指定工作表的指定行、列中讀取寄存器預(yù)設(shè)值,并存入到LabVIEW的一個(gè)二維數(shù)據(jù)表中緩沖。這樣的好處是可以及時(shí)更正APC的預(yù)設(shè)值,使測(cè)試靈活。本設(shè)計(jì)中這個(gè)動(dòng)作通過(guò)圖2中的“從Excel讀取APC數(shù)據(jù)”按鈕進(jìn)行觸發(fā),使用一個(gè)LabVIEW的事件處理結(jié)構(gòu)進(jìn)行處理。

  SPI_ Write.vi和SPI_ Read.vi通過(guò)LabVIEW對(duì)PC計(jì)算機(jī)并行接口進(jìn)行編程,通過(guò)SPI三線控制完成和芯片之間的通訊。其中,并行接口控制是通過(guò)LabVIEW中的強(qiáng)大的I/O程序模塊為基本操作單元實(shí)現(xiàn)的。

  2 發(fā)射鏈路EVM自動(dòng)化掃描

  在通過(guò)更改寄存器值完成發(fā)射鏈路功率配置后,就需要控制矢量信號(hào)分析儀89600調(diào)整儀器設(shè)置,并讀取掃描得到的EVM數(shù)據(jù)。LabVIEW完成對(duì)89600初始化后,為保證EVM自動(dòng)測(cè)試精度需要對(duì)其做出如下配置,如圖3所示。

配置

  首先,要激活89600顯示頻譜圖的Trace B,如圖4所示。并命令其縱軸進(jìn)行自動(dòng)調(diào)整以保證功率譜在儀器顯示的合適位置上。

  接著,激活頻段功率測(cè)量模式(BandPower),按照前面板設(shè)定的“頻帶寬”參數(shù),對(duì)頻段功率的左、右邊界頻率進(jìn)行設(shè)定。這時(shí),LabVIEW就可以通過(guò)Band-PowerResult屬性節(jié)點(diǎn)準(zhǔn)確讀取載波的的功率。

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