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一種基于LabVIEW的存儲(chǔ)器檢測(cè)系統(tǒng)的研究

作者: 時(shí)間:2010-05-29 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  在電子設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中,存儲(chǔ)器發(fā)生故障或失效,不僅導(dǎo)致經(jīng)濟(jì)損失,而且還有可能導(dǎo)致災(zāi)難性的后果。因此存儲(chǔ)器的測(cè)試也成為當(dāng)今世界的一個(gè)重要問(wèn)題,在軍事裝備中存儲(chǔ)器正扮演著很重要的角色。目前,基于虛擬儀器設(shè)計(jì)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已成為主流,而軟件則是虛擬儀器的核心。在此,以為軟件工具,結(jié)合相應(yīng)的數(shù)字I/O卡,開(kāi)發(fā)一套用于某裝備的檢測(cè)系統(tǒng)。

  1 總體方案及硬件設(shè)計(jì)

  1.1 需求分析

  該系統(tǒng)所選的被測(cè)對(duì)象是某型裝備中的公用存儲(chǔ)器,測(cè)試通道有地址總線18根、數(shù)據(jù)總線18根,控制線3根(控制線共7根,其中3根有效)。其中,狀態(tài)輸出信號(hào)表示讀/寫信號(hào)是否有效;讀/寫信號(hào)表示對(duì)RAM的讀/寫操作;數(shù)據(jù)輸出有效信號(hào)表示數(shù)據(jù)輸出是否有效。容量8 KB,讀周期400 ns,寫周期500 ns,供電電壓5 V。

  1.2 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)

  該硬件系統(tǒng),以中心計(jì)算機(jī)為主體,以插入其中的數(shù)字I/O卡為功能部件。通過(guò)計(jì)算機(jī)控制數(shù)字I/O卡進(jìn)行數(shù)字信號(hào)的輸出和測(cè)量。由此可知,系統(tǒng)平臺(tái)的搭建關(guān)鍵是選擇合適的數(shù)字I/O卡。該系統(tǒng)測(cè)試的主要信號(hào)有地址信號(hào)、數(shù)據(jù)信號(hào)和控制信號(hào)??紤]到輸出位數(shù)和速度,用NI公司的數(shù)字波形發(fā)生器/分析儀 6542,它具有32路可雙向控制的通道,可方便地進(jìn)行信號(hào)輸出和對(duì)信號(hào)的采集。該模塊每個(gè)通道都有1 Mb,8 Mb和64 Mb的板載內(nèi)存,便于測(cè)試信息的存儲(chǔ)。

  1.3 接口適配器設(shè)計(jì)和端口的分配

  接口適配器用于連接被測(cè)設(shè)備和測(cè)試平臺(tái)。設(shè)計(jì)時(shí)只選用一塊6542模塊,所以只有32個(gè)輸出通道,不能實(shí)現(xiàn)所有信號(hào)的有效同步輸出,設(shè)計(jì)時(shí)需采用數(shù)據(jù)線和地址線共用的原則予以解決。接口適配器的組成框圖如圖1所示。選擇6542的port0~port2作為公用的地址線和數(shù)據(jù)線,port3作為控制線。鎖存器選擇雙向鎖存器,通過(guò)鎖存方向控制數(shù)據(jù)的輸入/輸出,片選控制線控制數(shù)據(jù)的鎖存,鎖存輸出控制線控制鎖存器里的數(shù)據(jù)讀出。

接口適配器的組成框圖

  2 存儲(chǔ)器測(cè)試算法分析

  2.1 存儲(chǔ)器故障類型

  存儲(chǔ)器故障總體可以分為單個(gè)單元的故障和單元之間的故障兩類。單個(gè)單元的故障包括:粘滯故障(SAF)一個(gè)陣列總是0或1;轉(zhuǎn)換故障(TF),即一個(gè)特定單元在一定轉(zhuǎn)換序列后不能進(jìn)行0/1翻轉(zhuǎn);數(shù)據(jù)保持故障(DFR),即一個(gè)單元在一段時(shí)間后不能保持它的邏輯值等。單元之間的故障主要是耦合故障(CF),它包括字間故障和字內(nèi)故障。

  2.2 March算法

  針對(duì)存儲(chǔ)器不同的故障類型,提出了多種存儲(chǔ)器的測(cè)試算法,如 March算法、Walking算法、Calloping算法等。其中,March算法具有較高的故障覆蓋率,較小的時(shí)間復(fù)雜度,在存儲(chǔ)器測(cè)試中得到廣泛應(yīng)用。其基本步驟用公式表示如下:

基本步驟

  式中:Cij表示第i行,第j列的存儲(chǔ)單元;R表示讀操作;W表示寫操作;?ij表示全部c的集合;∑表示?ij,集內(nèi)的總和;逗號(hào)“,”是公式內(nèi)各有序操作之間的分隔符;0或1表示背景數(shù)據(jù)和操作數(shù)據(jù)。根據(jù)公式可以算出測(cè)試的復(fù)雜度為 5N。簡(jiǎn)單說(shuō)就是按照一定的規(guī)則向存儲(chǔ)器寫入和讀出數(shù)據(jù)。針對(duì)不同的故障模型,在測(cè)試中添加不同的數(shù)據(jù)背景可以實(shí)現(xiàn)相應(yīng)的故障覆蓋。通常,一種算法不能覆蓋所有的故障類型,所以測(cè)試時(shí)要用兩種或兩種以上的算法。


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