可靠性文章進(jìn)入可靠性技術(shù)社區(qū)

IGBT如何進(jìn)行可靠性測(cè)試？

在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng)，公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的，可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng)，必須確保產(chǎn)品達(dá)到或超過基本的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和可靠性標(biāo)準(zhǔn)。安森美 (onsemi) 作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商，為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運(yùn)行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達(dá)到了高品質(zhì)和高可靠性。人們認(rèn)識(shí)到，為實(shí)現(xiàn)有保證的質(zhì)量性能，最佳方式是摒棄以前的“通過測(cè)試確保質(zhì)量”方法，轉(zhuǎn)而擁抱新的“通過設(shè)計(jì)確保質(zhì)量”理念。在安森美，我們使用雙重方法來達(dá)到最終的質(zhì)量和可靠性水
關(guān)鍵字： IGBT 可靠性測(cè)試

Molex莫仕公布全球可靠性和硬件設(shè)計(jì)調(diào)研結(jié)果

?·?????? 超過一半的調(diào)研參與者表示，可靠性會(huì)促進(jìn)品牌忠誠(chéng)度??·?????? 可靠性方面的主要挑戰(zhàn)包括充足的測(cè)試時(shí)間、供貨商質(zhì)量、成本，以及產(chǎn)品設(shè)計(jì)屬性與影響可靠性之間的相關(guān)性??·?????? 46%的受訪者認(rèn)為，人工智能、機(jī)器學(xué)習(xí)、模擬和分析是提高產(chǎn)品可靠性的最佳選擇
關(guān)鍵字： Molex 莫仕可靠性硬件設(shè)計(jì)

基于Microchip dsPIC33CK256MP505 高性能DSP開發(fā)的250W微逆變電源方案

隨著傳統(tǒng)化石能源的供應(yīng)不穩(wěn)定因素增加以及國(guó)家碳達(dá)峰，碳中和的要求，太陽能、風(fēng)能等可再生能源需求急增；同時(shí)戶外運(yùn)動(dòng)的不斷普及也給便攜式儲(chǔ)能電源的發(fā)展帶來了前所未有有機(jī)遇，另外隨著我們經(jīng)濟(jì)不斷發(fā)展；智能家電在人民日常生活中廣泛應(yīng)用，家用儲(chǔ)能電源也日益得到人民的重視，這些行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用需求推動(dòng)了逆變電源轉(zhuǎn)換的巨大發(fā)展。如何實(shí)現(xiàn)可靠穩(wěn)定并網(wǎng)運(yùn)行、降低轉(zhuǎn)換損耗、增加功率密度，降低開發(fā)難度及開發(fā)周期是廣大電源研發(fā)工程師的關(guān)注焦點(diǎn)。Microchip 的 Level 4 純數(shù)字電源方案，將為新能源儲(chǔ)能逆變這個(gè)行業(yè)提供完
關(guān)鍵字： Microchip 逆變電源數(shù)字化并網(wǎng)發(fā)電可靠性

輸出過壓保護(hù)電路的設(shè)計(jì)思路

介紹了五種輸出過壓保護(hù)電路的設(shè)計(jì)思路，并根據(jù)每種方案的優(yōu)缺點(diǎn)，分析如何在實(shí)際應(yīng)用中選擇最合適的輸出過壓保護(hù)電路。
關(guān)鍵字： 202304 過壓保護(hù) 電源可靠性電路對(duì)比

電視機(jī)直下式低成本背光系統(tǒng)研究與應(yīng)用

直下式LED背光模組廣泛應(yīng)用于液晶電視、平板燈、廣告燈箱、警示牌等領(lǐng)域。常規(guī)性能直下式LED背光技術(shù)已趨成熟，高效轉(zhuǎn)換效率光電材料和廣角光學(xué)透鏡技術(shù)尚未十分成熟，如何進(jìn)一步提高LED背光源高效光電轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)背光模組同一混光距離透鏡使用數(shù)量進(jìn)一步減少達(dá)到降成本目的，開發(fā)大發(fā)光角度透鏡提高背光模組的亮度均勻性及背光模組可靠性等問題十分關(guān)鍵，進(jìn)行相關(guān)方法的研究具有重要意義。
關(guān)鍵字：直下式背光模組 LED 光學(xué)透鏡可靠性 202302

