科利登安裝完備失效分析實(shí)驗(yàn)室

科利登系統(tǒng)有限公司，日前宣布威盛電子股份有限公司（VIA Technologies, Inc.）成為臺(tái)灣地區(qū)首家從科利登購(gòu)買(mǎi)整套用于設(shè)計(jì)，調(diào)試和特征分析的先進(jìn)的電性失效分析實(shí)驗(yàn)室的Fabless(無(wú)生產(chǎn)線(xiàn)的芯片設(shè)計(jì)公司）。

科利登可用于65nm技術(shù)的完備實(shí)驗(yàn)室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng)，具有時(shí)間精度的發(fā)射技術(shù)，激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具，能把所有的失效分析和設(shè)計(jì)調(diào)試的硬件單元集成起來(lái)。該解決方案通過(guò)提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量，能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報(bào)率。它能增加首次流片的成功概率，加速產(chǎn)品上市時(shí)間，加快關(guān)鍵缺陷的失效分析，從而減少產(chǎn)品開(kāi)發(fā)及掩模板時(shí)故障隔離的成本。同時(shí)，它也能在芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進(jìn)行有效的特征分析。