科利登為威盛安裝首套分析實(shí)驗(yàn)室

科利登系統(tǒng)有限公司（Credence Systems Corp），日前宣布威盛電子股份有限公司（VIA Technologies, Inc.）成為臺(tái)灣地區(qū)首家從科利登購買整套用于設(shè)計(jì)，調(diào)試和特征分析的先進(jìn)的電性失效分析實(shí)驗(yàn)室的無生產(chǎn)線的芯片設(shè)計(jì)公司。

科利登可用于65nm技術(shù)的完備實(shí)驗(yàn)室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng)，具有時(shí)間精度的發(fā)射技術(shù)，激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具，能把所有的失效分析和設(shè)計(jì)調(diào)試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量，能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報(bào)率。它能增加首次流片的成功概率，加速產(chǎn)品上市時(shí)間，加快關(guān)鍵缺陷的失效分析，從而減少產(chǎn)品開發(fā)及掩模板時(shí)故障隔離的成本。同時(shí)，它也能在芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進(jìn)行有效的特征分析。用戶可以擺脫只依賴CAD工具在有限的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行失效分析的局面。

威盛電子MPE部門的副總裁Shelton Lu說.：“威盛準(zhǔn)確把握新技術(shù)的市場動(dòng)向，并將它融入到我們的芯片產(chǎn)品和各種核心邏輯芯片組里面，從而能持續(xù)保持它在業(yè)界領(lǐng)先地位。因?yàn)橹恍枧c同一個(gè)公司合作，所以我們能夠在整個(gè)設(shè)計(jì)和調(diào)試流程中很好地利用科利登的技術(shù)和專業(yè)優(yōu)勢(shì)。科利登能提供一整套完備的先進(jìn)實(shí)驗(yàn)室解決方案，涵蓋了那些所必需的先進(jìn)調(diào)試工具，同時(shí)又保護(hù)了fabless和foundry之間的那些臨界知識(shí)產(chǎn)權(quán)?？评堑慕鉀Q方案非常適合威盛的商業(yè)模式。 ”