科利登為威盛安裝首套分析實(shí)驗(yàn)室
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科利登可用于65nm技術(shù)的完備實(shí)驗(yàn)室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時間精度的發(fā)射技術(shù),激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設(shè)計(jì)調(diào)試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量,能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報(bào)率。它能增加首次流片的成功概率,加速產(chǎn)品上市時間,加快關(guān)鍵缺陷的失效分析,從而減少產(chǎn)品開發(fā)及掩模板時故障隔離的成本。同時,它也能在芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進(jìn)行有效的特征分析。用戶可以擺脫只依賴CAD工具在有限的時間內(nèi)進(jìn)行失效分析的局面。
威盛電子MPE部門的副總裁Shelton Lu說.:“威盛準(zhǔn)確把握新技術(shù)的市場動向,并將它融入到我們的芯片產(chǎn)品和各種核心邏輯芯片組里面,從而能持續(xù)保持它在業(yè)界領(lǐng)先地位。因?yàn)橹恍枧c同一個公司合作,所以我們能夠在整個設(shè)計(jì)和調(diào)試流程中很好地利用科利登的技術(shù)和專業(yè)優(yōu)勢。科利登能提供一整套完備的先進(jìn)實(shí)驗(yàn)室解決方案,涵蓋了那些所必需的先進(jìn)調(diào)試工具,同時又保護(hù)了fabless和foundry之間的那些臨界知識產(chǎn)權(quán)。科利登的解決方案非常適合威盛的商業(yè)模式。 ”
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