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羅姆SiC評估板測評:快充測試

作者:胡世 時間:2022-03-19 來源:EEPW論壇 收藏

一、測試工裝準備

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/202203/432173.htm

1、P02SCT3040KR-EVK-001測試板

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2、電壓源

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3、示波器

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4、負載儀

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二、測試項目進行

1、安裝 SIC后的空載波形

安裝

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空載波形

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空板,空載GS 為100hz 25V 信號

2、DCDC 在線測試

1)空載測試驅動

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空載輸出12V,gs驅動為200hz

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總寬度3.6uS的錐形信號

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2)加載  24轉55V  2A dcdc

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驅動信號波形如下:

帶載 6.6k 15V驅動信號

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單脈沖寬度,3uS左右

總結

由于輕負載,溫度始終未超過50度。開關速度方面優(yōu)于硅基產(chǎn)品,以后有對應設備,進行高壓大電流測試。



關鍵詞: SiC 碳化硅 MOSFET ROHM

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