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基于ARM的SoC FPGA嵌入式系統(tǒng)的設(shè)計實現(xiàn)
- 本白皮書討論用于實現(xiàn)基于ARM 的嵌入式系統(tǒng)的Altera 可編程芯片系統(tǒng)(SoC)方法。對于面臨產(chǎn)品及時面市、成本、性能、設(shè)計重用和產(chǎn)品長壽命等苛刻要求的嵌入式系統(tǒng)開發(fā)人員而言,單芯片方案是非常有價值的方法。
- 關(guān)鍵字: 硬核處理器 嵌入式系統(tǒng) FPGA
利用FPGA實現(xiàn)外設(shè)通信接口之: 利用FPGA實現(xiàn)常用顯示接口(Display Interface)
- 七段數(shù)碼管因為價格低廉,使用簡單,經(jīng)常被用來實現(xiàn)一些簡單的狀態(tài)顯示功能。七段數(shù)碼管的標(biāo)準外觀圖如圖10.16所示。右下角的圓點用Dp來表示,用來實現(xiàn)小數(shù)點的顯示。
- 關(guān)鍵字: 顯示接口 七段數(shù)碼管 FPGA 字符型LCD顯示接口 VGA
利用FPGA實現(xiàn)外設(shè)通信接口之:利用FPGA實現(xiàn)USB 2.0通信接口
- 利用FPGA來實現(xiàn)USB 2.0接口的方式一般有兩種,一是借助外圍的USB接口芯片,二是FPGA內(nèi)部實現(xiàn)USB協(xié)議控制器,外部通過USB的PHY芯片來實現(xiàn)接口。
- 關(guān)鍵字: 外設(shè)通信接口 USB2.0 FPGA CY7C68013
FPGA大型設(shè)計應(yīng)用的多時鐘設(shè)計策略闡述
- 利用FPGA實現(xiàn)大型設(shè)計時,可能需要FPGA具有以多個時鐘運行的多重數(shù)據(jù)通路,這種多時鐘FPGA設(shè)計必須特別小心,需要注意最大時鐘速率、抖動、最大時鐘數(shù)、異步時鐘設(shè)計和時鐘/數(shù)據(jù)關(guān)系。設(shè)計過程中最重要的一步是確定要用多少個不同的時鐘,以及如何進行布線,本文將對這些設(shè)計策略深入闡述。
- 關(guān)鍵字: 亞穩(wěn)態(tài)性 多時鐘 FPGA
基于分層測試的Virtex系列FPGA互聯(lián)資源測試新方法
- 以基于靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)為例,在傳統(tǒng)的三次測試方法的基礎(chǔ)上提出了一種新穎的針對FPGA互聯(lián)資源的測試方法。該方法運用了層次化的思想,根據(jù)開關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(PIP)兩端連線資源的區(qū)別將互聯(lián)資源進行層次化分類,使得以這種方式劃分的不同類別的互聯(lián)資源能夠按一定方式進行疊加測試,這就從根本上減少了實際需要的測試配置圖形和最小配置次數(shù)。
- 關(guān)鍵字: 互聯(lián)資源 分層測試 FPGA
基于FPGA的超級電容充放電控制
- 由于超級電容器單體性能參數(shù)的離散性,當(dāng)多個單體串聯(lián)組成電容器組時,在充放電過程中容易造成過充或過放現(xiàn)象,嚴重危害超級電容器的使用壽命。文中提出以FPGA為檢測、控制單元,對電容進行有效地充放電控制,防止過充或過放,提高超級電容器的循環(huán)使用次數(shù),降低不必要的能量消耗。
- 關(guān)鍵字: 超級電容 串聯(lián)均壓 FPGA
基于FPGA的片上可編程系統(tǒng)(SOPC)設(shè)計之:基于NIOS II的開發(fā)設(shè)計流程
- NIOS II使用NIOS II IDE集成開發(fā)環(huán)境來完成整個軟件工程的編輯、編譯、調(diào)試和下載。在采用NIOS處理器設(shè)計嵌入式系統(tǒng)時,通常會按照以下步驟。
- 關(guān)鍵字: 片上可編程系統(tǒng) SOPC FPGA NiosII
基于FPGA的片上可編程系統(tǒng)(SOPC)設(shè)計之:Altera公司的NIOS II解決方案
- NIOS II是一個用戶可配置的通用RISC嵌入式處理器。Altera推出的NIOS II系列嵌入式處理器擴展了目前世界上最流行的軟核嵌入式處理器的性能。
- 關(guān)鍵字: Altera 片上可編程系統(tǒng) SOPC FPGA NiosII
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