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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 可靠性

集成電路可靠性試驗(yàn)―鹽霧技術(shù)研究

  • 1 前言　　鹽霧試驗(yàn)是集成電路可靠性試驗(yàn)之一，它可以用來檢驗(yàn)產(chǎn)品的抗腐蝕環(huán)境能力的強(qiáng)弱。而鹽霧試驗(yàn)所需 ...
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LED驅(qū)動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測試方案（三）

  • 測試步驟：　　靜電放電測試時(shí)要求一次至少使用三個(gè)樣本，每個(gè)樣本規(guī)定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)都要事先進(jìn)行測試并記 ...
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LED驅(qū)動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測試方案（二）

  • 六　兼容性測試的經(jīng)濟(jì)效應(yīng)　　兼容性測試的初期成本很高，需要大量昂貴的設(shè)備來構(gòu)建測試環(huán)境，即便是外發(fā)委托 ...
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LED驅(qū)動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測試方案（一）

硬件可靠性測試方法詳解

  • 從硬件角度出發(fā)，可靠性測試分為兩類：以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測試。比如電磁兼容試驗(yàn)、氣候類環(huán)...
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分析怎樣提高LED照明的可靠性

  • 隨著藍(lán)光和白光發(fā)光二極管（LED）在1990年大舉邁向?qū)嵱没A段后，無論是利用LED所進(jìn)行的全彩顯示，或是在近年來社會(huì) ...
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不花錢的可靠性設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)

  • 不花錢的可靠性設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)：我們有時(shí)候會(huì)遇到一種情況，一塊電路板在機(jī)器上裝著的時(shí)候，機(jī)器工作不正常，拆下來后，單板 ...
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電子可靠性工作誤區(qū)解析

  • 司空見慣的經(jīng)驗(yàn)性的東西，其實(shí)我們都很多都是錯(cuò)的，而這一旦用于設(shè)計(jì)，產(chǎn)品可靠性可想而知。所以說“電路設(shè)計(jì)器件 ...
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LED照明可靠性評估的難題待解

  • 據(jù)介紹，傳統(tǒng)光源的壽命性能測量和評價(jià)已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化，由于其壽命較短并且光源具有互換性，不論是白熾燈還是節(jié)能燈，燈...
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可靠、持續(xù)地制作ID卡發(fā)行解決方案提高生產(chǎn)率、可靠性和安全性

  • 采用集中式證卡發(fā)行模式的企業(yè)常常因設(shè)備長時(shí)間維護(hù)而降低生產(chǎn)率。堅(jiān)固耐用、能持續(xù)工作高產(chǎn)能打印機(jī)的出現(xiàn)，提高證卡產(chǎn)能的同時(shí)減少維護(hù)時(shí)間，不僅解決了這種問題。而且，這種最新的解決方案提供大容量打印和編碼，
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挑選LED驅(qū)動(dòng)電源注意事項(xiàng)

  • LED驅(qū)動(dòng)電源選配方法：LED本身的負(fù)載特性大大影響了用開關(guān)電源驅(qū)動(dòng)它的可靠性。LED的負(fù)載特性，即伏安...
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數(shù)字隔離器高壓可靠性測量

  • 工藝流程和設(shè)備的詳細(xì)展示用于表征我們數(shù)字隔離器的長期可靠性，以及他們?nèi)绾卧陉P(guān)鍵的安全能力方面超越光電耦合器。對于初次使用，設(shè)計(jì)人員可以在現(xiàn)有電路中使用引腳兼容的基于CMOS的隔離器替換光電耦合器，該基于CM
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電源產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)方法概述

  • 中國現(xiàn)在的電源廠家很多，但是還沒有世界級品牌，為什么？眾多國內(nèi)電源廠家的產(chǎn)品功能很好，價(jià)格很低，但是還是競...
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自動(dòng)抄表系統(tǒng)中可靠性和糾錯(cuò)能力的研究

  • 隨著小區(qū)智能化管理的發(fā)展，對水、電、氣三表的自動(dòng)抄表顯得日益重要。近年來各種應(yīng)用技術(shù)層出不窮，每種技術(shù)都...
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一種提高軟件質(zhì)量的可靠性方法

  • 一種提高軟件質(zhì)量的可靠性方法,0引言

    軟件質(zhì)量是軟件工程中的重要一環(huán)[1],軟件質(zhì)量的好壞決定了軟件開發(fā)的返工量、開發(fā)成本以及軟件的上市時(shí)間等等。隨著軟件規(guī)模的增大,軟件的質(zhì)量越來越重要,而軟件可靠性是衡量軟件質(zhì)量的一個(gè)重要標(biāo)準(zhǔn)。

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可靠性介紹

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