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IMEC向Samsung提供嵌入式SRAM可制造設(shè)計工具

作者: 時間:2009-04-23 來源:SEMI 收藏

  近日成功地將靜態(tài)分析工具MemoryVAM轉(zhuǎn)交給Samsung。該工具可預估深亞微米技術(shù)中因工藝不穩(wěn)定而造成的SRAM成品率損失。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/93729.htm

  該工具同時還幫助和系統(tǒng)設(shè)計者估算由于周期時間、存取時間和功耗等工藝因素變化而造成的成品率降低



關(guān)鍵詞: IMEC 存儲器 IC

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