某航空用壓力傳感器可靠性研究

壓力傳感器的可靠性是考核質(zhì)量好壞的重要指標(biāo)，可以綜合反應(yīng)壓力傳感器的性能，可靠性的高低關(guān)系著工作效率、經(jīng)濟(jì)效益，甚至直接影響人身安全問題。因此，對(duì)壓力傳感器的可靠性研究顯得十分重要和非常迫切。本文通過對(duì)壓力傳感器的工作原理和工作環(huán)境的分析，以理論計(jì)算等方式，對(duì)壓力傳感器的可靠性進(jìn)行了研究。用以判斷壓力傳感器的可靠性是否達(dá)到技術(shù)要求，分析航空用壓力傳感器使用過程中的薄弱環(huán)節(jié)。從壓力傳感器設(shè)計(jì)和使用角度出發(fā)，對(duì)薄弱環(huán)節(jié)采取相應(yīng)的控制措施，提高了航空用壓力傳感器的可靠性和穩(wěn)定性。
關(guān)鍵字：壓力傳感器可靠性 MTBF 失效率 202211

基于高壓LED搭建的背光控制電視系統(tǒng)

摘? 要：本文引入一種應(yīng)用在局部背光調(diào)節(jié)系統(tǒng)的新型高壓LED方案，并對(duì)其進(jìn)行了詳細(xì)講述，與傳統(tǒng)方案相比，新方案無論是在可靠性、成本、還是效率方面均有不同程度的優(yōu)化，值得學(xué)習(xí)和推廣。關(guān)鍵詞：局部背光調(diào)節(jié)；高壓LED；BUCK 橫流模塊；可靠性隨著消費(fèi)者對(duì)液晶電視機(jī)畫質(zhì)要求的不斷提升， Local Dimming（局部背光調(diào)節(jié)）作為提升對(duì)比度的主要技術(shù)受到了各大電視機(jī)廠家的青睞。眾所周知，電視機(jī)的分區(qū)越多，Local Dimming 的效果越好，動(dòng)態(tài)對(duì)比度越高，畫質(zhì)更佳。而在電視機(jī)上
關(guān)鍵字： 202210 局部背光調(diào)節(jié) 高壓LED BUCK 橫流模塊可靠性

關(guān)于輸出可調(diào)電路的電源設(shè)計(jì)要點(diǎn)

?隨著電器的豐富，用電場(chǎng)所的增加，常規(guī)的輸出電壓已不滿足多樣化使用場(chǎng)景的要求。特別當(dāng)用電設(shè)備與供電設(shè)備距離較遠(yuǎn)時(shí)，途中導(dǎo)線帶來的電壓降無法忽略，它會(huì)降低負(fù)載的實(shí)際供電電壓，影響用電質(zhì)量。為了兼顧所有用電者，輸出可調(diào)的電源應(yīng)運(yùn)而生。
關(guān)鍵字： 202208 輸出可調(diào) 電源可靠性電壓調(diào)整電路對(duì)比

開關(guān)電源芯片的失效分析與可靠性研究

摘要：隨著科技的飛速發(fā)展，電器設(shè)備的使用越來越廣泛，功能也越來越強(qiáng)大，體積也越來越小，導(dǎo)致了對(duì) 電源模塊要求在不斷增加。開關(guān)芯片在應(yīng)用中失效，經(jīng)分析為電路設(shè)計(jì)本身可靠性差，導(dǎo)致開關(guān)芯片失效。本文通過增加放電與限流貼片電阻，對(duì)電路設(shè)計(jì)優(yōu)化更改，使電路工作可靠性明顯提高，滿足電路設(shè)計(jì)需求，改善后應(yīng)用失效大幅度減低。關(guān)鍵詞：弱電端短路；過電損傷；放電電阻；限流電阻；可靠性0 引言?現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)電源模塊的工作效率、體積以及安全要求等技術(shù)性能指標(biāo)要求越來越高，開關(guān)電源電路憑借良好的性能在電
關(guān)鍵字： 202208 弱電端短路過電損傷放電電阻限流電阻可靠性

GaN是否具有可靠性？或者說我們能否如此提問？

鑒于氮化鎵 (GaN) 場(chǎng)效應(yīng)晶體管 (FET) 能夠提高效率并縮小電源尺寸，其采用率正在迅速提高。但在投資這項(xiàng)技術(shù)之前，您可能仍然會(huì)好奇GaN是否具有可靠性。令我驚訝的是，沒有人詢問硅是否具有可靠性。畢竟仍然有新的硅產(chǎn)品不斷問世，電源設(shè)計(jì)人員對(duì)硅功率器件的可靠性也很關(guān)心。事實(shí)上，GaN行業(yè)已經(jīng)在可靠性方面投入了大量精力和時(shí)間。而人們對(duì)于硅可靠性方面的問題措辭則不同，比如“這是否通過了鑒定？”盡管GaN器件也通過了硅鑒定，但電源制造商仍不相信采用硅方法可以確保GaN FET的可靠性。這是一個(gè)合理的觀點(diǎn)，因
關(guān)鍵字： GaN FET 電源可靠性

