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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 可靠性

電子產(chǎn)品的可靠性與噪聲分析

  • 隨著電子技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域的日益擴(kuò)大, 電子產(chǎn)品的可靠性問(wèn)題愈來(lái)愈多的困擾著維修人員。影響電子產(chǎn)品可靠性問(wèn)題很多，其中噪聲是最重要方面。所謂噪聲即造成人或設(shè)備惡劣影響的干擾信號(hào)的總稱。如：造成人身心不愉快感覺(jué)
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提高PCB設(shè)備可靠性的措施

  • (1)簡(jiǎn)化方案設(shè)計(jì)?！　》桨冈O(shè)計(jì)時(shí)，在確保設(shè)備滿足技術(shù)、性能指標(biāo)的前提下，應(yīng)盡量簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)化電路和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使每個(gè)部件都成為最簡(jiǎn)設(shè)計(jì)。當(dāng)今世界流行的模塊化設(shè)計(jì)方法是提高設(shè)備可靠性的有效措施。塊功能相對(duì)單
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相變存儲(chǔ)器的高可靠性多值存儲(chǔ)設(shè)計(jì)

  • 摘要：基于相變存儲(chǔ)器(PCM) 已有的2T2R 結(jié)構(gòu)，提出一種以比值為導(dǎo)向的狀態(tài)定義方法，以實(shí)現(xiàn)2T2R 結(jié)構(gòu)下PCM 的多值存儲(chǔ)。它在相變電阻具有4 態(tài)可編寫的能力下，可以實(shí)現(xiàn)單元內(nèi)8 態(tài)存儲(chǔ)，同時(shí)對(duì)小尺寸驗(yàn)證，而對(duì)PCM 存
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基于可靠性和成本問(wèn)題如何選擇不同的遠(yuǎn)程抄表方案

  • “遠(yuǎn)程抄表”從字面看來(lái)，重點(diǎn)是遠(yuǎn)程上，遠(yuǎn)程到底有多遠(yuǎn)？一公里？?jī)晒?？這都不算遠(yuǎn)，目前的抄表距離最遠(yuǎn)達(dá)百公里以上。這么遠(yuǎn)的距離就需要考慮傳輸?shù)目煽啃院统杀镜膯?wèn)題。目前市面上形形色色的抄表中
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揚(yáng)聲器的可靠性及相關(guān)試驗(yàn)介紹

  • 1 引言
    在人們的日常活動(dòng)中，經(jīng)常會(huì)涉及到產(chǎn)品的可靠 性問(wèn)題。但是可靠性學(xué)科的誕生并不久遠(yuǎn)，中國(guó)從2O世紀(jì)5O年代中期 開(kāi)始建 立了可靠性試驗(yàn)基地，推動(dòng)了國(guó)產(chǎn)元器件的可 靠性進(jìn)程，為今天國(guó)產(chǎn)元器件廣泛地進(jìn)
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采用電池監(jiān)測(cè)系統(tǒng)來(lái)提高UPS的可靠性

  • 在我們的工作和生活中，我們已經(jīng)有很多方面依賴電子設(shè)備。從移動(dòng)通信到數(shù)據(jù)中心等多種設(shè)備都必須實(shí)現(xiàn)最短停機(jī)時(shí)間的運(yùn)行，這使得電源供應(yīng)的可靠性成為一個(gè)關(guān)鍵性的問(wèn)題。不間斷電源(UPS) 可在停電時(shí)提供備用電力，因
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一種高可靠性的頻率測(cè)量系統(tǒng)

  • 1 引言頻率是電力電子系統(tǒng)中1個(gè)基本的物理量，其測(cè)量問(wèn)題在工程應(yīng)用中非常重要。通常的測(cè)量方案是選用單片機(jī)或可編程邏輯器件。然而，在某些特殊場(chǎng)合，工作環(huán)境惡劣，要求測(cè)量精度高、可靠性強(qiáng)，使用常規(guī)的方案難以達(dá)
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汽車電子環(huán)境可靠性相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

