飛思卡爾運用JMP提升半導體良率

　　飛思卡爾在這方面使用的工具是專業(yè)統(tǒng)計分析軟件JMP。半導體行業(yè)的工程師整天要和數據打交道，飛思卡爾內部的幾位既懂專業(yè)又懂統(tǒng)計的資深專家發(fā)揮JMP使用簡單、功能強大、可視化效果好的優(yōu)勢，讓JMP成為了飛思卡爾良率提升的關鍵武器之一。

　　例如，飛思卡爾的工程十分用半導體行業(yè)中常見的晶圓圖Wafer Plot來初步分析晶圓的缺陷，以下兩個圖形就是運用JMP軟件繪制而成的。第一張圖顯示的是單個晶圓的質量特征，并配有帕累托圖Pareto Plot展示芯片的良率狀況和各種缺陷出現(xiàn)的頻次。第二張圖則是從整體層面顯示一個批次Lot產品的質量特征(一般來說，飛思卡爾規(guī)定25個晶圓組成1個批次)。

　　基于JMP軟件的單個晶圓圖分析

　　基于JMP軟件的5X5晶圓圖

　　在當前的經濟形勢和行業(yè)條件下，企業(yè)不允許工程師們花費大量的時間來進行數據分析和展示，而是要求工程師們將更多的精力放在實際的業(yè)務改進中。飛思卡爾巧妙地利用JMP提供的自動編程語言JSL(JMP Script Language)為大規(guī)模重復性分析、繪圖工作以及成熟的建模工作開發(fā)出各種JMP腳本程序，從很大程度上實現(xiàn)了“分析自動化”，使得良率改善人員只需要要點擊一兩個按鈕,就可以完成通過菜單操作需要幾個小時才能完成的分析工作，大大節(jié)省了數據分析、問題發(fā)現(xiàn)以及解決方案形成的時間。