基于改進(jìn)最小生成樹的配網(wǎng)線路優(yōu)化

針對(duì)配網(wǎng)規(guī)劃過程中難以考慮城市地理環(huán)境條件的快速變化等難題，提出了基于城市環(huán)境影響的配網(wǎng)線路優(yōu)化方法。首先，總結(jié)配電網(wǎng)可靠性規(guī)劃的步驟，分析城市配電網(wǎng)的環(huán)境約束對(duì)網(wǎng)架結(jié)構(gòu)的影響；然后，利用GIS提供的城市環(huán)境等信息，考慮線路網(wǎng)損以及配電網(wǎng)電壓降落的要求，確定主干線并形成初始線路集；最后，根據(jù)配電網(wǎng)輻射式網(wǎng)絡(luò)的基本特征，建立啟發(fā)式規(guī)則，利用改進(jìn)的最小生成樹方法對(duì)城市配電網(wǎng)的輻射網(wǎng)進(jìn)行優(yōu)化，從而提高配電網(wǎng)供電可靠性水平。
關(guān)鍵字： ?配網(wǎng)優(yōu)化可靠性輻射式網(wǎng)絡(luò) 最小生成樹 202201

基于供電可靠性的配電網(wǎng)規(guī)劃

隨著城市建設(shè)不斷推進(jìn)，配電線路逐漸規(guī)?；图夯?，針對(duì)城市配電網(wǎng)線路輸送通道緊張等問題，為保障供電可靠性為目標(biāo)，著重研究配電網(wǎng)的規(guī)劃方法。首先介紹計(jì)算配電網(wǎng)主干線可靠性方法，在一定假設(shè)條件下從平均故障時(shí)間和故障率、電量損失期望計(jì)算可靠性指標(biāo)；其次，建立配電網(wǎng)可靠性規(guī)劃的數(shù)學(xué)模型，對(duì)輻射型配電網(wǎng)進(jìn)行潮流計(jì)算，以年綜合費(fèi)用最低為目標(biāo)規(guī)劃變電站與負(fù)荷點(diǎn)之間的連線，最后改進(jìn)離散二進(jìn)制粒子群算法，給出求解方案。
關(guān)鍵字：配網(wǎng)規(guī)劃可靠性離散二進(jìn)制粒子群算法 202112

雙面壓接背板可靠性研究

雙面壓接背板作為一種高速背板，用于實(shí)現(xiàn)線路信號(hào)傳輸和互連。本文從雙面壓接背板的結(jié)構(gòu)、設(shè)計(jì)過程和制備工藝流程等方面探討了雙面壓接背板的可靠性。
關(guān)鍵字：高速背板可靠性制備流程電路板 202105

變頻電源開關(guān)芯片炸裂的失效分析與可靠性研究

隨著科技的發(fā)展，電器設(shè)備使用越來越廣泛，功能越來越強(qiáng)大，體積也越來越小，對(duì)電源模塊的要求不斷增加。開關(guān)電源具有效率高、成本低及體積小的特點(diǎn)，在電氣設(shè)備中獲得了廣泛的應(yīng)用。經(jīng)分析，開關(guān)電源電路多個(gè)器件失效主要是電路中高壓瓷片電容可靠性差，導(dǎo)致開關(guān)芯片失效。本文通過增加瓷片電容材料的厚度提高其耐壓性能和其他性能，使產(chǎn)品各項(xiàng)性能有效提高，滿足電路設(shè)計(jì)需求，減少售后失效。
關(guān)鍵字：開關(guān)電源高壓瓷片電容芯片耐壓提升可靠性 202105 MOSFET

某型紅外探測(cè)器預(yù)處理電路失效分析

摘要：作為紅外探測(cè)系統(tǒng)中的基礎(chǔ)硬件和關(guān)鍵部件，預(yù)處理電路的性能直接影響紅外探測(cè)系統(tǒng)成像質(zhì)量。針對(duì)某型紅外探測(cè)器預(yù)處理電路的故障現(xiàn)象，建立故障樹逐步進(jìn)行失效分析，定位異常處并通過測(cè)試驗(yàn)證，進(jìn)而提出糾正措施避免類似異常的發(fā)生。經(jīng)過本次失效分析，找到了偶然事件產(chǎn)生的根源，通過采取糾正措施，降低了偶然失效發(fā)生的概率，對(duì)產(chǎn)品可靠性的提高具有顯著實(shí)用價(jià)值。圖1 紅外探測(cè)系統(tǒng)功能框圖預(yù)處理電路是紅外探測(cè)系統(tǒng)模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)的橋梁，其采集性能、圖像處理能力及輸出信號(hào)直接影響紅外探測(cè)系統(tǒng)成像質(zhì)量，是整體系統(tǒng)的關(guān)鍵部件[2
關(guān)鍵字： 202106 紅外探測(cè)器預(yù)處理電路失效分析可靠性