  • 1、簡(jiǎn)介汽車的控制系統(tǒng)是以高端電子設(shè)備為基礎(chǔ)，因此電子控制設(shè)備的可靠性對(duì)整車的可靠性起主導(dǎo)作用...
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LED驅(qū)動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測(cè)試方案

  • 一 　引言隨著人類科技的不斷發(fā)展，我們星球的夜晚變得越來(lái)越明亮，越來(lái)越絢爛，在這些變化的背后，是不斷發(fā)展的照明技術(shù)。在照明技術(shù)的開(kāi)發(fā)及制造中使用的電 子系統(tǒng)和元器件改變了照明設(shè)備及系統(tǒng)的未來(lái)。縱觀照明技
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基于Arrhenius模型快速評(píng)價(jià)功率VDMOS可靠性

  • 0 引言　　垂直導(dǎo)電雙擴(kuò)散場(chǎng)（VDMOS）效應(yīng)晶體管是新一代集成化半導(dǎo)體電力器件的代表［1］。與功率晶體管相比，具有輸入阻抗高、熱穩(wěn)定性高、開(kāi)關(guān)速度快、驅(qū)動(dòng)電流小、動(dòng)態(tài)損耗小、失真小等優(yōu)點(diǎn)。因此VDMOS廣泛應(yīng)用在
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玩轉(zhuǎn)電機(jī)——驅(qū)動(dòng)算法是成敗關(guān)鍵

  • 電機(jī)驅(qū)動(dòng)的最大難點(diǎn)在于成本和算法，其算法和精度及可靠性又密切相關(guān)。此外，電機(jī)能耗占世界能耗的一半左右...
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Linear用于高可靠性醫(yī)療應(yīng)用的混合信號(hào)解決方案

  • Linear用于高可靠性醫(yī)療應(yīng)用的混合信號(hào)解決方案,醫(yī)學(xué)和醫(yī)療方式的進(jìn)步使得有希望進(jìn)行更準(zhǔn)確的診斷、采用新的治療方法以及對(duì)病人進(jìn)行更方便的醫(yī)療看護(hù)。從高分辨率成像系統(tǒng)到藥品提供系統(tǒng)和可植入電子產(chǎn)品，模擬和數(shù)字IC正在醫(yī)療領(lǐng)域發(fā)揮著越來(lái)越大的作用。這些儀器
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利用Scrum/Sprint開(kāi)發(fā)流程構(gòu)建高可靠性醫(yī)療電子設(shè)

  • 利用Scrum/Sprint開(kāi)發(fā)流程構(gòu)建高可靠性醫(yī)療電子設(shè)備,幾乎每個(gè)使用手機(jī)的人都會(huì)有過(guò)幾次通話中斷的經(jīng)歷。雖然這些產(chǎn)品以及其他消費(fèi)類產(chǎn)品的系統(tǒng)故障或者小毛病會(huì)帶來(lái)不方便，但它們不會(huì)造成災(zāi)難性的后果。然而，醫(yī)療電子設(shè)備的一次系統(tǒng)故障就會(huì)帶來(lái)生命威脅，這也是為什
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提高供電可靠性有哪些有效的措施?

  • 供電可靠性與系統(tǒng)可靠性、電網(wǎng)結(jié)構(gòu)與變電站主接線可靠性、繼電保護(hù)與安全自動(dòng)裝置配置、電力系統(tǒng)備用容量與運(yùn)行方式等密切相關(guān)。因此，從電力系統(tǒng)規(guī)劃直到電力系統(tǒng)運(yùn)行都要重視提高供電可靠性。提高供電可靠性的措施
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利用超聲技術(shù)提升醫(yī)療器械的可靠性方案

  • 利用超聲技術(shù)提升醫(yī)療器械的可靠性方案,醫(yī)療器械在使用過(guò)程中出現(xiàn)的故障通常是由某種類型的潛在瑕疵引起的。如果故障不屬于電子范疇（即便有時(shí)屬于），潛在瑕疵常常是結(jié)構(gòu)性的缺陷，如內(nèi)部裂紋、脫層或孔隙?？紤]到時(shí)間、震動(dòng)和熱學(xué)應(yīng)力，這些潛在瑕疵類型
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