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SiC MOSFET應(yīng)用技術(shù)在雪崩條件下的魯棒性評(píng)估
電源與新能源
MOSEFT
VDS
UIS
DUT
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2020-08-04
Verkotan采用羅德與施瓦茨的PWC技術(shù)進(jìn)行5G NR OTA基站測(cè)試
測(cè)試測(cè)量
PWC
OTA
DUT
NR
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2020-06-10
羅德與施瓦茨和聯(lián)發(fā)科技共同驗(yàn)證 5G NR 動(dòng)態(tài)頻譜共享（DSS）
DSS
DUT
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2020-03-27
鼎陽(yáng)科技發(fā)布SSG5000X系列射頻模擬/矢量信號(hào)源
模擬技術(shù)
LO
發(fā)射器
DUT
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2020-03-02
CAN一致性測(cè)試隔離和非隔離供電的電路區(qū)別
工控自動(dòng)化
CAN
DUT
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2019-03-02
利用FPGA實(shí)現(xiàn)原型板原理圖的驗(yàn)證
測(cè)試測(cè)量
PCB
DUT
FPGA
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2017-06-04
如何準(zhǔn)確測(cè)量CAN節(jié)點(diǎn)的信號(hào)邊沿參數(shù)
測(cè)試測(cè)量
CAN
DUT
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2015-07-26
ICE時(shí)代正在悄然離去
嵌入式系統(tǒng)
ICE
DUT
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2015-05-07
理解RF器件性能測(cè)量過程中的紋波：理論與實(shí)驗(yàn)(下)
測(cè)試測(cè)量
RF
DUT
TEM
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2014-04-01
理解RF器件性能測(cè)量過程中的紋波：理論與實(shí)驗(yàn)(上)
測(cè)試測(cè)量
RF
DUT
TEM
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2014-04-01
新的吉時(shí)利電源允許高達(dá)10kV的安全擊穿測(cè)試
測(cè)試測(cè)量
吉時(shí)利
2290
SMU
DUT
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2014-03-20
吉時(shí)利推出經(jīng)濟(jì)型雙通道與三通道可編程電源最高性價(jià)比產(chǎn)品
測(cè)試測(cè)量
吉時(shí)利
測(cè)量?jī)x器
DUT
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2012-10-10
支持4個(gè)雙天線DUT的非信令2G/3G/LTE綜測(cè)方案
手機(jī)與無(wú)線通信
方案
2G/3G/LTE
DUT
天線
支持
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2012-10-05
基于NI TestStand 和LabVIEW開發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)
手機(jī)與無(wú)線通信
NI
測(cè)試系統(tǒng)
DUT
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2012-07-09
如何提高射頻測(cè)試儀的精度
射頻測(cè)試儀器
射頻測(cè)量
DUT
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2012-01-30
把握六點(diǎn)助你提高RF微波測(cè)試正確性
RF微波測(cè)試
正確性
DUT
量測(cè)儀器
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2012-01-04
矢網(wǎng)Wiltron360B應(yīng)用在RF仿真中的
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
Wiltron360B
DUT
射頻仿真
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2011-12-28
Multitest的MT9510通過XTC實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展溫度控制
EDA/PCB
Multitest
測(cè)試負(fù)載板
DUT
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2011-05-10
DDS信號(hào)源在掃頻測(cè)試中的具體應(yīng)用
測(cè)試測(cè)量
DDS信號(hào)源
掃頻測(cè)試
DUT
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2010-07-28
如何降低測(cè)試系統(tǒng)開關(guān)噪聲(04-100)
測(cè)試測(cè)量
測(cè)試
噪聲
DUT
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2008-04-01
沒有ATE生成向量的精密測(cè)試(04-100)
工控自動(dòng)化
BIST
DUT
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2008-04-01
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2024年10大半導(dǎo)體故事:萬(wàn)億晶體管 GPU、鋼切片激光芯片、粒子加速器等
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