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IMEC向Samsung提供嵌入式SRAM可制造設(shè)計(jì)工具

作者: 時(shí)間:2009-04-23 來(lái)源:SEMI 收藏

  近日成功地將靜態(tài)分析工具M(jìn)emoryVAM轉(zhuǎn)交給Samsung。該工具可預(yù)估深亞微米技術(shù)中因工藝不穩(wěn)定而造成的SRAM成品率損失。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/93729.htm

  該工具同時(shí)還幫助和系統(tǒng)設(shè)計(jì)者估算由于周期時(shí)間、存取時(shí)間和功耗等工藝因素變化而造成的成品率降低



關(guān)鍵詞: IMEC 存儲(chǔ)器 IC

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